涂层厚度无损检测方法、设备及存储介质技术

本申请提供一种涂层厚度无损检测方法、设备及存储介质，涉及厚度检测技术领域。该方法包括：在激光设备向待测试件的湿膜表面垂直打入激光后，获取探测设备监测获取到的多个激光反射波；根据每个激光反射波的波形特征信息、噪声影响度和其他声波混叠程度，从多个激光反射波中获取时间上相邻的第一底面回波对应的第一时间和第二底面回波对应的第二时间；确定待测试件的介质类型，并查询预配置的介质类型和涂层声速的映射关系，获取与介质类型匹配的涂层声速；根据第一时间、第二时间以及涂层声速，得到待测试件对应的涂层厚度。本申请的方法，筛选并利用底面回波确定反射波对应的准确回波时长，进而精准确认当前湿膜对应的涂层厚度。度。度。

【技术实现步骤摘要】
涂层厚度无损检测方法、设备及存储介质


[0001]本申请涉及涂层厚度检测
，尤其涉及一种涂层厚度无损检测方法、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]涂层是涂料包覆在基材表面后形成的连续膜，用于防护、绝缘以及装饰等目的，为了精确控制涂料包覆的涂层厚度，在涂料处于湿膜状态时，就需要利用无损检测方法实时监测涂层厚度，避免包覆过量或不足。
[0003]目前用于涂层厚度的无损检测方法主要包括：磁性检测、涡流检测以及超声波检测；其中，磁性检测和涡流检测都为接触式测量方法，因而不适用于检测涂料湿膜状态时的涂层厚度；超声波检测虽然可以实现非接触式测量，但对被测试件表面粗糙度以及材料质地要求较高，当涂料在湿膜状态时会形成较多干扰回波，使检测精度下降。
[0004]综上，现有无损检测方法都无法精确检测涂料在湿膜状态时的涂层厚度，不利于生产者在涂料包覆的生产源头精准控制涂层厚度。

技术实现思路

[0005]本申请提供一种涂层厚度无损检测方法、设备及存储介质，用以解决现有无损检测方法都无法精确检测涂料未固化时的涂层厚度，不利于生本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种涂层厚度无损检测方法，其特征在于，包括：在激光设备向待测试件的湿膜表面垂直打入激光后，获取探测设备监测获取到的多个激光反射波；根据每个激光反射波的波形特征信息、噪声影响度和其他声波混叠程度，从所述多个激光反射波中获取时间上相邻的第一底面回波和第二底面回波，并获取所述第一底面回波的第一时间和所述第二底面回波的第二时间；确定所述待测试件的介质类型，并查询预配置的介质类型和涂层声速的映射关系，获取与所述介质类型匹配的涂层声速；根据所述第一时间、第二时间以及获取的匹配的涂层声速，得到所述待测试件对应的涂层厚度。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述波形特征信息包括时域特性和幅值大小，则所述根据每个激光反射波的波形特征信息、噪声影响度和其他声波混叠程度，从所述多个激光反射波中获取时间上相邻的第一底面回波和第二底面回波，包括：从所述多个激光反射波中，获取与所述待测试件检测厚度相关的多个涂层回波；根据每个所述涂层回波的时域特性和幅值大小，噪声影响度和其他非涂层回波对所述涂层回波是否混叠，从所述多个涂层回波中获取时间上相邻的第一底面回波和第二底面回波。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一时间、第二时间以及获取的匹配的涂层声速，得到所述待测试件对应的涂层厚度，包括：根据所述第一时间T0、第二时间T
01
以及所述待测试件对应的涂层声速V，采用如下公式：D＝V
×
(T
01
‑
T0)/2得到所述待测试件对应的涂层厚度D。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述介质类型和涂层声速的映射关系的预配置方式，包括：在激光设备向标准试件的湿膜表面垂直打入激光后，获取探测设备监测获取到的多个激光反射波；根据每个激光反射波的波形特征信息、噪声影响度和其他声波混叠程度，从所述多个激光反射波中获取时间上相邻的第三底面回波和第四底面回波，并获取所述第三底面回波的第三时间和所述第四底面回波的第四时间；根据所述第三时间、第四时间以及所述标准试件对应的涂层厚度，得到涂层声速，以将所述标准试件对应的已知介质类型和得到的涂层声速存储至所述介质类型和涂层声速的映射关系中；其中，所述标准试件对应的涂层厚度为所述标准试件干燥后测量获取的涂层厚度。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述波...

【专利技术属性】
技术研发人员：谭亮，刘汉平，徐山，梅延滨，高世文，杨力强，邹佰文，
申请(专利权)人：中国铁建重工集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：