【技术实现步骤摘要】
一种瓷绝缘子用瓷件物相组成的测试和计算方法
[0001]本专利技术涉及高压输变电
,尤其涉及一种瓷绝缘子用瓷件物相组成的测试和计算方法。
技术介绍
[0002]绝缘子是供处在不同电位的电气设备或导体电气绝缘和机械固定的器件。瓷绝缘子作为高压输变电网和铁路轨道交通接触网常用的外绝缘器件,它具有强度高、机械性能、电气性能优良、可靠性高、使用寿命长等特点。瓷绝缘子是以电瓷材料为绝缘体的绝缘子。瓷绝缘子的瓷件是一种由粘土、长石、石英和高铝(包括煅烧铝矾土、煅烧工业氧化铝)等四类原料经过加工成一定形状,在较高温度下烧成而得到的绝缘体。瓷件的物相组成和显微结构是决定其性能的两个最本质的因素,因此研究瓷绝缘子瓷件内部物相组成具有十分重要的意义。
[0003]对于材料中物相的定量分析,目前较为常用的是X射线衍射分析(XRD)。但是对于电瓷材料,由于其内部存在大量的玻璃相,还有可能有一定量的衍生物,用XRD方法直接分析计算,得到电瓷中的刚玉相、石英相、莫来石相以及玻璃相的含量经常出现较大偏差。
[0004]因此,提出一种 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种瓷绝缘子用瓷件物相组成的测试和计算方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、选取需要测试的电瓷瓷件,研磨成瓷粉;S2、将制备好的瓷粉进行干燥;S3、对瓷粉进行化学成分测试;S4、进行XRD分析;S5、进行物相组成计算。2.根据权利要求1所述的一种瓷绝缘子用瓷件物相组成的测试和计算方法,其特征在于,S2中,在100℃~200℃干燥箱中将瓷粉烘2h,然后置于干燥器中冷却至室温备用。3.根据权利要求1所述的一种瓷绝缘子用瓷件物相组成的测试和计算方法,其特征在于,S3中,利用X射线荧光光谱仪或者滴定法测试瓷粉化学成分。4.根据权利要求1所述的一种瓷绝缘子用瓷件物相组成的测试和计算方法,其特征在于,S4中,利用X射线衍射仪获取到XRD图谱,对XRD图谱进行直线背底扣除,再利用背底扣除后的图谱分析刚玉相、莫来石相、石英相各自特征峰的峰高或峰面积。5.根据权利要求1所述的一种瓷绝缘子用瓷件物相组成的测试和计算方法,其特征在于,S5中,由XRD得:c:q:m=k1:k2:k3……………………………
(1);依据化学分析结果反推晶相含量:c+0.72m+A
...
【专利技术属性】
技术研发人员:袁志勇,阎法强,许承铭,吴英豪,吴佳莉,郑猛,廖仓冬,黄李璐,
申请(专利权)人:芦溪高压电瓷电气研究院有限公司,
类型:发明
国别省市:
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