一种阻抗调节方法、装置、芯粒和存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种阻抗调节方法、装置、芯粒及存储介质，涉及芯片技术领域，包括：若确定主带信道处于源端协商状态，通过发射器和源端阻抗模块向对侧芯粒发送第一校验信号，以使对侧芯粒基于第一校验信号生成第一质量评价结果，并根据第一质量评价结果调节源端阻抗模块的阻抗值；若确定主带信道处于终端协商状态，通过接收器和终端阻抗模块接收对侧芯粒发送的第二校验信号，并根据第二校验信号生成第二质量评价结果，以根据第二质量评价结果调节终端阻抗模块的阻抗值。本发明专利技术实施例的技术方案，实现了芯粒接口中阻抗值的动态匹配，极大地提高了芯粒的兼容性，同时，减少了传输信号产生的发射，极大地提升了芯粒的信号传输质量。量。量。

【技术实现步骤摘要】
一种阻抗调节方法、装置、芯粒和存储介质


[0001]本专利技术涉及芯片
，尤其涉及一种阻抗调节方法、装置、芯粒和存储介质。

技术介绍

[0002]相比于传统芯片受到的工艺限制，芯粒(Chiplet)由于其采用先进的封装技术，打破了传统的工艺极限，实现高算力芯片的集成。为了让多个芯粒间更好的进行数据传输，采用高速的片间互联接口。
[0003]现有芯粒的接口电气参数均为固定设计，由于阻抗不匹配的原因，不同封装方式下的芯粒无法适用于不同的封装场景，例如，CEI
‑
112G
‑
XSR串行接口用于片间互联，使用场景为在封装基板上进行片间互联，不适用于在硅中介层上进行互联；AIB(高级接口总线)并行接口适用于硅中介层的互联，不适合封装基板或长距离互联。
[0004]由此，现有芯粒的兼容性较差，导致每个芯粒的适用场景受到极大限制；同时，即使是相同封装方式下的芯粒，由于制造时可能出现偏差，也可能出现阻抗不匹配的现象，由此增大了信号产生的反射，严重影响了信号传输质量。

技术实现思路

[0005]本专利技术提供了一种阻抗调节方法、装置、芯粒及存储介质，以解决主带信道的阻抗值不匹配的问题。
[0006]根据本专利技术的一方面，提供了一种阻抗调节方法，应用于芯粒，包括：
[0007]响应于获取到通电启动信号，获取待调节的主带信道的工作状态；
[0008]若确定所述主带信道处于源端协商状态，通过发射器和源端阻抗模块向对侧芯粒发送第一校验信号，以使所述对侧芯粒基于所述第一校验信号生成第一质量评价结果，并根据所述第一质量评价结果调节所述源端阻抗模块的阻抗值；
[0009]若确定所述主带信道处于终端协商状态，通过接收器和终端阻抗模块接收所述对侧芯粒发送的第二校验信号，并根据所述第二校验信号生成第二质量评价结果，以根据所述第二质量评价结果调节所述终端阻抗模块的阻抗值。
[0010]根据本专利技术的一方面，提供了一种阻抗调节装置，应用于芯粒，包括：
[0011]信道状态获取模块，用于响应于获取到通电启动信号，获取待调节的主带信道的工作状态；
[0012]校验信号发出模块，用于若确定所述主带信道处于源端协商状态，通过发射器和源端阻抗模块向对侧芯粒发送第一校验信号，以使所述对侧芯粒基于所述第一校验信号生成第一质量评价结果，并根据所述第一质量评价结果调节所述源端阻抗模块的阻抗值；
[0013]评价结果生成模块，用于若确定所述主带信道处于终端协商状态，通过接收器和终端阻抗模块接收所述对侧芯粒发送的第二校验信号，并根据所述第二校验信号生成第二质量评价结果，以根据所述第二质量评价结果调节所述终端阻抗模块的阻抗值。
[0014]根据本专利技术的另一方面，提供了一种芯粒，所述芯粒包括发射器、接收器和阻抗调
节系统；所述阻抗调节系统包括源端阻抗模块、终端阻抗模块和控制模块；所述控制模块用于执行本专利技术任一实施例所述的阻抗调节方法。
[0015]根据本专利技术的另一方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现本专利技术任一实施例所述的阻抗调节方法。
[0016]本专利技术实施例的技术方案，通过发射器和源端阻抗模块向对侧芯粒发送第一校验信号，以使对侧芯粒基于第一校验信号生成第一质量评价结果，并根据第一质量评价结果调节源端阻抗模块的阻抗值；通过接收器和终端阻抗模块接收对侧芯粒发送的第二校验信号，并根据第二校验信号生成第二质量评价结果，以根据第二质量评价结果调节终端阻抗模块的阻抗值，由此实现了芯粒接口中阻抗值的动态匹配，极大地提高了芯粒的兼容性，同时，阻抗值的动态匹配，也减少了传输信号产生的发射，极大地提升了芯粒的信号传输质量。
[0017]应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本专利技术的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本专利技术的范围。本专利技术的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
附图说明
[0018]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0019]图1是根据本专利技术实施例提供的阻抗调节方法的应用场景示意图；
[0020]图2是根据本专利技术实施例一提供的一种阻抗调节方法的流程图；
[0021]图3是根据本专利技术实施例二提供的一种阻抗调节方法的流程图；
[0022]图4是根据本专利技术实施例三提供的一种阻抗调节方法的流程图；
[0023]图5是根据本专利技术实施例四提供的一种阻抗调节装置的结构示意图；
[0024]图6是实现本专利技术实施例的阻抗调节方法的芯粒的结构示意图。
具体实施方式
[0025]为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本专利技术保护的范围。
[0026]需要说明的是，本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本专利技术的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品
或设备固有的其它步骤或单元。
[0027]本专利技术实施例提供的一种阻抗调节方法，可以应用于图1所示的芯粒中，通过图1中的控制模块实现，用于调节与发射器连接的源端阻抗模块的阻抗值，以及调节与接收器连接的终端阻抗模块的阻抗值；其中，芯粒的接口可以为并行接口或者串行接口，在本专利技术实施例中，对芯粒的接口类型不作具体限定；芯粒包括多个接口，不同的接口可以与不同的芯粒连接，也可以与相同的芯粒连接；而每个接口可以对应多个主带通信通道(即主带信道)，一条主带信道在一个接口中对应一个发射电路(即发射器)和一个接收电路(即接收器)，即两个芯粒之间的一条主带信道，实际上由两条传输线路组成，即由当前芯粒的发射器与对侧芯粒的接收器组成的传输线路，以及由当前芯粒的接收器与对侧芯粒的发射器组成的传输线路；例如，一个接口中可以对应64个主带信道，相应的该接口中即由64个发射器和64个接收器组成；特别的，一个接口中的各个主带信道可以连接相同的芯粒，也可以连接不同的芯粒；在本专利技术实施例中，对芯粒的接口数量和主带信道数量均不作具体限定；特别的，本专利技术实施例中的主带信道可本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种阻抗调节方法，其特征在于，应用于芯粒，包括：响应于获取到通电启动信号，获取待调节的主带信道的工作状态；若确定所述主带信道处于源端协商状态，通过发射器和源端阻抗模块向对侧芯粒发送第一校验信号，以使所述对侧芯粒基于所述第一校验信号生成第一质量评价结果，并根据所述第一质量评价结果调节所述源端阻抗模块的阻抗值；若确定所述主带信道处于终端协商状态，通过接收器和终端阻抗模块接收所述对侧芯粒发送的第二校验信号，并根据所述第二校验信号生成第二质量评价结果，以根据所述第二质量评价结果调节所述终端阻抗模块的阻抗值。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在通过发射器和源端阻抗模块向对侧芯粒发送第一校验信号之前，还包括：通过边带信道向所述对侧芯粒发送的阻抗协商信号；在通过接收器和终端阻抗模块接收所述对侧芯粒发送的第二校验信号之前，还包括：通过边带信道获取所述对侧芯粒发送的阻抗协商信号。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第二校验信号生成第二质量评价结果，以根据所述第二质量评价结果调节所述终端阻抗模块的阻抗值，具体包括：若确定第二质量评价结果不符合第一预期结果，向所述对侧芯粒发送阻抗调节指令，以使所述对侧芯粒调节对侧源端阻抗模块的阻抗值，并使所述对侧芯粒在每次调节完成后再次发出第二校验信号；若确定第二质量评价结果符合第一预期结果，且不符合第二预期结果，向所述对侧芯粒发送阻抗保持指令，以使所述对侧芯粒保持对侧源端阻抗模块的阻抗值不变，以及基于调节步长调节所述终端阻抗模块的阻抗值，并在每次调节完成后向所述对侧芯粒发送校验重发指令，以使所述对侧芯粒再次发出第二校验信号；若确定第二质量评价结果符合第二预期结果，将所述终端阻抗模块的当前阻抗值作为工作阻抗值，并向所述对侧芯粒发送调节完成指令，以使所述对侧芯粒将对侧源端阻抗模块的当前阻抗值作为工作阻抗值。4.根据权利要求3所述的阻抗调节系统，其特征在于，在向所述对侧芯粒发送阻抗调节指令之后，还包括：若确定对侧芯粒已遍历对侧源端阻抗模块的全部阻抗值，且第二质量评价结果不符合第一预期结果，则基于调节步长调节所述终端阻抗模块的阻抗值，并在调节完成后向对侧芯粒再次发送阻抗调节指令；在向所述对侧芯粒发送阻抗保持指令之后，还包括：若确定已遍历所述终端阻抗模块的全部阻抗值，且第二质量评价结果不符合第二预期结果，则向所述对侧芯粒发送阻抗调节指令，以使所述对侧芯粒调节对侧源端阻抗模块的阻抗值，并使所述对侧芯粒在每次调节完成后再次发出第二校验信号。5.根据权利要求1所述的阻抗调节系统，其特征在于，所述根据所述第一质量评价结果调节所述源...

【专利技术属性】
技术研发人员：邹兴奇，邓良策，张亚林，
申请(专利权)人：上海燧原科技有限公司，
类型：发明
国别省市：