一种惠斯通电桥中单电阻测试装置及系统制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种惠斯通电桥中单电阻测试装置及系统，设置两个测试台，第一测试台及第二测试台均包括：磁场装置及印制电路板；磁场装置生成测试磁场；惠斯通电桥与印制电路板的测试电路连接；印制电路板引出多个测试点，测试点与上位机连接；上位机基于每个测试点的电压，反向求解惠斯通电桥中单电阻阻值，并基于测试磁场以及单电阻阻值，拟合单电阻的TC曲线。利用此测试装置及测试方法可以获取芯片的单个桥臂电阻或单个磁电阻元件与磁场之间的关系，即可获取芯片的单个桥臂电阻或单个磁电阻元件的灵敏度，满足对芯片灵敏度性能的测试要求，同时可以以此作为判断优良的基准，减少不良品流出。不良品流出。不良品流出。

【技术实现步骤摘要】
一种惠斯通电桥中单电阻测试装置及系统


[0001]本专利技术涉及惠斯通电桥
，具体涉及一种惠斯通电桥中单电阻测试装置及系统。

技术介绍

[0002]惠斯通电桥磁电阻传感器的电桥电路一般分为半桥结构和全桥结构；无论是半桥电路结构还是全桥电路结构，其都包含了灵敏度方向不同的磁电阻元件。例如：通常设计中，对于半桥电路，其包含两个桥臂，两个桥臂上磁电阻元件的灵敏度方向相反；对于全桥电路，其包含四个桥臂，对应桥臂上的磁电阻元件的灵敏度方向相同，相邻桥臂上的磁电阻元件的灵敏度方向相反。
[0003]TC曲线指的是磁电阻传感器产品输出随磁场变化而变化的一条线性曲线，通过这条曲线可以得到产品的基本特性，比如其灵敏度、0磁场输出、精度等，通过这些参数可以判断产品的优良。对于惠斯通电桥磁电阻传感器芯片，判断其性能好坏的标准除了要看传感器芯片整体性能，还要看芯片内部单个桥臂电阻或单个磁电阻元件的性能。
[0004]传统芯片测试工装提供绝对磁场(大小与方向保持不变)，因此在对惠斯通电桥磁电阻传感器芯片进行测试时，是无法获得芯片内部单个桥臂电阻或单个磁电阻元件与磁场之间的关系(单个桥臂电阻或单个磁电阻元件的灵敏度)，从而影响判断梯度磁电阻传感芯片性能优良的判断，造成不良品外流，严重影响效益。
[0005]传统测试方式主要针对于处于绝对磁场类型的芯片，并不能测试梯度芯片，传统测试方式具有测试效率低，操作难，工作量大的缺陷。同时，芯片日生产的数量大，传统的检测方式成本高，效率低，甚至容易造成生产脱节，严重影响效益。<br/>
技术实现思路

[0006]因此，本专利技术要解决的技术问题在于克服现有技术中的惠斯通电桥中单电阻不易测试的缺陷，从而提供一种惠斯通电桥中单电阻测试装置及系统。
[0007]为达到上述目的，本专利技术提供如下技术方案：
[0008]第一方面，本专利技术实施例提供一种惠斯通电桥中单电阻测试装置，包括第一测试台、第二测试台，其中，第一测试台及第二测试台均包括：磁场装置及印制电路板；磁场装置生成测试磁场；惠斯通电桥与印制电路板的测试电路连接；印制电路板引出多个测试点，测试点与上位机连接；上位机基于每个测试点的电压，反向求解惠斯通电桥中单电阻阻值，并基于测试磁场以及单电阻阻值，拟合单电阻的TC曲线。
[0009]在一实施例中，第一测试台的印制电路板包括：电源端、接地端、桥臂测试点；电源端与惠斯通电桥的每个半桥臂的第一端、外接激励源连接；接地端与惠斯通电桥的每个半桥臂的第二端连接；桥臂测试点与惠斯通电桥的每个半桥臂的中点、上位机连接，桥臂测试点引出每个半桥臂中点电压。
[0010]在一实施例中，第二测试台的印制电路板包括：第一电源端、第二电源端、总电压
测试点、桥臂测试点、测试电阻；第一电源端与惠斯通电桥的每个半桥臂的第一端、每个半桥臂的第二端、外接激励源的第一端连接；惠斯通电桥的每个半桥臂的中点均通过测试电阻与第二电源端连接，第二电源端与外接激励源的第二端连接；总电压测试点与惠斯通电桥的每个半桥臂的第一端、每个半桥臂的第二端连接，总电压测试点引出惠斯通电桥总电压；桥臂测试点与惠斯通电桥的每个半桥臂的中点连接，桥臂测试点引出惠斯通电桥的每个半桥臂的中点电压。
[0011]在一实施例中，第一测试台及第二测试台均还包括：第一固定板、无磁金属探针、基准芯片及载板；惠斯通电桥集成于待测芯片中，待测芯片固定至第一固定板的凹槽里，待测芯片底部的焊盘经由无磁金属探针与印制电路板相连接；基准芯片贴在载板上，载板与印制电路板相连接；基准芯片用于检测磁场强度，并将磁场强度发送至上位机。
[0012]在一实施例中，磁场装置包括：磁芯结构、电流线圈；电流线圈绕置于磁芯结构上，并通入测试电流。
[0013]在一实施例中，磁芯结构包括：磁芯及骨架；磁芯固定至骨架上。
[0014]在一实施例中，磁场装置还包括：第二固定板及第一无磁螺丝；第一固定板、第二固定板、印制电路板上设置多个第一定位孔；第一无磁螺丝用于通过第一定位孔将第一固定板、印制电路板、第二固定板依次固定。
[0015]在一实施例中，磁场装置还包括：第二无磁螺丝；第二固定板、印制电路板上设置多个第二定位孔；第二无磁螺丝用于通过第二定位孔将印制电路板、第二固定板依次固定。
[0016]在一实施例中，骨架上设置多个第二定位孔；第二无磁螺丝用于通过第二定位孔将印制电路板、第二固定板、骨架依次固定。
[0017]在一实施例中，惠斯通电桥中单电阻测试装置还包括：底座；骨架固定至底座上。
[0018]第二方面，本专利技术实施例提供一种惠斯通电桥中单电阻测试系统，基于第一方面的测试装置，系统包括：上位机及转塔式测试分选一体机；底座与转塔式测试分选一体机连接；测试分选一体机依次将待测芯片夹取至第一测试台及第二测试台进行测试；上位机基于每个测试点的电压，反向求解惠斯通电桥中单电阻阻值，并基于测试磁场以及单电阻阻值，拟合单电阻的TC曲线；上位机基于拟合的单电阻的TC曲线以及预设TC曲线，判定待测芯片的性能等级；转塔式测试分选一体机基于待测芯片的性能等级，将待测芯片进行分档及出料。
[0019]本专利技术提供的惠斯通电桥中单电阻测试装置，设置两个测试台，第一测试台及第二测试台均包括：磁场装置及印制电路板；磁场装置生成测试磁场；惠斯通电桥与印制电路板的测试电路连接；印制电路板引出多个测试点，测试点与上位机连接；上位机基于每个测试点的电压，反向求解惠斯通电桥中单电阻阻值，并基于测试磁场以及单电阻阻值，拟合单电阻的TC曲线。利用此测试装置及测试方法可以获取芯片的单个桥臂电阻或单个磁电阻元件与磁场之间的关系，即可获取芯片的单个桥臂电阻或单个磁电阻元件的灵敏度，满足对芯片灵敏度性能的测试要求，同时可以以此作为判断优良的基准，减少不良品流出。
附图说明
[0020]为了更清楚地说明本专利技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的
附图是本专利技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0021]图1为本专利技术实施例提供的第一测试台印制电路板电路原理图；
[0022]图2为本专利技术实施例提供的第二测试台印制电路板电路原理图；
[0023]图3为本专利技术实施例提供的第一测试台及第二测试台的一个具体示例的结构爆炸图；
[0024]图4为本专利技术实施例提供的磁芯结构的一个具体示例的结构图；
[0025]图5为本专利技术实施例提供的磁芯结构的一个具体示例的结构爆炸图；
[0026]图6为本专利技术实施例提供的磁芯绕线结构示意图；
[0027]图7为本专利技术实施例提供的第二固定板的一个具体示例的结构图；
[0028]图8为本专利技术实施例提供的底座的一个具体示例的结构图；
[0029]图9为本专利技术实施例提供的测试装置的一个具体示例的结构图。<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种惠斯通电桥中单电阻测试装置，其特征在于，包括第一测试台、第二测试台，其中，所述第一测试台及所述第二测试台均包括：磁场装置及印制电路板；所述磁场装置生成测试磁场；所述惠斯通电桥与所述印制电路板的测试电路连接；所述印制电路板引出多个测试点，所述测试点与上位机连接；所述上位机基于每个测试点的电压，反向求解惠斯通电桥中单电阻阻值，并基于测试磁场以及单电阻阻值，拟合单电阻的TC曲线。2.根据权利要求1所述的惠斯通电桥中单电阻测试装置，其特征在于，所述第一测试台的印制电路板包括：电源端、接地端、桥臂测试点；所述电源端与惠斯通电桥的每个半桥臂的第一端、外接激励源连接；所述接地端与惠斯通电桥的每个半桥臂的第二端连接；所述桥臂测试点与惠斯通电桥的每个半桥臂的中点、上位机连接，所述桥臂测试点引出每个半桥臂中点电压。3.根据权利要求1所述的惠斯通电桥中单电阻测试装置，其特征在于，所述第二测试台的印制电路板包括：第一电源端、第二电源端、总电压测试点、桥臂测试点、测试电阻；所述第一电源端与惠斯通电桥的每个半桥臂的第一端、每个半桥臂的第二端外接激励源的第一端连接；所述惠斯通电桥的每个半桥臂的中点均通过测试电阻与所述第二电源端连接，所述第二电源端与外接激励源的第二端连接；所述总电压测试点与惠斯通电桥的每个半桥臂的第一端、每个半桥臂的第二端连接，所述总电压测试点引出惠斯通电桥总电压；所述桥臂测试点与所述惠斯通电桥的每个半桥臂的中点连接，所述桥臂测试点引出所述惠斯通电桥的每个半桥臂的中点电压。4.根据权利要求1所述的惠斯通电桥中单电阻测试装置，其特征在于，所述第一测试台及所述第二测试台均还包括：第一固定板、无磁金属探针、基准芯片及载板；所述惠斯通电桥集成于待测芯片中，所述待测芯片固定至所述第一固定板的凹槽里，所述待测芯片底部的焊盘经由所述无磁金属探针与所述印制电路板相连接；所述基准芯片贴在所述载板上，所述载板与所述印制...

【专利技术属性】
技术研发人员：白建民，高慧欣，于升辉，朱跃强，姚锡刚，白俊，朱海华，
申请(专利权)人：宁波希磁电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：