一种红外光学晶体材料的研究用测量仪制造技术

本实用新型专利技术公开了一种红外光学晶体材料的研究用测量仪，涉及测量仪技术领域。本实用新型专利技术包括：底板，所述底板的顶部固定安装有安装架，所述安装架上固定安装有检测仪器；放置平台，所述放置平台固定安装于所述底板的顶部；其用于放置红外光学晶体材料；安装板，数量为两个。本实用新型专利技术通过夹持件对红外光学晶体材料进行夹持固定后，利用移动件带动其往放置平台方向移动，在移动的过程中红外光学晶体材料表面可能存在的灰尘杂质会被擦拭海绵擦拭，避免其上的灰尘杂质影响检测，从而避免了红外光学材料表面可能粘附一些灰尘杂质时，影响到对材料的折射率测量、表面瑕疵等的检测，造成测量数据不准确的问题，提高了检测效果，方便人们使用。人们使用。人们使用。

【技术实现步骤摘要】
一种红外光学晶体材料的研究用测量仪


[0001]本技术涉及测量仪
，具体涉及一种红外光学晶体材料的研究用测量仪。

技术介绍

[0002]红外光学材料是指应用在与制导技术和红外成像中，制造滤光片透镜、棱镜、窗口片、整流罩等的一类材料，这些材料具有物化性能满足需要，即主要指标是:良好的红外透光性和宽的投影波段，一般来说，红外光学材料的透射率和透射与材料的内部结构，特别是化学键和能级结构密切相关，而在对红外光学材料研究时，会用到专用的测量仪对红外光学材料制作镜头的棱镜的角度、材料的折射率测量、表面瑕疵等进行检测。
[0003]而现有的测量仪对红外光学材料，比如透镜或窗口片，进行检测时，不能自动对其外表面进行擦拭，检测时是直接将透镜放置在放置平台上，利用测量仪器之间检测，而当红外光学材料表面粘附一些灰尘杂质时，会直接影响到对材料的折射率测量、表面瑕疵等的检测，造成测量数据不准确，降低了测量效果。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于：为解决上述
技术介绍
中提出的问题，本技术提供了一种红外光学晶体材料的研究用测量仪。
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种红外光学晶体材料的研究用测量仪，其特征在于，包括：底板(1)，所述底板(1)的顶部固定安装有安装架(2)，所述安装架(2)上固定安装有检测仪器(3)；放置平台(4)，所述放置平台(4)固定安装于所述底板(1)的顶部；其用于放置红外光学晶体材料；安装板(5)，数量为两个，两个所述安装板(5)呈对称分布固定安装于所述底板(1)的顶部，两个所述安装板(5)上可拆卸安装有两个呈上下对称分布的插板(6)，两个所述插板(6)相邻的一侧均固定安装有用于擦拭红外光学晶体材料的擦拭海绵(7)；夹持件(8)，所述夹持件(8)安装于所述安装板(5)上，其用于夹持红外光学晶体材料；移动件(9)，所述移动件(9)安装于所述安装板(5)上，其用于带动所述夹持件(8)横向移动。2.根据权利要求1所述的一种红外光学晶体材料的研究用测量仪，其特征在于，所述夹持件(8)包括两个分别滑动安装于所述安装板(5)相邻一侧的电动推杆(81)，所述电动推杆(81)的伸缩...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨松朝，姚长磊，
申请(专利权)人：南阳市达升光学仪器有限公司，
类型：新型
国别省市：