工件测量方法、系统、电子设备及存储介质技术方案

本发明专利技术公开了一种工件测量方法、系统、电子设备及存储介质。该方法包括：通过控制模块，在接收到针对于放置于可转动装置上的待测量工件的工件测量请求时，向数据采集模块发送数据采集指令；通过数据采集模块，在接收到数据采集指令时，向光栅尺发送测量指令；通过光栅尺，对放置于可转动装置上的待测量工件进行测量，得到测量数据，并转发至数据采集模块；通过数据采集模块，根据测量数据，处理得到待测量工件的尺寸；尺寸包括角度和长度。本发明专利技术实施例的技术方案提高了工件测量的效率和准确度。例的技术方案提高了工件测量的效率和准确度。例的技术方案提高了工件测量的效率和准确度。

【技术实现步骤摘要】
工件测量方法、系统、电子设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及光栅尺
，尤其涉及一种工件测量方法、系统、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]在工件生产完成之后，需要对工件进行测量，以使出厂的工件符合出厂标准。
[0003]目前，光栅尺静止不动，人工调节待测量工件的位置，以使光栅尺测量待测量工件的尺寸。
[0004]但是，通过人工调整大测量工件的位置，存在测量效率低和测量准确度差的问题。

技术实现思路

[0005]本专利技术提供了一种工件测量方法、系统、电子设备及存储介质，提高了工件测量的效率和准确度。
[0006]根据本专利技术的一方面，提供了一种工件测量方法，其特征在于，该方法包括：
[0007]通过控制模块，在接收到针对于放置于可转动装置上的待测量工件的工件测量请求时，向数据采集模块发送数据采集指令；
[0008]通过数据采集模块，在接收到数据采集指令时，向光栅尺发送测量指令；
[0009]通过光栅尺，对放置于可转动装置上的待测量工件进行测量，得到测量数据，并本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种工件测量方法，其特征在于，所述方法包括：通过控制模块，在接收到针对于放置于可转动装置上的待测量工件的工件测量请求时，向数据采集模块发送数据采集指令；通过所述数据采集模块，在接收到所述数据采集指令时，向光栅尺发送测量指令；通过所述光栅尺，对所述放置于可转动装置上的待测量工件进行测量，得到测量数据，并转发至所述数据采集模块；通过所述数据采集模块，根据所述测量数据，处理得到所述待测量工件的尺寸；所述尺寸包括角度和长度。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测量数据包括第一测量信号和第二测量信号；其中，所述第一测量信号与所述第二测量信号的波形相位相反；所述通过所述数据采集模块，根据所述测量数据，处理得到所述待测量工件的尺寸，包括：通过所述数据采集模块，在所述第一测量信号和所述第二测量信号中，检测波形交点；通过所述数据采集模块，根据所述波形交点对所述第一测量信号和所述第二测量信号进行划分，得到单元信号组；所述单元信号组内第一单元信号和第二单元信号的波形相位相反且采集时间段相同；其中，所述第一单元信号属于所述第一测量信号，所述第二单元信号属于所述第二测量信号；通过所述数据采集模块，统计所述单元信号组的组数；通过所述数据采集模块，根据所述组数和单个所述单元信号组对应的预设单元尺寸，计算得到所述待测量工件的尺寸。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述光栅尺包括角度光栅尺和长度光栅尺；所述通过所述光栅尺，对所述放置于可转动装置上的待测量工件进行测量，得到测量数据，包括：通过所述角度光栅尺，对放置于旋转状态下的可转动装置上的待测量工件进行测量，得到角度数据；通过所述长度光栅尺，对放置于处于设定方向的移动状态且不转动的所述可转动装置上的待测量工件进行测量，得到长度数据；通过所述数据采集模块，将所述角度数...

【专利技术属性】
技术研发人员：欧阳其平，李金鹏，
申请(专利权)人：深圳市灰度科技有限公司，
类型：发明
国别省市：