一种光环境质量综合测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及光照测量设备技术领域，提出一种光环境质量综合测试装置。光环境质量综合测试装置包括支架部件、光学探头部件和彩色照度计机体。支架部件包括支撑架组件、伸缩杆组件和夹持组件，伸缩杆组件的第一端与夹持组件转动连接，伸缩杆组件的第二端与支撑架组件连接。光学探头部件夹持于夹持组件，彩色照度计机体与光学探头部件无线通讯连接。通过彩色照度计机体与光学探头部件无线通讯连接，支架部件夹持光学探头部件，伸缩杆组件拉伸至所需长度，可以根据需要灵活地调节光学探头部件的检测点位置，使得光环境质量综合测试装置能够精准地测试指定工作面位置的光环境质量的光度、色度、光谱和频闪等多项指标数据，减小了测试数据误差。试数据误差。试数据误差。

【技术实现步骤摘要】
一种光环境质量综合测试装置


[0001]本技术涉及光照测量设备
，尤其涉及一种光环境质量综合测试装置。

技术介绍

[0002]为创造良好的视觉光环境，现有技术需要通过借助光学仪器设备对场所照明光环境质量指标进行测试详细数据。现有的光环境测试方法一般将照度计等光学设备有机融合于检测车，通过定位系统，借助计算机实时接收并存储照度计所测照明场所各个测试点位置数据，进行逐点水平照度等光度指标与色品指标、显色指数、相关色温等色度指标，实现了安全、高效地测试光环境质量。但现有的测试装置仅能测试空间宽阔的室外环境，测试环境单一，无法根据不同照明场所的测试点位置需求，灵活地调整照度计或光谱辐射计的光学探测器固定测试点的高度位置，测试误差较大，难以保证测量精度，同时测试指标较少，难以一次性评价光环境质量优劣。

技术实现思路

[0003]本技术提供一种光环境质量综合测试装置，有效降低了光环境质量综合测试装置的操作难度，使得测试装置能够精准地测试水平地面或特定高度水平工作面等指定工作面位置的数据，减小测试数据误差，同时结构简单，一次性测试指标全面，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光环境质量综合测试装置，其特征在于，包括：支架部件，包括支撑架组件、伸缩杆组件和夹持组件；所述伸缩杆组件的第一端与所述夹持组件转动连接，所述伸缩杆组件的第二端与所述支撑架组件连接；光学探头部件，所述光学探头部件夹持于所述夹持组件；彩色照度计机体，所述彩色照度计机体与所述光学探头部件无线通讯连接。2.根据权利要求1所述的光环境质量综合测试装置，其特征在于，所述彩色照度计机体包括壳体、显示屏、主控线路板和无线通讯模块，所述主控线路板和所述无线通讯模块均设置于所述壳体内，所述显示屏嵌设于所述壳体的表面，所述主控线路板与所述显示屏以及所述无线通讯模块电连接，所述主控线路板通过所述无线通讯模块与所述光学探头部件连接。3.根据权利要求2所述的光环境质量综合测试装置，其特征在于，所述壳体设置有插接部，所述光学探头部件设置有与所述插接部插接配合的定位凸起。4.根据权利要求2或3所述的光环境质量综合测试装置，其特征在于，所述壳体设置有数据接口，所述数据接口与所述主控线路板电连接；所述光学探头部件设置有与所述数据接口插接配合的数据接头。5.根据权利要求2或3所述的光环境质量综...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘秀娟，吴杜雄，
申请(专利权)人：中国电子技术标准化研究院，
类型：新型
国别省市：