陶瓷闪烁体、光子计数型X射线探测器及陶瓷闪烁体的制造方法技术

实施方式涉及的陶瓷闪烁体具有用(Lu1‑

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】陶瓷闪烁体、光子计数型X射线探测器及陶瓷闪烁体的制造方法


[0001]本专利技术的实施方式涉及陶瓷闪烁体、光子计数型X射线探测器及陶瓷闪烁体的制造方法。

技术介绍

[0002]采用了放射线、例如X射线的成像系统广泛用于行李检查及非破坏检查等工业用途、X射线诊断装置及X射线计算机断层成像(CT：Computed Tomography)装置等医疗用途中。采用X射线的成像系统的现在的主流为能量积分型，一般由发光材料和光探测器组合而成。
[0003]可是，在能量积分型中，不能取得X射线的能量信息、被曝量大成为问题。近年来，为了解决这些问题在开发采用光子计数方式的光子计数型X射线探测器。光子计数型X射线探测器也称为光子探测器或光子计数型探测器。
[0004]光子计数方式具有对入射的X射线光子逐个进行脉冲信号处理的特征。此外，在光子计数方式中，分类为采用CdTe这样的半导体将X射线直接转换为电信号的直接型、和通过用发光材料将X射线转换为光再用光探测器转换为电信号的间接型。
[0005]在光子计数方式中，采用直接型可测定载波(carr本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种陶瓷闪烁体，其具有用(Lu1‑
x
Pr
x
)
a
(Al1‑
y
Ga
y
)
b
O
12
表示的组成，所述组成中的x、y、a和b分别满足：0.005≤x≤0.025、0.3≤y≤0.7、2.8≤a≤3.1、4.8≤b≤5.2。2.根据权利要求1所述的陶瓷闪烁体，其中，发光衰减时间常数为15[nsec]以下，相对发光量为30[％]以上。3.根据权利要求2所述的陶瓷闪烁体，其中，所述发光衰减时间常数为15[nsec]，所述相对发光量为150[％]以上。4.根据权利要求2所述的陶瓷闪烁体，其中，所述发光衰减时间常数为10[nsec]以...

【专利技术属性】
技术研发人员：碓井大地，林诚，柳田健之，河口范明，加藤匠，中内大介，木村大海，
申请(专利权)人：国立大学法人奈良先端科学技术大学院大学，
类型：发明
国别省市：