多通道三温相噪测试工装载具制造技术

本实用新型专利技术涉及一种多通道三温相噪测试工装载具，包括测试用PCB板，其技术要点是：测试用PCB板的数量为多个且并列固定于同一固定座上，固定座为长方形且其上设有屏蔽外壳，屏蔽外壳的前、后侧面设有与各个测试用PCB板一一对应的第一接线插头和第二接线插头，测试用PCB板内配置有对应晶体振荡器类型的多个测量电路，测试用PCB板的表面设有与测量电路连接的接线插槽连接器和接线孔组，接线孔组的各个接线孔内设有金属接线卡环，接线插槽连接器用于插接贴片式晶振，接线孔组用于插接带柱形引脚的晶振。本实用新型专利技术解决了现有晶体振荡器测量相噪时费时费力的问题，可一次最多容纳八只晶振同时进行三温相噪测量，显著提高测试效率。率。率。

【技术实现步骤摘要】
多通道三温相噪测试工装载具


[0001]本技术涉及晶体振荡器测试用工装，具体涉及一种多通道三温相噪测试工装载具。

技术介绍

[0002]在新型晶体振荡器即晶振的研制过程中，相噪是衡量晶振质量的重要参数指标，因此测量相噪是必不可少的重要环节。
[0003]目前，一些厂家测试相噪受限于设备配置，存在如下问题：1、需将晶振一个一个放进温箱测量，导线一头连接晶振，另一头连接相噪仪测量。而通常测量一次三温（低温、常温、高温）相噪，温箱需经历先行降温需半小时、低温恒温半小时、升到常温半小时、常温恒温半小时、升到高温半小时、恒温半小时、最后回常温半小时，一次测量时间总共将近4个小时，则测量多个晶振相当费时费力。2、测试时，一般将晶振的引脚与导线焊接在一起或将晶振焊接于测试用PCB板上，测试完成后再焊下来，浪费时间。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种结构合理、使用可靠的多通道三温相噪测试工装载具，解决现有晶体振荡器测量相噪时费时费力的问题，可一次最多容纳八只晶振同时进行三温相噪测量，显著提高测试效率。
[0005]本技术的技术方案是：
[0006]一种多通道三温相噪测试工装载具，包括测试用PCB板，其技术要点是：所述测试用PCB板的数量为多个且并列固定于同一固定座上，所述固定座为长方形且其上设有屏蔽外壳，所述屏蔽外壳的前侧面设有与各个测试用PCB板一一对应的第一接线插头，屏蔽外壳的后侧面设有与各个测试用PCB板一一对应的第二接线插头，所述测试用PCB板内配置有对应晶体振荡器类型的多个测量电路，所述测试用PCB板的表面设有与测量电路连接的接线插槽连接器和接线孔组，所述接线孔组的各个接线孔内设有金属接线卡环，所述接线插槽连接器用于插接贴片式晶振，所述接线孔组用于插接带柱形引脚的晶振。
[0007]上述的多通道三温相噪测试工装载具，所述测试用PCB板的数量为八个以内，一方面增加测试晶振的数量，另一方面测试用PCB板不宜过多，避免导致晶振相噪不稳定。
[0008]上述的多通道三温相噪测试工装载具，所述屏蔽外壳由设于固定座上表面四周边沿的侧壁、设于侧壁顶部的抽拉式盖板组成，方便操作。
[0009]上述的多通道三温相噪测试工装载具，所述固定座和屏蔽外壳均由铝合金制作而成，屏蔽效果好。
[0010]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0011]1、利用固定座、屏蔽外壳、多个测试用PCB板、第一接线插头和第二接线插头集成为用于同时测试多个晶振的测试工装载具，可一次最多容纳八只晶振同时进行三温相噪测量，大大节省测量相噪的时间，解决了现有晶体振荡器测量相噪时费时费力的问题，显著提
高测试效率，从而有效提高研发效率。
[0012]2、每个测试用PCB板内配置有对应晶体振荡器类型的多个测量电路，能够支持多种类型的晶振测量。另外工作人员可根据待测量晶体振荡器的类型将其利用接线插槽连接器或接线孔组与对应的测量电路连接，其中，接线插槽连接器用于插接贴片式晶振接线孔组用于插接带柱形引脚的晶振。接线孔组或接线插槽连接器可实现晶振即插即测，相比焊接，组装效率高，有利于提高测试效率。
[0013]3、固定座和屏蔽外壳可屏蔽杂波噪声，减小了外界对晶振的干扰，使相噪测量更加精准。
附图说明
[0014]图1是本技术的二维结构示意图（无抽拉式盖板）；
[0015]图2是本技术的立体图（无抽拉式盖板）；
[0016]图3是本技术的立体图（带抽拉式盖板）。
[0017]图中：1.屏蔽外壳、2.第二接线插头、3.测试用PCB板、4.接线孔组、5.第一接线插头、6.接线插槽连接器、7.抽拉式盖板。
具体实施方式
[0018]根据说明书附图对本技术作详细描述。
[0019]如图1～图3所示，该多通道三温相噪测试工装载具，包括测试用PCB板3，所述测试用PCB板3的数量为8个且并列固定于同一固定座上。
[0020]所述固定座为长方形且其上设有屏蔽外壳1，所述屏蔽外壳1的前侧面设有与各个测试用PCB板3一一对应的第一接线插头5，屏蔽外壳1的后侧面设有与各个测试用PCB板3一一对应的第二接线插头2。所述测试用PCB板3内配置有对应晶体振荡器类型的多个测量电路，每个测量电路对应一种类型和尺寸的晶体振荡器。所述测试用PCB板3的表面设有与测量电路连接的接线插槽连接器6和接线孔组4。所述接线孔组4的各个接线孔内设有金属接线卡环（尺寸较小省略），所述接线插槽连接器6用于插接贴片式晶振，所述接线孔组4用于插接带柱形引脚的晶振。
[0021]本实施例中，所述屏蔽外壳1由设于固定座上表面四周边沿的侧壁、设于侧壁顶部的抽拉式盖板7组成，方便操作。所述固定座和屏蔽外壳1均由铝合金制作而成，屏蔽效果好。
[0022]使用时，可同时测试8个晶体振荡器，这8个晶体振荡器类型和尺寸相同，或者不同。各个晶体振荡器按类型和尺寸组装于对应的测试用PCB板3上，如贴片式晶振插接于金手指接线插槽连接器处，带柱形引脚的晶振的柱形引脚插于接线孔组4中的接线孔中与金属接线卡环电连接。带柱形引脚的晶振可以为二脚、四脚或六脚。
[0023]8个晶体振荡器组装完成后，将抽拉式盖板7合上，在第一接线插头5和第二接线插头2上连接导线，而后将整个载具放于温箱中，将各条导线导出温箱与对应的相噪仪连接，进行测量。
[0024]以上对本技术的实施例进行了详细说明，但所述内容仅为本技术的较佳实施例，不能被认为用于限定本技术的实施范围。凡依本技术创造范围所作的均
等变化与改进等，均应仍归属于本专利涵盖范围之内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多通道三温相噪测试工装载具，包括测试用PCB板，其特征在于：所述测试用PCB板的数量为多个且并列固定于同一固定座上，所述固定座为长方形且其上设有屏蔽外壳，所述屏蔽外壳的前侧面设有与各个测试用PCB板一一对应的第一接线插头，屏蔽外壳的后侧面设有与各个测试用PCB板一一对应的第二接线插头，所述测试用PCB板内配置有对应晶体振荡器类型的多个测量电路，所述测试用PCB板的表面设有与测量电路连接的接线插槽连接器和接线孔组，所述接线孔组的各个接线孔内...

【专利技术属性】
技术研发人员：周炜健，姚烨，张英鑫，
申请(专利权)人：辽阳鸿宇晶体有限公司，
类型：新型
国别省市：