本实用新型专利技术公开了一种测厚仪校准试片固定装置，由于基材上设置有用于放置校准试片的曲面部，基材上滑动连接有第一滑块与第二滑块，第一滑块上设置有第一压板，第二滑块上设置有第二压板，校准试片放置在曲面部上后，使其与基材上的曲面部贴合，然后移动第一滑块与第二滑块，将第一压板与第二压板分别抵在校准试片上两端，第一滑块与第二滑块上均设置有能与基材相对固定的锁紧结构，通过锁紧结构可第一滑块与第二滑块与基材固定，进而将校准试片固定在基材的曲面部上，只要曲面部与待测工件曲面相接近便能够减小校准的误差，进而能够减小侧厚仪测量时的误差。小侧厚仪测量时的误差。小侧厚仪测量时的误差。
【技术实现步骤摘要】
一种测厚仪校准试片固定装置
[0001]本技术属于镀锌层测厚仪校准辅助装置领域，尤其涉及一种测厚仪校准试片固定装置。
技术介绍
[0002]目前，镀锌层测厚仪校准所用基材试块与标准试片单独设置。仪器校准时按要求需要测厚仪从水平方向上进行检测，但是，基材试块作为水平参考面进行校准，基材试块用于托住标准的校准试片，标准的校准试片水平放置在基材试块，探头与被测试样接触面呈垂直关系，采用此方式进行测厚仪校准，该方式在用于测厚仪检测平面工件前的校准时的误差小，但是在测厚仪检测含有曲率工件时，若采用上述方式校准，因为标准的校准试片相当于是平面状态，而待测的是曲面部，两者状态相差较大，就会出现校准以及测量结果误差较大的情况。
技术实现思路
[0003]本技术的目的在于：提供一种可以应对镀锌层测厚仪检测曲面工件前的校准，能使校准试片的状态与曲面工件的曲面相接近的校准试片固定装置，来减小校准的误差，进而减小测量时的误差。
[0004]本技术采用的技术方案如下：
[0005]一种测厚仪校准试片固定装置，包括基材，基材上设置有用于放置校准试片的曲面部，基材上滑动连接有第一滑块与第二滑块，第一滑块上设置有第一压板，第二滑块上设置有第二压板，第一压板与第二压板的上端之间的距离小于第一压板与第二压板的下端之间的距离，第一滑块与第二滑块上均设置有能与基材相对固定的锁紧结构。
[0006]进一步的技术方案在于，所述基材上设置有用于放置校准试片的平面。
[0007]进一步的技术方案在于，所述基材两侧均设置有滑槽，第一滑块两侧设置有与基材两侧滑槽相对应匹配的第一滑杆，所述第一滑杆位于对应位置的滑槽内部，第二滑块两侧设置有与基材两侧滑槽相对应匹配的第二滑杆，所述第二滑杆位于对应位置的滑槽内部。
[0008]进一步的技术方案在于，所述第一滑杆与第一滑块螺纹连接，所述第二滑杆与第二滑块螺纹连接。
[0009]进一步的技术方案在于，所述锁紧结构包括第一滑块上螺纹连接第一顶丝，第一顶丝端部顶紧基材，第二滑块上螺纹连接第二顶丝，第二顶丝端部顶紧基材。
[0010]综上所述，由于采用了上述技术方案，本技术的有益效果是：
[0011]由于基材上设置有用于放置校准试片的曲面部，基材上滑动连接有第一滑块与第二滑块，第一滑块上设置有第一压板，第二滑块上设置有第二压板，校准试片放置在曲面部上后，使其与基材上的曲面部贴合，然后移动第一滑块与第二滑块，将第一压板与第二压板分别抵在校准试片上两端，第一滑块与第二滑块上均设置有能与基材相对固定的锁紧结
构，通过锁紧结构可第一滑块与第二滑块与基材固定，进而将校准试片固定在基材的曲面部上，只要曲面部与待测工件曲面相接近便能够减小校准的误差，进而能够减小侧厚仪测量时的误差。
[0012]第一压板与第二压板的上端之间的距离小于第一压板与第二压板的下端之间的距离，通过该结构能保证校准试片稳定放置在曲面部上。
附图说明
[0013]图1是本技术的整体结构示意图；
[0014]图2是本技术所述锁紧结构示意图；
[0015]图3是本技术侧视结构示意图；
[0016]图4是本技术所述采用弧度变化波纹形曲面部的结构示意图。
[0017]图5是本技术在基材上平面位置设置滑块的结构示意图
具体实施方式
[0018]为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。
[0019]如图1
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图5所示。
[0020]一种测厚仪校准试片固定装置，包括基材1，基材1上设置有用于放置校准试片12的曲面部2，基材1上滑动连接有第一滑块3与第二滑块4，第一滑块3上设置有第一压板5，第二滑块4上设置有第二压板6，第一压板5与第二压板6的上端之间的距离小于第一压板5与第二压板6的下端之间的距离，第一滑块3与第二滑块4上均设置有能与基材1相对固定的锁紧结构。
[0021]使用时，由于校准试片可弯曲变形，校准试片12放置在曲面部2上后，使其与基材1上的曲面部2贴合，然后移动第一滑块3与第二滑块4，将第一压板5与第二压板6分别抵在校准试片上两端，通过锁紧结构可第一滑块3与第二滑块4与基材1固定，便将校准试片固定在基材1的曲面部2上，基材1上的曲面部2可以直接采用半圆形的曲面部2，校准试片固定在基材1的曲面部2后，通用所有带曲面的工件测量前的校准，相比校准试片平放的方式同样能起到减小误差的作用，基材1上的曲面部2也可采用弧度变化的波纹形曲面部2，在使用时可以挑选更接近工件曲面的位置来安装校准试片，相比基材1上直接采用半圆形的曲面部2的方式，能进一步起到减小误差的作用，第一滑块3与第二滑块4与基材1的方式可以采用滑套的方式，滑套直接滑动套接在基材1上，滑套与基材1间隙配合，采用滑套的方式第一滑块3与第二滑块4晃动程度较大。
[0022]基材1上设置有用于放置校准试片的平面13，用于测厚仪检测平面工件前的校准。平面13对应的位置可设置与第一滑块3与第二滑块4结构相同的两个滑块14
[0023]基材1两侧均设置有滑槽7，第一滑块3两侧设置有与基材1两侧滑槽7相对应匹配的第一滑杆8，第一滑杆8位于对应位置的滑槽7内部，第二滑块4两侧设置有与基材1两侧滑槽7相对应匹配的第二滑杆9，第二滑杆9位于对应位置的滑槽7内部，实现第一滑块3与第二滑块4能够在基材1上移动到任意位置，采用该方式第一滑块3与第二滑块4能在稳定移动，晃动的程度小。
[0024]所述第一滑杆8与第一滑块3螺纹连接，所述第二滑杆9与第二滑块4螺纹连接，通过拆卸第一滑杆8与第二滑杆9，可便于将第一滑块3与第二滑块4从基材1上取下，也可将该结构用作锁紧结构，转动第一滑杆8与第二滑杆9顶紧滑槽7侧壁，即可实现固定第一滑块3与第二滑块4。
[0025]所述锁紧结构包括第一滑块3上螺纹连接第一顶丝11，第一顶丝11端部顶紧基材1，第二滑块4上螺纹连接第二顶丝10，第二顶丝10端部顶紧基材1，通过第一顶丝11可以固定第一滑块3的位置，通过第二顶丝10可以固定第一滑块3的位置。
[0026]以上仅为本技术的较佳实施例而已。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种测厚仪校准试片固定装置，其特征在于，包括基材（1），基材（1）上设置有用于放置校准试片的曲面部（2），基材（1）上滑动连接有第一滑块（3）与第二滑块（4），第一滑块（3）上设置有第一压板（5），第二滑块（4）上设置有第二压板（6），第一压板（5）与第二压板（6）的上端之间的距离小于第一压板（5）与第二压板（6）的下端之间的距离，第一滑块（3）与第二滑块（4）上均设置有能与基材（1）相对固定的锁紧结构。2.根据权利要求1所述的一种测厚仪校准试片固定装置，其特征在于，所述基材（1）上设置有用于放置校准试片的平面。3.根据权利要求2所述的一种测厚仪校准试片固定装置，其特征在于，所述基材（1）两侧均设置有滑槽（7），第一滑块（3）...
【专利技术属性】
技术研发人员：孙贺斌，魏晓枭，李军，高健，谢金鹏，周治伊，吕岩婷，
申请(专利权)人：国网甘肃省电力公司电力科学研究院，
类型：新型
国别省市：
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