【技术实现步骤摘要】
一种励磁控制采集板信号采集异常的自愈方法和装置
[0001]本专利技术涉及继电器保护
,特别是涉及一种励磁控制采集板信号采集异常的自愈方法和装置。
技术介绍
[0002]AD采集主要应用于工业自动化领域,其主要执行的是模数转换功能,即将传感器接收到的模拟量信号通过AD转换为数字信号输出。为了提高采集的分辨率和精度,通常采用AD芯片构建AD采集电路。
[0003]在励磁系统中,AD采集是控制逻辑的最前端,其结果直接影响后续控制逻辑的实现。如果AD采集过程中发生异常,会导致后续控制逻辑同时出现异常,严重时会导致整个变电站发生事故,且在采集开始后,不允许对励磁系统进行重启操作。因此如何在不对整个励磁系统进行重启的情况下对AD采集出现异常时进行自愈是亟待解决的技术问题。
技术实现思路
[0004]本专利技术的目的在于,提供一种励磁控制采集板信号采集异常的自愈方法,该方法在不对励磁系统重启的情况下对励磁控制采集板信号采集异常进行自愈。
[0005]为了实现上述目的,本专利技术提供如下技术方案:r/>[0006]一本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种励磁系统采集板信号采集异常的自愈方法,其特征在于,包括如下步骤:在励磁控制采集板上构建AD采集电路,所述AD采集电路由多片AD芯片并联组成,其中,一片AD芯片作为主芯片进行数据读取,其余AD芯片作为从芯片进行数据备份;对多片AD芯片进行同步采样;当一片AD芯片采样过程中出现异常时切换使用其余正常转换AD芯片的数据;对AD芯片采样过程中出现的异常进行自愈。2.根据权利要求1所述的自愈方法,其特征在于,对多片AD芯片进行同步采样,包括如下步骤:步骤1、定义交流信号跟频采样频率寄存器和控制采样使能信号寄存器;步骤2、设计AD芯片采样频率计数器,当励磁控制采集板上电后,AD芯片采样频率计数器开始计数;步骤3、当AD芯片采样频率计数器的计数值等于交流信号跟频采样频率值时,将控制采样使能信号寄存器置为逻辑高电平,并将AD芯片采样频率计数器的计数值清零并重新开始计数;步骤4、当AD芯片检测到控制采样使能信号寄存器为逻辑高电平时,多片AD芯片开始同步采样。3.根据权利要求1所述的自愈方法,其特征在于,通过严格优先级轮询方式实现当一片AD芯片采样过程中出现异常时切换使用其余正常转换AD芯片的数据,包括如下步骤:步骤1、为每片AD芯片定义一个用户名,通过对用户名的读取来识别每片AD芯片,并对每个用户设置固定的优先级;步骤2、为每片AD芯片定义采样完成使能信号寄存器和采样异常使能信号寄存器;当AD芯片采样完成后,将该AD芯片的采样完成使能信号寄存器置为逻辑高电平;如果AD芯片采样发生异常,将该AD芯片的采样异常使能信号寄存器置为逻辑高电平;步骤3、按照用户的优先级先后顺序对AD芯片的采样完成使能信号寄存器和采样异常使能信号寄存器进行检测,使用采样完成使能信号寄存器为逻辑高电平的AD芯片中优先级最高的AD芯片的数据;并在所有AD芯片的采样异常使能信号寄存器为逻辑高电平时,将所有AD芯片同时采样异常上报并对所有AD芯片全部执行自复位。4.根据权利要求3所述的自愈方法,其特征在于,所述AD采集电路由三片AD芯片并联组成,其中,一片AD芯片作为主芯片进行数据读取,其余两片AD芯片作为从芯片进行数据备份;通过严格优先级轮询方式实现当一片AD芯片采样过程中出现异常时切换使用其余正常转换AD芯片的数据,包括如下步骤:步骤1、为每片AD芯片定义一个用户名,通过对用户名的读取来识别每片AD芯片,并对每个用户设置固定的优先级;步骤2、为每片AD芯片定义采样完成使能信号寄存器和采样异常使能信号寄存器;当AD芯片采样完成后,将该AD芯片的采样完成使能信号寄存器置为逻辑高电平;如果AD芯片采样发生异常,将该AD芯片的采样异常使能信号寄存器置为逻辑高电平;步骤3、检测最高优先级AD芯片的采样完成使能信号寄存器是否为逻辑高电平,若是则进入步骤9,若否则进入步骤4;
步骤4、检测最高优先级第一片AD芯片的采样异常使能信号寄存器是否为逻辑高电平,若是则进入步骤5,若否则返回步骤3;步骤5、检测第二片AD芯片的采样完成使能信号寄存器是否为逻辑高电平,若是则进入步骤9,若否则进入步骤6;步骤6、检测第二片AD芯片的采样异常使能信号...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈晓勇,任振耀,葛起峰,魏彦勋,沈晓晖,山江川,张乐安,吴玉鹏,包彦省,李嘉敏,邱立伟,李强,王鑫,刘怡君,
申请(专利权)人:核电秦山联营有限公司,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。