本发明专利技术公开了一种多通道激光组件测试装置，包括气浮平台，所述气浮平台顶部一侧设置有第一固定底座，另一侧设置有第二固定底座；所述第一固定底座顶部螺接有光探头固定治具，用于连接固定外延式光探头，且第一固定底座顶部可调节式连接有自制测试光器件固定治具，用于连接自制测试光器件；所述第二固定底座顶部通过螺接有产品固定治具，用于连接多通道激光组件。本发明专利技术有效解决了传统多通道激光组件测试装置因需测试跳线分别对单个通道进行对接测试导致测试效率低、因端面直接对接导致测试产品良率低的问题；通过设计自制测试光器件提高端面对接稳定性和PD光探头直接接收方式，有效提高了测试精度和测试的准确性。效提高了测试精度和测试的准确性。效提高了测试精度和测试的准确性。
【技术实现步骤摘要】
一种多通道激光组件测试装置
[0001]本专利技术属于光通信
，尤其涉及一种用于光发射器件产品插损测试的多通道激光组件测试装置。
技术介绍
[0002]在光纤通信
的传统的多通道激光组件测试装置，在现实测试作业过程中传统的多通道激光组件测试装置需要使用测试跳线分别对单个通道进行对接测试，这样测试效率会比较低；且传统测试方式多为单模转单模的方式进行测试，这样往往会由于端面直接对接导致测试插芯端面损伤或测试产品端面损伤从而影响产品良率；且单模光纤与单模光纤的对接损耗对两者之间的间隙非常敏感（当对接端面有空间间隙时，两个反射信号叠加形成干涉和共振，导致传输信号不稳定），此方式会直接影响到测试精度。
[0003]另一方面，在传统的多通道激光组件产品测试接收端需要使用合光器件，多个通道激光出射的多路光通过合光器合并为单光纤传输的一路光，然后转接至光功率计上。传统方案由于使用了合光器，合光器由于每个通道的损耗不一样而需要每个通道进行功率补偿，这样会影响测试的准确性。
技术实现思路
[0004]为了解决上述传统多通道激光组件测试装置对产品的测试效率低和测试过程中出现的产品端面损伤问题，或者是对接测试过程中由于间隙对传输信号的敏感性导致测试精度不高和由于需要使用进行功率补偿导致测试准确性不高等问题，本专利技术提供了一种多通道激光组件测试装置，为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种多通道激光组件测试装置，包括气浮平台，所述气浮平台顶部一侧设置有第一固定底座，另一侧设置有第二固定底座；所述第一固定底座顶部螺接有光探头固定治具，用于连接固定外延式光探头，且第一固定底座顶部可调节式连接有自制测试光器件固定治具，用于连接自制测试光器件；所述第二固定底座顶部通过螺接有产品固定治具，用于连接多通道激光组件；所述自制测试光器件一端对准外延式光探头，另一端可插入多通道激光组件的激光通道内。
[0005]优选的，所述自制测试光器件包括多通道玻璃底板和特种多模光纤，所述多通道玻璃底板顶部均布有对应多通道激光组件的激光通道数量的连接V槽；所述特种多模光纤的数量对应连接V槽数量，且其一端放置于连接V槽内，另一端贯穿限位金属压块，所述多通道玻璃底板上方胶接有盖板；所述限位金属压块端部铆接有与激光通道插接的特制插芯，且特制多模光纤贯穿特制插芯。
[0006]优选的，所述自制测试光器件中的特种多模光纤两端均研磨以保证光纤端面粗糙度，且特种多模光纤采用200/230μm的超大数值孔径、超大模场直径光纤。
[0007]优选的，所述特制插芯与限位金属压块铆压成型后凸出来的长度比多通道激光组
件的激光通道深度小0.1mm。
[0008]优选的，所述自制测试光器件治具以U形架为主体，所述U形架底部两端后侧均设置有连接板，连接板上沿横向开有条形的连接卡槽，且通过螺栓贯穿连接卡槽与第一固定底座上螺纹孔螺接的方式固定U形架；所述U形架顶部设置有固定凸台，且固定凸台顶部设置有玻璃底板放置槽，用于放置多通道玻璃底板，且使其对准外延式光探头。
[0009]优选的，所述玻璃底板放置槽一侧开口，且其深度小于连接V槽所处的高度，避免由于光纤端面碰到治具而造成光纤端面损伤。
[0010]优选的，所述产品固定治具由螺接于第二固定底座顶部的产品固定底座为主体；所述产品固定底座顶部一侧设置有产品放置槽，用于放置多通道激光组件；所述产品固定底座顶部一侧凸起，且凸起上开有产品锁紧螺纹孔，用于螺接端部可抵住锁紧多通道激光组件的螺栓。
[0011]优选的，所述自制测试光器件固定治具的U形架内部设置有第一真空吸附通道，第一真空吸附通道一端位于U形架一侧，另一端位于玻璃底板放置槽中部；所述产品固定底座内部设置有第二真空吸附通道，第二真空吸附通道一端位于远离产品锁紧螺纹孔的一侧，另一端为位于产品放置槽内的多个开口；所述第一真空吸附通道与第二真空吸附通道均通过真空管道接头与真空发生设备连接。
[0012]优选的，所述多通道激光组件底部一端设置有定位槽，所述产品放置槽内对应位置设置有产品定位凸台，用于对多通道激光组件放置时进行防呆。
[0013]与现有技术相比，本专利技术的有益效果为：本专利技术有效解决了传统多通道激光组件测试装置因需测试跳线分别对单个通道进行对接测试导致测试效率低、因端面直接对接导致测试产品良率低的问题；通过设计自制测试光器件提高端面对接稳定性和PD光探头直接接收方式，有效提高了测试精度和测试的准确性。
[0014]1、通过自制测试光器件，相对传统测试单模光纤数值孔径小导致收光效率低和因模场直径跟发射组件模场直径一致导致其受光纤间的间隙非常敏感等问题，其200/230μm特种多模光纤为超大数值孔径，超大模场直径的特种光纤，该光纤的优势在于其数值孔径大于0.4（常规光纤数值孔径0.15左右），超大数值孔径可以确保入射光99%以上的光被光纤接收，可有效降低接收损耗，从而确保测试准确性；其模场直径高达200um，超大模场直径可以确保入射光与该光纤对接间隙比较大时也能保证接收损耗小于0.1dB，可有效降低测试难度并且提高测试精度；2、还可以根据不同种类的激光组件产品设计不同的自制测试光器件，使用时，只需更换自制测试光器件以及自制测试光器件和产品固定治具，即可实现不同种类的激光组件产品的测试；3、自制测试光器件设计好后，可以确保测试跳线避免与产品端面接触，可有效降低产品端面损伤概率，提高产品一次良率。
附图说明
[0015]图1为本专利技术实施例的立体结构示意图；图2为本专利技术实施例的主视结构示意图；图3为本专利技术实施例的俯视结构示意图；
图4为本专利技术实施例自制测试光器件固定治具的立体结构示意图；图5为本专利技术实施例自制测试光器件的主视结构示意图；图6为图5中A
‑
A的剖视结构示意图；图7为本专利技术实施例玻璃底板的立体结构示意图；图8为本专利技术实施例产品固定治具的立体结构示意图；图9为本专利技术实施例测试的多通道激光组件立体结构示意图。
[0016]图中：1、气浮平台，2、第一固定底座，3、第二固定底座，4、光探头固定治具，5、外延式光探头，6、自制测试光器件固定治具，601、U形架，602、连接板，603、连接卡槽，604、固定凸台，605、玻璃底板放置槽，606、第一真空吸附通道，7、自制测试光器件，701、多通道玻璃底板，70101、连接V槽，702、盖板，703、特种多模光纤，704、限位金属压块，705、特制插芯，8、产品固定治具，801、产品固定底座，802、产品放置槽，803、第二真空吸附通道，804、产品锁紧螺纹孔，805、产品定位凸台，9、真空管道接头，10、多通道激光组件，1001、激光通道，1002、定位槽。
实施方式
[0017]在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“竖直”、“水平”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种多通道激光组件测试装置，其特征在于，包括气浮平台，所述气浮平台顶部一侧设置有第一固定底座，另一侧设置有第二固定底座；所述第一固定底座顶部螺接有光探头固定治具，用于连接固定外延式光探头，且第一固定底座顶部可调节式连接有自制测试光器件固定治具，用于连接自制测试光器件；所述第二固定底座顶部通过螺接有产品固定治具，用于连接多通道激光组件；所述自制测试光器件一端对准外延式光探头，另一端可插入多通道激光组件的激光通道内。2.根据权利要求1所述的一种多通道激光组件测试装置，其特征在于：所述自制测试光器件包括多通道玻璃底板和特种多模光纤，所述多通道玻璃底板顶部均布有对应多通道激光组件的激光通道数量的连接V槽；所述特种多模光纤的数量对应连接V槽数量，且其一端放置于连接V槽内，另一端贯穿限位金属压块，所述多通道玻璃底板上方胶接有盖板；所述限位金属压块端部铆接有与激光通道插接的特制插芯，且特制多模光纤贯穿特制插芯。3.根据权利要求2所述的一种多通道激光组件测试装置，其特征在于：所述自制测试光器件中的特种多模光纤两端均研磨以保证光纤端面粗糙度，且特种多模光纤采用200/230μm的超大数值孔径、超大模场直径光纤。4.根据权利要求3所述的一种多通道激光组件测试装置，其特征在于：所述特制插芯与限位金属压块铆压成型后凸出来的长度比多通道激光组件的激光通道深度小0.1mm。5.根据权利要求1或4所述的一种多通道激光组件测试装置，其特征在于：所述自制测试光器件治具以U形架为主体，所述U形架底部两端后...
【专利技术属性】
技术研发人员：邹支农，邹亚，胡忠星，
申请(专利权)人：江西天孚科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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