一种哈达码变换成像光谱仪制造技术

本发明专利技术涉及一种哈达码变换成像光谱仪，克服了现有技术中后期处理工作量大，无法实现对某一特征谱段的增强功能，编码精度较低，体积大以及加工装调要求高的缺陷。包括前置成像系统、第一准直透镜、分光器件、第一会聚透镜、数字微镜器件、第二准直透镜、合光器件、第二会聚透镜、像面探测器；前置成像系统包括前置成像镜；第一准直透镜、分光器件、第一会聚透镜和数字微镜器件构成分光调制系统；第二准直透镜、合光器件、第二会聚透镜和像面探测器构成合光成像系统，第一准直透镜和第一会聚透镜构成相同，第二准直透镜和第二会聚透镜构成相同。具有体积小，编码精度高等优点。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种哈达码变换成像光谱仪，其特征在于：包括前置成像系统、第一准直透镜（３）、分光器件（４）、第一会聚透镜（５）、数字微镜器件（６）、第二准直透镜（７）、合光器件（８）、第二会聚透镜（９）、像面探测器（１０）；　所述前置成像系统包括前置成像镜（１）；所述前置成像镜（１）用于将物体成像于一次像面位置；　所述第一准直透镜（３）、分光器件（４）、第一会聚透镜（５）和数字微镜器件（６）构成分光调制系统，其中第一准直透镜（３）和分光器件（４）依次设置于前置成像系统的出射光路；第一会聚透镜（５）和数字微镜器件（６）依次设置于分光器件（４）的出射光路；　所述第二准直透镜（７）、合光器件（８）、第二会聚透镜（９）和像面探测器（１０）构成合光成像系统，其中第二准直透镜（７）和合光器件（８）依次设置于分光调制系统的出射光路；第二会聚透镜（９）和像面探测器（１０）依次设置于合光器件（８）的出射光路；　所述第一准直透镜（３）和第一会聚透镜（５）构成相同，第二准直透镜（７）和第二会聚透镜（９）构成相同；　所述第一准直透镜（３）用于将成像于一次像面位置的光准直成平行光；所述分光器件（４）用于将第一准直透镜（３）准直的平行光进行色散；所述第一会聚透镜（５）用于将色散后的平行光进行聚焦；所述数字微镜器件（６）用于实现光路通断／编码；所述第二准直透镜（７）用于将编码后的光束准直；所述合光器件（８）用于将第二准直透镜（７）准直后的光束合成；所述第二会聚透镜（９）用于将合成后的平行光在像面探测器（１０）上进行合光成像。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：孙鑫，李立波，胡炳樑，王忠厚，白加光，白清兰，王爽，
申请(专利权)人：中国科学院西安光学精密机械研究所，
类型：发明
国别省市：87[中国|西安]