一种电压校正方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术揭示了一种电压校正方法及装置，方法包括对负载反馈电路中用于采集负载端电压的AD芯片的反馈值进行校正，在对AD校正函数计算的采样过程中通过跳变时间避让算法，避免将电源输出端电解电容充电所造成的跳变电压作为采样值参与AD校正函数计算，以提高AD校正函数的准确度，进而提高了AD芯片采集负载端电压后反馈值的精度，方法还包括对负载反馈电路中用于配置电源输出端电压的DA芯片的输出值进行校正，进而提高了DA芯片输出电压的精度。进而提高了DA芯片输出电压的精度。进而提高了DA芯片输出电压的精度。

【技术实现步骤摘要】
一种电压校正方法及装置


[0001]本专利技术涉及显示屏检测设备
，具体涉及一种提升点屏设备输出端空载电压以及负载电压供应精确度的电压校正方法及装置。

技术介绍

[0002]显示屏生产商在显示屏制造完成后，需要对屏幕进行点屏检测，以判断屏幕是否合格。在点屏检测时，点屏设备需要向显示屏提供驱动电压，以使得屏幕点亮。但一方面，点屏设备内部存在电子元器件有误差、系统噪声、器件老化等问题；另一方面，当点屏设备连接屏幕开始检测后，因为显示屏及线路上的传输线均有内阻，使得提供给显示屏的电压会降低，进而会造成实际输出电压值与理论输出电压值存在较大的误差；由于上述两方面原因，导致点屏设备的输出电压精度不足，进而会导致屏幕不能被点亮。为了使点屏设备在检测不同型号的屏幕时，都能提供理想的电压值，点屏设备生产商会在出货之前，对点屏设备的输出电压进行校正，以满足用户需要。
[0003]现行的电压校正方案，一般有两种方法：
[0004]1、数字校正，即通过点屏设备中的AD芯片(模数转换芯片)采集负载(显示屏)电压数据(点屏设备电源输出端电压)，将采集到的显示屏电压数据用算法校正(例如201610124865.8号专利揭示的多段拟合校正)，后续根据校正过后的AD芯片采集值和电压补偿函数，计算出需要补偿的电压值，而后将需要补偿的电压值配置到DA芯片中(此处的DA芯片是指数模转换芯片，用于配合电源设备(点屏设备电源)中的BUCK降压电路提供一个电压值)，从而配合电源输出端输出需要的电压，以补偿电源设备与负载之间的传输损失；r/>[0005]2、使用硬件电路来进行校正。
[0006]使用硬件电路进行校正需要增加额外的电路，成本较高，所以优选数字校正方法。
[0007]点屏设备出厂前，生产商会将测试过后的电压校正函数写入控制芯片(单片机或FPGA等)中，点屏设备实际工作时，通过电压校正函数实时校正AD芯片采集的负载电压数据，使得后续电压补偿函数计算出的需要补偿的电压值准确。然而实际上在得到电压校正函数的过程中，会出现以下问题：
[0008]校正AD阶段，校正上位机通过控制模块向模拟负载提供拟合电位(用于设置点屏设备电源输出端电压)，通过AD芯片的实际采样反馈值和理想采样反馈值计算AD芯片的电压校正函数。但由于点屏设备的电源输出端为了降低噪声、稳定输出等，会在电路中设置有电解电容(滤波、供能的功能)，当拟合电位降低时，比如由20V降到16V，由于线路上的电压降低，则此时会对电压输出端的电解电容进行充电(根据电容与两端电压的关系特性可知，当电容两端电压降低时，电容的电容量将增大)，这样会导致线路上的电压有个突然的跳变，使得线路上的电压突然降低很多，然而现有技术中在采集数据计算AD芯片的电压校正函数时，因为没有考虑到这个跳变的时间区间，因此采集的数据值有些是在这个跳变的时间内的电压值，导致采集的数据会与实际的负载电压相差很大，进而即使数据进行了多段拟合，然而得出的电压校正函数并不准确。此种现象当电压值从小到大变化时，也会出现，
但当电压值上升时电解电容放电，所形成的跳变时间区间很窄，可不作考虑。
[0009]同时，以往的电压校正方案只对AD芯片进行了校正，虽提高了采集电压的准确性，然而，当上位机收集到准确的采集电压后，需要通过电压补偿函数计算出在当前接入的负载下，因损耗需要补偿给负载的电压ΔV，然后配置到电源输出端的DA芯片一个电压值，以补偿输出电压使得负载正常工作，但DA芯片因受电子元器件有误差、系统噪声、器件老化等因素影响，DA芯片的输出值也会不准，进而导致输出的补偿电压值不准。

技术实现思路

[0010]本专利技术的目的在于提供一种电压校正方法及装置，该方法有助于提升点屏设备输出端空载电压以及负载电压供应精确度。
[0011]为实现上述专利技术目的，本专利技术采用如下技术方案：
[0012]一种电压校正方法，应用于点屏设备的负载反馈电路，包括：对负载反馈电路中用于采集负载端电压的AD芯片的反馈值进行校正；
[0013]所述对负载反馈电路中用于采集负载端电压的AD芯片的反馈值进行校正具体包括：
[0014]校正上位机向模拟负载端提供多组第一拟合电位，所述第一拟合电位为递减排序的电压信号；
[0015]控制模块控制AD芯片在各第一拟合电位下对模拟负载端电压采样，获取第一采样值，并在第一拟合电位切换时通过跳变时间避让算法控制AD芯片采样，以避免AD芯片将电源输出端电解电容充电所造成的跳变电压作为第一采样值；
[0016]校正上位机控制台表在各第一拟合电位下对模拟负载端电压采样，获取第二采样值，并在第一拟合电位切换时通过跳变时间避让算法控制台表采样，以避免台表将电源输出端电解电容充电所造成的跳变电压作为第二采样值；
[0017]校正上位机根据接收到的第一采样值和第二采样值进行多段拟合计算得到AD校正函数，并将AD校正函数发送至控制模块存储，控制模块通过AD校正函数校正AD芯片的反馈值；
[0018]所述跳变时间避让算法包括，第一拟合电位切换时，控制AD芯片、台表分别进行多次采样，并将多次采样获取的第一采样值、第二采样值分别按大小顺序排序，选取排在中间的采样值输出至校正上位机。
[0019]作为本专利技术进一步改进的技术方案，校正上位机根据接收到的第一采样值和第二采样值进行多段拟合计算得到的AD校正函数为：
[0020]V1＝cV
AD
+d
[0021]其中，V1为AD芯片的理想反馈值，V
AD
为AD芯片的实际反馈值，c、d为校正系数；
[0022]通过将至少两组第一采样值作为V
AD
，以及相同第一拟合电位下的第二采样值作为V1带入AD校正函数中算得校正系数c、d。
[0023]作为本专利技术进一步改进的技术方案，所述“对负载反馈电路中用于采集负载端电压的AD芯片的反馈值进行校正”前还包括对负载反馈电路中用于配置电源输出端电压的DA芯片的输出值进行校正；
[0024]所述对负载反馈电路中用于配置电源输出端电压的DA芯片的输出值进行校正具
体包括：
[0025]校正上位机向控制模块提供多组第二拟合电位，所述第二拟合电位为递增或递减排序的电压信号，控制模块控制DA芯片按照第二拟合电位配置电源输出端电压；
[0026]校正上位机控制台表在各第二拟合电位下对电源输出端的电压采样，获取第三采样值；
[0027]校正上位机根据第二拟合电位和接收到的第三采样值进行多段拟合计算得到DA校正函数，并将DA校正函数发送至控制模块存储，控制模块通过DA校正函数校正DA芯片的输出值。
[0028]作为本专利技术更进一步改进的技术方案，校正上位机根据第二拟合电位和接收到的第三采样值进行多段拟合计算得到的DA校正函数为：
[0029]V
DA
＝aV2+b
[0030]其中，V
DA
为电源输出端的理想输出电压，V2为本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
带入DA校正函数中算得校正系数a、b。5.一种电压校正装置，其特征在于，所述电压校正装置用于对点屏设备负载反馈电路中的AD芯片的反馈值进行校正，所述AD芯片用于采集点屏设备的负载端电压；所述电压校正装置包括校正上位机、控制模块、台表；所述电压校正装置用于对点屏设备负载反馈电路中的AD芯片的反馈值进行校正，具体包括：所述校正上位机用于向模拟负载端提供多组第一拟合电位，所述第一拟合电位为递减排序的电压信号；所述控制模块用于控制AD芯片在各第一拟合电位下对模拟负载端电压采样，获取第一采样值，并在第一拟合电位切换时通过跳变时间避让算法控制AD芯片采样，以避免AD芯片将电源输出端电解电容充电所造成的跳变电压作为第一采样值；所述校正上位机还用于控制台表在各第一拟合电位下对模拟负载端电压采样，获取第二采样值，并在第一拟合电位切换时通过跳变时间避让算法控制台表采样，以避免台表将电源输出端电解电容充电所造成的跳变电压作为第二采样值；所述校正上位机还用于根据接收到的第一采样值和第二采样值进行多段拟合计算得到AD校正函数，并将AD校正函数发送至控制模块存储，控制模块通过AD...

【专利技术属性】
技术研发人员：卜佳平，高升，吴任，张超，
申请(专利权)人：海的电子科技苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：