一种集成电路多工位测试平台制造技术

本实用新型专利技术涉及集成电路技术领域，且公开了一种集成电路多工位测试平台，包括装置体，装置体包括夹持组件、推动组件、测试组件、底座与收集盒，夹持组件安装于底座顶端，且侧端安装有推动组件，测试组件安装于底座顶端，收集盒安装于底座侧端，夹持组件包括固定块、弹簧与活动块，活动块安装于弹簧侧端，推动组件包括安装块、电动伸缩杆与推块，安装块安装于底座顶端，推块安装于电动伸缩杆侧端，测试组件包括立柱、顶板、气缸、测试板与测试触头。该集成电路多工位测试平台通过设置夹持组件，可以将集成电路进行夹持，防止其在测试过程中发生偏移，且通过设置推动组件，可以实现集成电路自动上料，提高测试效率。提高测试效率。提高测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路多工位测试平台


[0001]本技术涉及集成电路
，具体为一种集成电路多工位测试平台。

技术介绍

[0002]集成电路是一种微型电子器件或部件，是采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构。
[0003]现有的测试平台在对集成电路进行测试时，集成电路容易在测试过程中出现移动造成测试误差，降低测试结果的准确性，且现有的测试平台对多个集成电路进行测试时测试较慢需要花费大量时间，效率较低，所以需要对现有装置进行改进，以满足实际需求。

技术实现思路

[0004](一)解决的技术问题
[0005]针对现有技术的不足，本技术提供了一种集成电路多工位测试平台，具备自动上料和夹持集成电路等优点，解决了上述技术问题。
[0006](二)技术方案
[0007]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种集成电路多工位测试平台，包括装置体，所述装置体包括夹持组件、推动组件、测试组件、底座与收集盒，所述夹持组件安装于底座顶端，且侧端安装有推动组件，所述测试组件安装于底座顶端，所述收集盒安装于底座侧端；
[0008]所述夹持组件包括固定块、弹簧与活动块，所述固定块安装于底座顶端，且侧端安装有弹簧，所述活动块安装于弹簧侧端；
[0009]所述推动组件包括安装块、电动伸缩杆与推块，所述安装块安装于底座顶端，且侧端安装有电动伸缩杆，所述推块安装于电动伸缩杆侧端；
[0010]所述测试组件包括立柱、顶板、气缸、测试板与测试触头，所述立柱安装于底座顶端，且顶端安装有顶板，所述气缸安装于顶板顶端，且底端安装有测试板，所述测试触头安装于测试板底端。
[0011]优选的，所述夹持组件阵列固定安装于底座顶端，且侧端固定安装有推动组件。
[0012]通过上述技术方案，夹持组件能够将集成电路进行夹持，防止其在测试的过程中位置发生偏移，配合推动组件可以实现集成电路自动上料，且夹持组件和推动组件设置有多组，可以实现同时测试多组集成电路，提高了工作效率。
[0013]优选的，所述测试组件固定安装于底座顶端，所述收集盒固定安装于底座侧端。
[0014]通过上述技术方案，测试组件对集成电路进行测试，收集盒将测试后的集成电路进行收集。
[0015]优选的，所述固定块对称固定安装于底座顶端，且侧端固定安装有弹簧，所述活动块固定安装于弹簧侧端。
[0016]通过上述技术方案，向两侧推动活动块，活动块向两侧移动，此时弹簧被压缩，将多组集成电路放入到两组活动块之间，松开活动块，集成电路即被夹持在两组活动块之间。
[0017]优选的，所述安装块固定安装于底座顶端，且侧端固定安装有电动伸缩杆，所述推块固定安装于电动伸缩杆侧端。
[0018]通过上述技术方案，启动电动伸缩杆，电动伸缩杆带动推块向前移动，推块推动集成电路前向移动。
[0019]优选的，所述立柱对称固定安装于底座顶端，且顶端固定安装有顶板，所述气缸固定安装于顶板顶端，且底端固定安装有测试板，所述测试触头固定安装于测试板底端。
[0020]通过上述技术方案，启动气缸，气缸带动测试板上下移动，测试板上下移动带动测试触头上下移动，从而对下端的集成电路进行测试。
[0021]与现有技术相比，本技术提供了一种集成电路多工位测试平台，具备以下有益效果：
[0022]1、本技术通过向两侧推动活动块，活动块向两侧移动，此时弹簧被压缩，将多组集成电路放入到两组活动块之间，松开活动块，集成电路即被夹持在两组活动块之间，夹持组件设置有多组，可以实现同时测试多组集成电路，提高了工作效率。
[0023]2、本技术通过启动电动伸缩杆，电动伸缩杆带动推块向前移动，推块推动集成电路前向移动，启动气缸，气缸带动测试板上下移动，测试板上下移动带动测试触头上下移动，从而对下端的集成电路进行测试，测试结束后，再次启动气缸，推块推动集成电路向前移动，测试好的集成电路被移动到收集盒内，而下一组集成电路正好被移动到测试板下端，如此可以实现集成电路自动上料。
附图说明
[0024]图1为本技术结构多工位测试平台示意图；
[0025]图2为本技术结构多工位测试平台上视示意图；
[0026]图3为本技术结构多工位测试平台前视剖切示意图。
[0027]其中：1、装置体；2、夹持组件；3、推动组件；4、测试组件；5、底座；6、收集盒；21、固定块；22、弹簧；23、活动块；31、安装块；32、电动伸缩杆；33、推块；41、立柱；42、顶板；43、气缸；44、测试板；45、测试触头。
具体实施方式
[0028]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0029]请参阅图1
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3，一种集成电路多工位测试平台，包括装置体1，装置体1包括夹持组件2、推动组件3、测试组件4、底座5与收集盒6，夹持组件2安装于底座5顶端，且侧端安装有推动组件3，测试组件4安装于底座5顶端，收集盒6安装于底座5侧端；
[0030]夹持组件2包括固定块21、弹簧22与活动块23，固定块21安装于底座5顶端，且侧端安装有弹簧22，活动块23安装于弹簧22侧端；
[0031]推动组件3包括安装块31、电动伸缩杆32与推块33，安装块31安装于底座5顶端，且侧端安装有电动伸缩杆32，推块33安装于电动伸缩杆32侧端；
[0032]测试组件4包括立柱41、顶板42、气缸43、测试板44与测试触头45，立柱41安装于底座5顶端，且顶端安装有顶板42，气缸43安装于顶板42顶端，且底端安装有测试板44，测试触头45安装于测试板44底端。
[0033]具体的，夹持组件2阵列固定安装于底座5顶端，且侧端固定安装有推动组件3，优点是，夹持组件2能够将集成电路进行夹持，防止其在测试的过程中位置发生偏移，配合推动组件3可以实现集成电路自动上料，且夹持组件2和推动组件3设置有多组，可以实现同时测试多组集成电路，提高了工作效率。
[0034]具体的，测试组件4固定安装于底座5顶端，收集盒6固定安装于底座5侧端，优点是，测试组件4对集成电路进行测试，收集盒6将测试后的集成电路进行收集。
[0035]具体的，固定块21对称固定安装于底座5顶端，且侧端固定安装有弹簧22，活动块23固定安装于弹簧22侧端，优点是，向两侧推动活动块23，活动块23向两侧移动，此时弹簧22被压缩，将多组集成电路放入到两组活动块23之间，松开活动块23，集成电路即被夹持在两组本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路多工位测试平台，包括装置体(1)，其特征在于：所述装置体(1)包括夹持组件(2)、推动组件(3)、测试组件(4)、底座(5)与收集盒(6)，所述夹持组件(2)安装于底座(5)顶端，且侧端安装有推动组件(3)，所述测试组件(4)安装于底座(5)顶端，所述收集盒(6)安装于底座(5)侧端；所述夹持组件(2)包括固定块(21)、弹簧(22)与活动块(23)，所述固定块(21)安装于底座(5)顶端，且侧端安装有弹簧(22)，所述活动块(23)安装于弹簧(22)侧端；所述推动组件(3)包括安装块(31)、电动伸缩杆(32)与推块(33)，所述安装块(31)安装于底座(5)顶端，且侧端安装有电动伸缩杆(32)，所述推块(33)安装于电动伸缩杆(32)侧端；所述测试组件(4)包括立柱(41)、顶板(42)、气缸(43)、测试板(44)与测试触头(45)，所述立柱(41)安装于底座(5)顶端，且顶端安装有顶板(42)，所述气缸(43)安装于顶板(42)顶端，且底端安装有测试板(44)，所述测试触头(45)安装于测试板(44)底端。2.根...

【专利技术属性】
技术研发人员：严传滨，
申请(专利权)人：深圳市科纳森电子有限公司，
类型：新型
国别省市：