本实用新型专利技术涉及中子衍射技术领域，具体公开了一种用于中子衍射的灵活自动换样装置。该用于中子衍射的灵活自动换样装置包括安装架和传送机构；安装架上可拆卸连接有样品容器，样品容器用于容纳待测样品，且样品容器设置有多个，多个样品容器间隔设于安装架上；同时，传送机构的驱动端连接安装架，用于驱动安装架，以使样品容器内的待测样品移动至预设测试位置。本实用新型专利技术中通过传送机构能够调整多个样品容器的位置，使得需要进行实验的待测样品能够自动移动至预测试位置，以完成实验，以此降低了打开散射室更换待测样品而消耗的时间，同时避免了实验中中子束流的时间浪费，进而提高实验效率。实验效率。实验效率。
【技术实现步骤摘要】
一种用于中子衍射的灵活自动换样装置
[0001]本技术涉及中子衍射
，尤其涉及一种用于中子衍射的灵活自动换样装置。
技术介绍
[0002]中子衍射技术是一种通过测量入射中子与材料作用后的中子衍射谱得到微观晶体结构和磁结构等信息的先进材料表征技术，且由于中子具有强大的穿透能力、对轻元素敏感、可识别同位素和拥有自旋和磁矩等优点，并对样品具有非破坏性，因此，中子衍射技术已广泛应用于能源材料、磁性材料和工程材料的研究中。
[0003]在中子衍射实验过程中，通常样品台一次只能安装一个实验样品，且一次中子衍射实验时间一般为几分钟到几小时，因此在测量大量样品时，需要实验人员重复关闭中子束流开关和打开屏蔽门，进入散射室对样品进行更换及校准，而重复手动更换样品的过程花费了大量的时间，浪费了大量中子束流时间，进而影响了实验的效率。
技术实现思路
[0004]本技术的目的在于提供一种用于中子衍射的灵活自动换样装置，以解决现有技术的中子衍射实验过程中，重复手动更换样品的过程花费了大量的时间，浪费了大量中子束流时间，进而影响了实验的效率的问题。
[0005]为达上述目的，本技术采用以下技术方案：
[0006]本技术提供一种用于中子衍射的灵活自动换样装置，设于散射室内，用于对待测样品进行换样，用于中子衍射的灵活自动换样装置包括：
[0007]安装架，安装架上可拆卸连接有样品容器，样品容器用于容纳待测样品；样品容器设置有多个，多个样品容器间隔设于安装架上；
[0008]传送机构，传送机构的驱动端连接安装架，用于驱动安装架，以使样品容器内的待测样品移动至预设测试位置。
[0009]作为上述用于中子衍射的灵活自动换样装置的一种可选方案，安装架包括回型底座、支撑柱和安装横杆，回型底座设于传送机构的驱动端；支撑柱设于回型底座上，安装横杆设于支撑柱上，样品容器可拆卸连接于安装横杆。
[0010]作为上述用于中子衍射的灵活自动换样装置的一种可选方案，安装横杆上设置有螺纹孔，样品容器上设置有外螺纹，样品容器能够通过外螺纹和螺纹孔连接于安装横杆上。
[0011]作为上述用于中子衍射的灵活自动换样装置的一种可选方案，样品容器设于安装横杆的下方。
[0012]作为上述用于中子衍射的灵活自动换样装置的一种可选方案，多个样品容器沿安装横杆的延伸方向均匀间隔设置。
[0013]作为上述用于中子衍射的灵活自动换样装置的一种可选方案，安装横杆可拆卸连接于支撑柱。
[0014]作为上述用于中子衍射的灵活自动换样装置的一种可选方案，散射室内设置有多个中子探测器，多个中子探测器的中心能够相交于预设测试位置；安装架设于多个中子探测器之间。
[0015]作为上述用于中子衍射的灵活自动换样装置的一种可选方案，安装架的外表面上涂覆有中子屏蔽层。
[0016]作为上述用于中子衍射的灵活自动换样装置的一种可选方案，相邻两个中子探测器之间具有探测死区，多个样品容器的其中一个能够位于预设测试位置，其它样品容器位于探测死区。
[0017]作为上述用于中子衍射的灵活自动换样装置的一种可选方案，传送机构包括水平驱动组件和竖直驱动组件，水平驱动组件的驱动端连接竖直驱动组件，用于驱动水平驱动组件沿水平方向移动，竖直驱动组件的驱动端连接安装架，用于驱动安装架沿竖直方向移动。
[0018]本技术的有益效果为：
[0019]该用于中子衍射的灵活自动换样装置包括安装架和传送机构。安装架上可拆卸连接有样品容器，且样品容器用于容纳待测样品，从而工作人员能够根据实验对待测样品的需求，直接对容纳有对应待测样品的样品容器进行拆卸更换，以此提高实验效率。其中，样品容器设置有多个，多个样品容器间隔设于安装架上，且传送机构的驱动端连接安装架，用于驱动安装架，以使样品容器内的待测样品移动至预设测试位置，从而通过传送机构能够调整多个样品容器的位置，使得需要进行实验的待测样品能够自动移动至预测试位置，以完成实验，以此降低了打开散射室更换待测样品而消耗的时间，同时避免了实验中中子束流的时间浪费，进而提高实验效率。
附图说明
[0020]图1为本技术实施例所提供的安装架的结构示意图；
[0021]图2为本技术实施例所提供的用于中子衍射的灵活自动换样装置的结构示意图。
[0022]图中：
[0023]1、安装架；11、回型底座；12、支撑柱；13、安装横杆；131、螺纹孔；2、样品容器；3、传送机构；4、中子探测器；41、探测死区；5、预设测试位置。
具体实施方式
[0024]下面将结合附图对本技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0025]在本技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第
一”、“第二”、仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。其中，术语“第一位置”和“第二位置”为两个不同的位置，而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
[0026]在本技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
[0027]下面详细描述本技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本技术，而不能理解为对本技术的限制。
[0028]本实施例提供一种用于中子衍射的灵活自动换样装置，设于散射室内，用于对待测样品进行换样，以提高实验效率。
[0029]如图1和图2所示，该用于中子衍射的灵活自动换样装置包括安装架1和传送机构3。安装架1上可拆卸连接有样品容器2，且样品容器2用于容纳待测样品，从而工作人员能够根据实验对待测样品的需求，直接对容纳有对应待测样品的样品容器2进行拆卸更换，以此提高实验效率。本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于中子衍射的灵活自动换样装置，设于散射室内，用于对待测样品进行换样，其特征在于，所述用于中子衍射的灵活自动换样装置包括：安装架(1)，所述安装架(1)上可拆卸连接有样品容器(2)，所述样品容器(2)用于容纳所述待测样品；所述样品容器(2)设置有多个，多个所述样品容器(2)间隔设于所述安装架(1)上；传送机构(3)，所述传送机构(3)的驱动端连接所述安装架(1)，用于驱动所述安装架(1)，以使所述样品容器(2)内的所述待测样品移动至预设测试位置(5)。2.根据权利要求1所述的用于中子衍射的灵活自动换样装置，其特征在于，所述安装架(1)包括回型底座(11)、支撑柱(12)和安装横杆(13)，所述回型底座(11)设于所述传送机构(3)的驱动端；所述支撑柱(12)设于所述回型底座(11)上，所述安装横杆(13)设于所述支撑柱(12)上，所述样品容器(2)可拆卸连接于所述安装横杆(13)。3.根据权利要求2所述的用于中子衍射的灵活自动换样装置，其特征在于，所述安装横杆(13)上设置有螺纹孔(131)，所述样品容器(2)上设置有外螺纹，所述样品容器(2)能够通过所述外螺纹和所述螺纹孔(131)连接于所述安装横杆(13)上。4.根据权利要求2所述的用于中子衍射的灵活自动换样装置，其特征在于，所述样品容器(2)设于所述安装横杆(1...
【专利技术属性】
技术研发人员：谭志坚，陈洁，王声翔，余朝举，郑海彪，曾智蓉，王立毅，杨陆峰，
申请(专利权)人：散裂中子源科学中心，
类型：新型
国别省市：
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