一种弹片针测试结构制造技术

本实用新型专利技术旨在提供了一种便捷定位、准确度高以及测试效率高的弹片针测试结构。本实用新型专利技术包括由上至下依次浮动连接的第一浮动块、第二浮动块、弹片针模块以及第三浮动块，弹片针模块包括上针块、中针块、下针块以及三个弹片针组，上针块与中针块连接，信号弹片设置在上针块与中针块之间，下针块与中针块连接，三个弹片针组均设置在上针块上三个弹片针组均设置在上针块上，三个弹片针组均与信号弹片相导通接触，第二浮动块与上针块浮动连接，下针块与第三浮动块浮动连接，第三浮动块底部设置有若干定位凸块，定位凸块与待测试连接器内腔相配合。本实用新型专利技术涉及多连接器弹片针测试的技术领域。技术领域。技术领域。

【技术实现步骤摘要】
一种弹片针测试结构


[0001]本申请涉及多连接器弹片针测试的
，具体地涉及一种弹片针测试结构。

技术介绍

[0002]BTB连接器，又可称为板对板连接器。是目前所有连接器产品类型中传输能力最强的连接器产品，主要应用于电力系统、通信网络、金融制造、电梯、工业自动化、医疗设备、办公设备、家电、军工制造等行业。板对板连接器是属于手机内部的连接器，用于连接PCB板，实现机械和电气上的连接。目前所有连接器产品类型中，板对板连接器的多Pin数和高速传输功能是最符合智能手机连接器需求的, BTB连接器可能会因为接触不良而引起断路故障，连接插座或端子受到外界污染时以及不同的环境，都会对BTB连接器的连接使用和电气性能产生影响，因此手机BTB连接器在应用前都需要经过测试。
[0003]由于电子产品趋向精密，紧凑，轻薄的趋势。许多会出现低高度、多连接器紧凑的案例，而在面对多连接器的测试产品进行测试时，下针过程中由于连接器之间间距太小，无法单独对每个连接器浮动，以及定位，易出现刮蹭压伤，定位不准，测试不稳定的情况。
[0004]如公开号为CN115015597A的一项中国专利，其公开了一种弹片针测试模块，该方案在使用时，通过弹片针2的下端针尖201与与测试产品测试点接触，弹片针2的上端针尖 201与传感器接触，当模块整体下压时导通测试，测试数据传输完成结束，但是该方案仅适用于对单个连接器上微小间距的信号点进行测试，并不适用于对微小间距的多连接器进行同时测试。
[0005]如公开号为CN215575293U的一项中国专利，其公开了一种弹片微针测试模组，该方案在使用时，需要将B2B连接器放置在所述测试槽8中，当所述浮动块3 被下压时，B2B连接器与所述弹片微针6连通从而实现电信号的导通，但是该方案也无法完成对微小间距的多连接器进行同时测试，仅能对单个连接器进行逐个测试，因此也不适用于对微小间距的多连接器测进行测试。

技术实现思路

[0006]本申请所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供了一种便捷定位、准确度高、测试效率高以及能测试微小间距多连接器的弹片针测试结构，来解决现有连接器测试的弹片针测试结构定位不准、测试效率低以及多连接器间距小不易检测等问题。
[0007]本申请所采用的技术方案是：本申请包括由上至下依次浮动连接的第一浮动块、第二浮动块、弹片针模块以及第三浮动块，所述弹片针模块包括上针块、中针块、下针块以及三个弹片针组，所述上针块与所述中针块连接，所述信号弹片设置在所述上针块与所述中针块之间，所述下针块与所述中针块连接，三个所述弹片针组均设置在所述上针块上，三个所述弹片针组均与所述信号弹片相导通接触，所述第二浮动块与所述上针块浮动连接，所述下针块与所述第三浮动块浮动连接，所述第三浮动块底部设置有若干定位凸块，所述定位凸块与待测试连接器内腔相配合。
[0008]一个优选方案是，三个所述弹片针组的相互设置间隔不超过1.5mm。
[0009]一个优选方案是，所述弹片针组包括设置在所述上针块上的弹片针胶芯，所述弹片针胶芯上排列设置有若干弹片针。
[0010]一个优选方案是，所述第一浮动块与所述第二浮动块之间通过若干第一等高螺丝限位连接，所述第一浮动块与所述第二浮动块之间还设置有若干第一弹簧。
[0011]一个优选方案是，所述第二浮动块与所述上针块之间通过若干第二等高螺丝限位连接，所述第二浮动块与所述上针块之间还设置有若干第二弹簧。
[0012]一个优选方案是，所述第二浮动块底部设置有若干定位销，所述定位销与待测试连接器限位配合。
[0013]一个优选方案是，所述下针块与所述第三浮动块之间通过若干第三等高螺丝限位连接，所述下针块与所述第三浮动块之间还设置有若干第三弹簧。
[0014]一个优选方案是，所述下针块底部设置有分别与三个所述弹片针组相配合的三个复定位块，所述第三浮动块上设置有分别与三个所述复定位块相配合的定位空槽。
[0015]本技术的有益效果是：
[0016]1、所述第三浮动块底部设置有若干所述定位凸块，所述定位凸块与所述弹片针组形成了二次定位以及限位，这样可以提高在对多连接器进行测试时进一步提高测试精度，使本申请能够实现对微小间距的多个连接器同时进行测试，还避免了所述弹片针出现误插或错插的情况，从而实现了了对多连接器的同步精确测试；
[0017]2、多层浮动结构能够有效果确保测试时定位的导向以及安全性；
[0018]3、本技术对其中一款连接器进行精定位从而定位其他两款连接器，在有限的空间内完成定位以及下针；
[0019]4、本技术可以避免在测试过程中对每个连接器的过定位而导致对产品损伤；
[0020]5、本技术实现了在三个待测试连接器之间的间距最小为1.5mm的情况下完成三个连接器的下针测试。
附图说明
[0021]图1是本技术的立体结构第一视角示意图；
[0022]图2是本技术的立体结构第二视角示意图；
[0023]图3是本技术的立体结构第三视角示意图；
[0024]图4是本技术的立体结构爆炸图。
具体实施方式
[0025]为了更清楚的理解本申请的特征和优点，下面通过实例并结合附图1至附图2对本申请进行进一步的说明。在本实施例中，本申请包括由上至下依次浮动连接的第一浮动块1、第二浮动块2、弹片针模块3以及第三浮动块4，其特征在于，所述弹片针模块3包括上针块31、信号弹片32、中针块33、下针块34以及三个弹片针组35，所述上针块31与所述中针块33连接，所述信号弹片32设置在所述上针块31与所述中针块33之间，所述下针块34与所述中针块33连接，三个所述弹片针组35均设置在所述上针块31上，三个所述弹片针组35均设置在所述上针块31上，三个所述弹片针组35均与所述信号弹片32相导通接触，所述第二浮动
块2与所述上针块31浮动连接，所述下针块34与所述第三浮动块4浮动连接，所述第三浮动块4底部设置有若干定位凸块41，所述定位凸块41与待测试连接器内腔相配合。
[0026]在本实施例中，三个所述弹片针组35的相互设置间隔不超过1.5mm，微间距多连接器之间的间距非常小，因此所述弹片针组34间的间隔也要有所限制，使所述弹片针组35在测试时与连接器更好配合。
[0027]在本实施例中，所述弹片针组35包括设置在所述上针块31上的弹片针胶芯351，所述弹片针胶芯351上排列设置有若干弹片针352，所述弹片针胶芯351是用于安装所述弹片针352的载体，因为连接器上的信号触点非常多，因此需要所述弹片针胶芯351将多个所述弹片针352进行规则排列并固定，提高了所述弹片针352的测试稳定性。
[0028]在本实施例中，所述第一浮动块1与所述第二浮动块2之间通过若干第一等高螺丝11限位连接，所述第一浮动块1与所述第二浮动块2之间还设置有若干第一弹簧12，提高所述第一浮动块1与所述第二浮动块2之间的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种弹片针测试结构，它包括由上至下依次浮动连接的第一浮动块（1）、第二浮动块（2）、弹片针模块（3）以及第三浮动块（4），其特征在于，所述弹片针模块（3）包括上针块（31）、信号弹片（32）、中针块（33）、下针块（34）以及三个弹片针组（35），所述上针块（31）与所述中针块（33）连接，所述信号弹片（32）设置在所述上针块（31）与所述中针块（33）之间，所述下针块（34）与所述中针块（33）连接，三个所述弹片针组（35）均设置在所述上针块（31）上，三个所述弹片针组（35）均与所述信号弹片（32）相导通接触，所述第二浮动块（2）与所述上针块（31）浮动连接，所述下针块（34）与所述第三浮动块（4）浮动连接，所述第三浮动块（4）底部设置有若干定位凸块（41），所述定位凸块（41）与待测试连接器内腔相配合。2.根据权利要求1所述的一种弹片针测试结构，其特征在于，三个所述弹片针组（35）的相互设置间隔不超过1.5mm。3.根据权利要求1所述的一种弹片针测试结构，其特征在于，所述弹片针组（35）包括弹片针胶芯（351）以及排列设置在所述弹片针胶芯（351）上的若干弹片针（352）。4.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：左可，丁力，杨先昭，邵飞，
申请(专利权)人：珠海市运泰利自动化设备有限公司，
类型：新型
国别省市：