本实用新型专利技术涉及一种X射线衍射分析用封装装置，包括保护罩、样品台和夹持件，所述样品台由下至上依次包括底座和上盖，所述底座的顶部设有竖直的圆柱凸台，所述圆柱凸台的顶壁设有开口向上的样品槽，所述上盖套设于所述圆柱凸台滑动连接，所述上盖与所述保护罩固定连接，所述保护罩的底部包裹所述样品槽；所述夹持件用于夹持所述底座和上盖。本实用新型专利技术中保护罩固定安装在上盖的顶部，工作只需将上盖套设于圆柱凸台上，不仅可以实现保护罩包裹样品台的目的，还可以确保保护罩粘连在上盖的密封效果，从而可以解决了传统封装装置需要粘接窗口材料，导致样品台出现晃动和颠簸，造成样品洒出、偏离检测位置等不利于检测的问题出现。偏离检测位置等不利于检测的问题出现。偏离检测位置等不利于检测的问题出现。
【技术实现步骤摘要】
一种X射线衍射分析用封装装置
[0001]本技术涉及X射线衍射装置
，尤其涉及一种X射线衍射分析用封装装置。
技术介绍
[0002]目前，X射线衍射分析法作为材料结构和成分分析的一种现代科学方法，已逐步在各学科研究和生产中广泛应用。由于大量的样品对空气中的水分、氧气等比较敏感，容易发生反应变化，对测试结果产生严重影响。因此，X射线衍射分析仪需要对样品进行保护性封装后，再进行XRD测试。其基本原理是在保护气氛下，在样品上面安装一层X射线透过薄膜材料作为探测窗口，同时起到隔离空气的作用。
[0003]常见的封装方法有平面隔开法和曲面隔离法。曲面隔离法可以将窗口材料于样品之间的距离设置得很远，从而减少样品在静电吸附的作用下与窗口材料相接触的情况，因此曲面隔离法被广泛使用。需要注意的是，常见的曲面隔离法需要工作人员贴设窗口材料，使得窗口材料平整且呈现一个弧形结构，因此工作人员需要重复撕、粘窗口材料以实现弧形结构的操作，多次撕、粘连窗口材料后，难以保证窗口材料与样品台的密封效果，而且粘结窗口材料的过程中，容易对样品台造成晃动、颠簸，导致粉末样品洒出、块状样品偏离检测位置等不利于检测的情况。
技术实现思路
[0004]本技术的目的在于提出一种X射线衍射分析用封装装置，由于保护罩固定安装在上盖的顶部，工作只需将上盖套设于圆柱凸台上，不仅可以实现保护罩包裹样品台的目的，还可以确保保护罩粘连在上盖的密封效果，从而可以解决了传统封装装置需要粘接窗口材料，导致样品台出现晃动和颠簸，造成样品洒出、偏离检测位置等不利于检测的问题出现。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下的技术方案：
[0006]一种X射线衍射分析用封装装置，包括保护罩、样品台和夹持件，所述样品台由下至上依次包括底座和上盖，所述底座的顶部设有竖直的圆柱凸台，所述圆柱凸台的顶壁设有开口向上的样品槽，所述上盖套设于所述圆柱凸台滑动连接，所述上盖与所述保护罩固定连接，所述保护罩的底部包裹所述样品槽；所述夹持件用于夹持所述底座和上盖。
[0007]可选的，所述样品台还包括密封件，所述密封件套设于所述圆柱凸台，所述密封件位于所述底座与所述上盖之间，所述上盖的中心设有通孔，所述通孔竖直贯穿所述上盖，所述通孔与所述圆柱凸台相卡接。
[0008]可选的，所述密封件与所述上盖的厚度之和小于所述圆柱凸台的高度。
[0009]可选的，所述保护罩包括支架和窗口材料，两个所述支架的底部分别固定安装于所述上盖的顶部，两个所述支架相对设置，所述支架为半圆形，所述窗口材料的左右两侧分别与两个支架固定连接，所述窗口材料的前后两端与所述上盖固定连接。
[0010]可选的，所述底座的底部向内凹陷形成第一夹持部，所述第一夹持部设有多个；所述上盖的顶部向内凹陷形成第二夹持部，所述第二夹持部设有多个，所述第一夹持部和所述第二夹持部相对设置，所述夹持件用于夹持所述第一夹持部和所述第二夹持部。
[0011]可选的，所述底座的底部设有四个第一凹槽，所述第一凹槽竖直贯穿所述底座的底部，相邻两个所述第一凹槽的开口方向相互垂直，四个所述第一凹槽形成所述第一夹持部；
[0012]所述上盖的顶部设有四个第二凹槽，所述第二凹槽竖直贯穿所述上盖的顶部，相连两个所述第二凹槽的开口方向相互垂直，四个所述第二凹槽形成所述第二夹持部。
[0013]可选的，所述支架的直径大于所述样品槽的直径。
[0014]可选的，所述底座、所述密封件和所述上盖均为直径相同的圆柱体。
[0015]与现有技术相比，本技术的实施例具有以下有益效果：
[0016]1.由于保护罩固定安装在上盖的顶部，工作只需将上盖套设于圆柱凸台上，不仅可以实现保护罩包裹样品台的目的，还可以确保保护罩粘连在上盖的密封效果，从而可以解决了传统封装装置需要粘接窗口材料，导致样品台出现晃动和颠簸，造成样品洒出、偏离检测位置等不利于检测的问题出现；
[0017]2.两个支架相对设置，且两个支架均为半圆形结构，使得窗口材料弯曲成半圆柱形曲面，使样品的检测平面正好与窗口材料的轴心相重合。在这种情况下，工作人员可以进行任意角度的X射线衍射测试，可以实现低角度的X射线衍射分析测试。
附图说明
[0018]图1是本技术一实施例一种X射线衍射分析用封装装置的示意图；
[0019]图2是本技术一实施例一种X射线衍射分析用封装装置的爆炸图；
[0020]图3是本技术一实施例底座的仰视图；
[0021]其中，1、保护罩；11、支架；12、窗口材料；2、样品台；21、底座；211、第一夹持部；212、第一凹槽；213、圆柱凸台；214、样品槽；22、密封件；23、上盖；230、通孔；231、第二夹持部；232、第二凹槽。
具体实施方式
[0022]下面详细描述本技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本技术，而不能理解为对本技术的限制。
[0023]在本技术的描述中，需要理解的是，术语“纵向”、“横向”“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征，用于区别描述特征，无顺序之分，无轻重之分。
[0024]在本技术的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。
[0025]在本技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
[0026]下面结合图1至图3，描述本技术实施例的一种X射线衍射分析用封装装置。
[0027]一种X射线衍射分析用封装装置，包括保护罩1、样品台2和夹持件，所述样品台2由下至上依次包括底座21和上盖23，所述底座21的顶部设有竖直的圆柱凸台213，所述圆柱凸台213的顶壁设有开口向上的样品槽214，所述上盖23套设于所述圆柱凸台213滑动连接，所述上盖23与所述保护罩1固定连接，所述保护罩1的底部包裹所述样品槽214；所述夹持件用于夹持所述底座21和上盖23。
[0028]本方案的一种X射线衍射分析用封装装置，工作人员将样品放置在样品槽214内，并将放置有样品的底座21安装在X射线衍射本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种X射线衍射分析用封装装置，其特征在于，包括保护罩、样品台和夹持件，所述样品台由下至上依次包括底座和上盖，所述底座的顶部设有竖直的圆柱凸台，所述圆柱凸台的顶壁设有开口向上的样品槽，所述上盖套设于所述圆柱凸台滑动连接，所述上盖与所述保护罩固定连接，所述保护罩的底部包裹所述样品槽；所述夹持件用于夹持所述底座和上盖。2.根据权利要求1所述的一种X射线衍射分析用封装装置，其特征在于，所述样品台还包括密封件，所述密封件套设于所述圆柱凸台，所述密封件位于所述底座与所述上盖之间，所述上盖的中心设有通孔，所述通孔竖直贯穿所述上盖，所述通孔与所述圆柱凸台相卡接。3.根据权利要求2所述的一种X射线衍射分析用封装装置，其特征在于，所述密封件与所述上盖的厚度之和小于所述圆柱凸台的高度。4.根据权利要求1所述的一种X射线衍射分析用封装装置，其特征在于，所述保护罩包括支架和窗口材料，两个所述支架的底部分别固定安装于所述上盖的顶部，两个所述支架相对设置，所述支架为半圆形，所述窗口材料的左右两侧分别与两个支架固定连接，所...
【专利技术属性】
技术研发人员：姚峥，徐绍亮，吕思敏，邓康梅，何兹丽，
申请(专利权)人：佛山华南新材料研究院材料测试中心，
类型：新型
国别省市：
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