电压调整电路制造技术

一种电压调整电路，用以调整多个电压源的电压值，包括测试控制装置、多路复用器、比较器以及内建式自我测试装置。测试控制装置选择电压源之一作为待测电压源，并且输出用以选择待测电压源的选择指令，以及对应于待测电压源的目标电压。多路复用器耦接至电压源并接收使能信号，根据使能信号输出待测电压源所供应的待测电压。比较器比较待测电压与目标电压的电压值大小，并输出一比较结果。内建式自我测试装置接收选择指令，根据选择指令输出用以使能待测电压源的使能信号，并根据比较结果调整待测电压源供应的待测电压至一既定电压。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种电压测试方法，特别是涉及一种使用内建式自我测试(built-in self test, BIST)，忮术的电压测试方法。
技术介绍
集成电^各(integrated circuit, IC)装置中通常可包括多个内部电压产 生源，用以产生电路运作时所需的各个不同的电压值。然而，由于集成电路 的工艺变化使得各个芯片中的电压源可能产生差异，因此在芯片完成后，这 些电压源需要再通过调整(trimming)电路进行修正。调整电路可将这些内部 电压通过反复的测试，修正至逼近目标电压值。图1是显示传统的调整电路图。集成电路100中包括电压源VI ~ V4、接 合垫Pad 1 ~Pad 4以及输入输出接合垫I/O Pad，其中电压源VI ~ V4的电 压值可分别通过接合垫Pad l~Pad 4输出。测试机台15为位于集成电路外 部的测试机台，其可连接通过接合垫接收各电压源的电压，将各电压电平与 测试机台15内部设定的目标电压值作比较，并且将比较结果通过输入输出接 合垫I/O Pad反馈至电压源VI ~V4,用以进一步纟鼓调电压源VI ~V4的电压 值，藉此反复的过程将电压源VI ~V4的电压值调整至逼近目标电压值。然而，如图1所示，在传统的调整方法中，由于无法共享接合垫，使得 各电压源皆必须使用 一个对应的接合垫用以输出其电压值，因此接合垫的数 目必须等于电压源的数目，形成芯片面积以及脚位的浪费。此外，在调整的 过程中，外部的测试机台15必须逐一针对各电压源进行调整，因此在测试机 台15切换接合垫时也会造成时间的浪费。再者，考虑到一些需要极精准的电 压电平的特定电压源，例如带隙参考电压产生器(bandgap reference voltage generator),由于其输出信号微弱且敏感，无法耦接至接合垫执行传统的电 压调整。因此，需要一种改良的设计可节省芯片面积、脚位、以及测试时间的耗 损，并且提供准确的电压调整结果。
技术实现思路
本专利技术的一实施例提出一种电压调整电路，用以调整多个电压源所供应 的电压值，包括测试控制装置、多路复用器、比较器以及内建式自我测试装 置。测试控制装置选择电压源之一作为待测电压源，并且输出用以选择待测 电压源的选择指令，以及输出对应于待测电压源的目标电压。多路复用器耦 接至电压源并接收一使能信号，用以根据使能信号输出待测电压源所供应的 待测电压。比较器接收待测电压与目标电压，比较待测电压与目标电压的电压值大小，并输出一比较结果。内建式自我测试装置接收选择指令，根据选 择指令输出用以使能待测电压源的使能信号，并根据比较结果调整待测电压源供应的待测电压至一既定电压。本专利技术的另 一 实施例提出 一种电压调整方法，包括选择一第 一 电压源作为一待测电压源，并输出上述待测电压源所供应的一待测电压；选^^对应于 上述第一电压源的一目标电压，并通过一接合垫输出上述目标电压；比较上 述待测电压与上述目标电压的电压值大小，并输出一比较结果；根据上述比一既定电压并传送一测试结果；存储对应于上述第一电压源的上述测试结果； 选择一第二电压源作为上述待测电压源，并输出上述待测电压源所供应的上 述待测电压；选择对应于上述第二电压源的一目标电压，并通过上述接合垫 输出上述目标电压；比较上述待测电压与上述目标电压的电压值大小，并输 出上述比较结果；根据上述比较结果调整上述待测电压源供应的上述待测电 压至对应于上述第二电压源的一既定电压并传送对应于上述第二电压源的一 测试结果；以及存储对应于上述第二电压源的上述测试结果。附图说明图1是显示传统的调整电路图。图2是根据本专利技术的一实施例显示用以调整多个电压源所供应的电压值 的电压调整电路。图3是根据本专利技术的一实施例显示比较器电路图。图4是根据本专利技术的一实施例显示电压调整方法流程图。附图符号说明715~测试器； 20~电压调整电5^; 25-测试控制装置； 35 ~多路复用器； 45~比较器；55 -内建式自我测试装置； 65 ~电流镜； 100、 200 集成电路; E(n) 使能信号;I/O Pad、 Pad、 Pad 1、 Pad 2、 Pad 3、 Pad 4 才妻合垫; Sl、 S2、 S3、 S4、 S5、 S6、 S7、 S8、 S9、 S10 步骤；s(川t ~ 4吕万;Tl、 T2、 T3、 T4、 T5、 T6、 T7 晶体管；VI、 V2、 V3、 V4、 VA、 VB、 Vdd、 Vss 电压源；V(n)、 VTarget(n) ~电压。具体实施例方式为使本专利技术的制造、操作方法、目标和优点能更明显易懂，下文特举几 个较佳实施例，并配合附图，作详细说明如下。 实施例图2是根据本专利技术一实施例显示用以调整多个电压源所供应的电压值的 电压调整电路20。电压调整电路20包括测试控制装置25、多路复用器35、 比较器45、以及内建式自我测试装置(BIST) 55。假设共有N个需被调整的 电压源，例如，在此实施例中需被调整电压源为VI ~ V4，因此N-4，测试控 制装置25在内部存储器装置(图中未示)中纪录N值，并且在电压调整程序一 开始时将内存装置内存储的一变量n初始化(1:=1),用以代表目前自电压源 VI ~ V4中选择电压源VI作为一待测电压源，并且输出用以选"l奪电压源VI的 一选择指令至内建式自我测试装置55，以及输出对应于电压源VI的目标电 压VTa， (n)至接合垫Pad。内建式自我测试装置55接收由测试控制装置25发 出的选择指令，根据此选择指令输出用以使能目前被选择的待测电压源的使 能信号E(n)，此时，由于被选择的待测电压源为电压源VI，因此内建式自我8测试装置55会输出使能信号E(n)用以使能电压源VI。多路复用器35耦接至 电压源V1-V4，并自内建式自我测试装置55接收使能信号E(n)，根据使能 信号E(n)输出目前待测电压源所供应的电压作为待测电压V(n),此时由于被 选择的待测电压源为电压源VI,因此多路复用器35会输出电压源VI目前所 供应的电压，以作为待测电压V(n)。如图所示，待测电压V(n)与目标电压 VTa，(n)会被输入至比较器45，比较器45比较待测电压V(n)与目标电压 VT，t(n)的电压值大小，并输出一比较结果至内建式自我测试装置55。内建 式自我测试装置55根据接收到的比较结果调整电压源VI供应的电压值至一 既定电压(以下将作详细介绍)。在此实施例中，当既定电压大于或等于电压 源VI的目标电压VT，，(n)时，则结束电压源VI的调整程序。然而，在不脱 离本专利技术的精神和范围内，也可根据其它条件结束电压源VI的调整程序，本 专利技术的保护范围当视后附的申请专利范围所界定者为准。在此实施例中，内建式自我测试装置55可包括一緩存器(图中未示)，用 以存储电压源VI V4所对应的最大可调整电压以及调整结果，并且内建式自 我测试装置55根据接收到的比较结果控制待测电压源所供应的电压值的调 整程序。当比较结果代表待测电压V(n)小于目标电压V一et(n)时，内建式自 我测试装置55进一步检测待测电压V(n)是否大于目前待测电压源所对应的 最大可调整电压V,(n)。当待测电压V(n)小于最大可调整电压V本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电压调整电路，用以调整多个电压源所供应的电压值，包括：　一测试控制装置，用以选择上述电压源之一作为一待测电压源，并且输出用以选择上述待测电压源的一选择指令，以及通过一接合垫输出对应于上述待测电压源的一目标电压；　一多路复用器 ，耦接至上述电压源并接收一使能信号，用以根据上述使能信号输出上述待测电压源所供应的一待测电压；　一比较器，接收上述待测电压与上述目标电压，比较上述待测电压与上述目标电压的电压值大小，并输出一比较结果；以及　一内建式自我测试装置， 用以接收上述选择指令，根据上述选择指令输出用以使能上述待测电压源的上述使能信号，并根据上述比较结果调整上述待测电压源供应的上述待测电压至一既定电压，其中，在将上述待测电压源供应的上述待测电压调整至上述既定电压后，上述测试控制装置自上述电压源中选择另一电压源作为上述待测电压源，并且输出用以选择上述另一电压源的上述选择指令，以及通过上述接合垫输出对应于上述另一电压源的上述目标电压。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：曾德彰，杜君毅，山崎恭治，
申请(专利权)人：力晶半导体股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]