立式大米加工精度智能分析仪制造技术

本发明专利技术公开了立式大米加工精度智能分析仪，包括大米检测装置和电柜，所述大米检测装置位于所述电柜上方：所述大米检测装置包括框架，所述框架内设有振动布米装置和检测设备以及扫灰装置；所述电柜包括电柜框架，所述电柜框架上设有电柜门框和电柜外罩，所述电柜门框上设有电柜门，所述电柜门上设有电柜门锁，所述电柜框架下方设有两对地脚，大米检测装置玻璃与水平面成35

【技术实现步骤摘要】
立式大米加工精度智能分析仪


[0001]本专利技术涉及大米加工分析仪
，具体为立式大米加工精度智能分析仪。

技术介绍

[0002]米厂现有的大米检测方式是人工从大米原料当中随机抽取一部分进行检测，该方式虽然能够起到抽样检查的效果，但是由于米厂的占地面积大，工作区域广，以及大米种类原料数量过多等多种因素的影响，会使工作人员的工作量非常大，达不到时时取米，随时随地检测的效果。
[0003]本专利技术为立式大米加工精度智能分析仪，作用：可以检测大米加工精度，检测装置在上，电柜在下，竖直布置，占用平面空间小。

技术实现思路

[0004]针对现有技术的不足，本专利技术提供了立式大米加工精度智能分析仪，解决了现有米厂达不到时时取米，随时随地检测的问题。
[0005]为实现以上目的，本专利技术通过以下技术方案予以实现：立式大米加工精度智能分析仪，包括大米检测装置和电柜，所述大米检测装置位于所述电柜上方：
[0006]所述大米检测装置包括框架，所述框架内设有振动布米装置和检测设备以及扫灰装置；
[0007]所述电柜包括电柜框架，所述电柜框架上设有电柜门框和电柜外罩，所述电柜门框上设有电柜门，所述电柜门上设有电柜门锁，所述电柜框架下方设有两对地脚。
[0008]优选的，所述振动布米装置包括固定安装在所述框架内壁上的振动器安装板支架，所述振动器安装板支架上安装有振动器安装板，所述振动器安装板上安装有振动器，所述框架上端设有进料口，所述振动器的工作端上安装有振动料斗，所述振动料斗的一端上设有第一防崩米盖板和第二防崩米盖板，所述进料口的下端插入到所述振动料斗另一端的内部。
[0009]优选的，所述检测设备包括固定安装在所述框架上的密封箱，所述密封箱的侧壁上设有密封盖，所述密封箱上安装有玻璃底板和出米槽，所述玻璃底板上安装有玻璃，所述密封箱的一侧设有波纹管接头，所述密封箱的内壁中安装有第七光源支架和第八光源支架以及第九光源支架和第十光源支架，所述第九光源支架和第十光源支架上均安装有第六光源支架，所述框架上安装有第四光源支架和第三光源支架以及第一光源支架和第二光源支架，所述第四光源支架和第三光源支架以及第一光源支架和第二光源支架以及第七光源支架和第八光源支架均安装有第五光源支架，所述第五光源支架与第六光源支架上均安装有光源，所述框架上与所述密封箱内安装有第一相机支架和第二相机支架以及第三相机支架，所述第一相机支架和第二相机支架以及第三相机支架上均安装有相机。
[0010]优选的，所述扫灰装置包括安装在所述密封箱上的电机底座，所述电机底座上安装有步进电机，所述步进电机的驱动端上安装有联轴器，所述联轴器上安装有夹子，所述夹
子的一端安装有第一毛刷支架，所述第一毛刷支架的一端安装有第二毛刷支架，所述第二毛刷支架上安装有第三毛刷支架，所述第三毛刷支架上旋接有毛刷下调螺丝和毛刷上调螺丝，所述毛刷下调螺丝和毛刷上调螺丝上均设有毛刷，所述电机底座的一侧设有开关支架，所述开关支架上安装有机械式开关，所述第一毛刷支架的一侧设有开关触发支架，所述机械式开关的工作端与所述开关触发支架滑动接触。
[0011]优选的，所述框架上设有外钣金，所述外钣金的一侧设为正面，所述正面的外框上设有正面板镶条，所述正面设有触摸屏、急停按钮、一对USB接口、启动按钮，所述外钣金的一面设有第一门框，所述第一门框上设有第一门，所述第一门框的上下两侧分别设有第一门上镶条和第一门下镶条，所述外钣金的另一侧设有第二门框，所述第二门框的边缘设有第二门镶条，所述第二门框上安装有第二门，所述第一门和第二门上均设有第一门锁，所述外钣金的另一面设有侧面板，所述外钣金上方设有顶板，所述顶板上设有橡胶护线套。
[0012]优选的，所述电柜框架内安装有电气元件柜，所述电气元件柜内安装有第二电气元件安装板和一对第一电气元件安装板，所述电气元件柜的侧壁上设有第一波纹管接头，所述电气元件柜的下方设有第二波纹管接头和进线座。
[0013]优选的，所述正面板镶条内设有扣塞和钣金固定螺丝。
[0014]优选的，所述进料口的下端与所述振动料斗之间设有第一海绵和第二海绵。
[0015]有益效果
[0016]本专利技术提供了立式大米加工精度智能分析仪，具备以下有益效果:
[0017]1.大米检测装置玻璃与水平面成35
°
夹角，大米可以由重力作用自由滑落，从而实现米粒的动态检测，检测效率高。
[0018]2.大米检测装置三相机圆周布置，可以实现米粒的360
°
全方位检测。
[0019]3.大米检测装置上面两个相机以及四个光源安装支架都有长圆弧孔，可以实现相机以及光源的角度调整。
[0020]4.大米检测装置从下面拍摄的相机以及光源都在密封箱内，防止相机镜头以及光源表面落灰。
[0021]5.大米检测装置框架内壁具有线缆夹，方便线缆走线固定。
[0022]6.振动布米装置的振动器可以使进入振动料斗中的大米以一种均匀，匀速的形式流向出料口。
[0023]7.振动布米装置的振动料斗的出料口高于玻璃1mm，使振动料斗在振动时既不会碰到玻璃，同时又不会使米粒从出料口到玻璃的过程中，因为高度落差过大而导致米粒弹起。
[0024]8.振动布米装置进料口下沿四边位置超过海绵内部四边位置，从而使米粒在振动料斗中弹起后也会被进料口下沿或者海绵挡住，不会蹦出去。
[0025]9.扫灰装置电机驱动毛刷进行往复圆周运动，从而清理玻璃面上的糠粉。
[0026]10.扫灰装置原位开关为机械式开关，适用于米厂这种粉尘多的环境。
[0027]11.扫灰装置毛刷下调螺丝、毛刷上调螺丝可以调节毛刷前端毛压紧在玻璃面上的程度。
[0028]12.外钣金将检测主机整体罩住，紧固螺钉完全藏在钣金内，外形美观。
[0029]13.外钣金集成触摸屏，启停按钮，USB插口，实现人机交互。
[0030]14.电柜直接落在检测主机下方，节省占地面积。
[0031]15.电柜的波纹管接头直接用波纹管与密封箱的波纹管接头相连，从而避免密封箱内进入灰尘。
附图说明
[0032]图1为本专利技术的立体图；
[0033]图2为本专利技术框架内的立体图；
[0034]图3为本专利技术框架内的结构示意图；
[0035]图4为本专利技术图3的正视图；
[0036]图5为本专利技术图3的左视图；
[0037]图6为本专利技术图3的俯视图；
[0038]图7为本专利技术图5当中A
‑
A的剖视图；
[0039]图8为本专利技术图7当中B
‑
B的剖视图；
[0040]图9为本专利技术振动布米装置的立体图；
[0041]图10为本专利技术振动布米装置的主视剖视图；
[0042]图11为本专利技术扫灰装置的俯视立体图；
[0043]图12为本专利技术扫灰装置的仰视立体图；
[00本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.立式大米加工精度智能分析仪，包括大米检测装置(1)和电柜(5)，所述大米检测装置(1)位于所述电柜(5)上方，其特征在于：所述大米检测装置(1)包括框架(1.1)，所述框架(1.1)内设有振动布米装置(2)和检测设备以及扫灰装置(3)；所述电柜(5)包括电柜框架(5.1)，所述电柜框架(5.1)上设有电柜门框(5.3)和电柜外罩(5.2)，所述电柜门框(5.3)上设有电柜门(5.4)，所述电柜门(5.4)上设有电柜门锁(5.5)，所述电柜框架(5.1)下方设有两对地脚(5.12)。2.根据权利要求1所述的立式大米加工精度智能分析仪，其特征在于，所述振动布米装置(2)包括固定安装在所述框架(1.1)内壁上的振动器安装板支架(2.7)，所述振动器安装板支架(2.7)上安装有振动器安装板(2.6)，所述振动器安装板(2.6)上安装有振动器(2.5)，所述框架(1.1)上端设有进料口(2.1)，所述振动器(2.5)的工作端上安装有振动料斗(2.2)，所述振动料斗(2.2)的一端上设有第一防崩米盖板(2.3)和第二防崩米盖板(2.4)，所述进料口(2.1)的下端插入到所述振动料斗(2.2)另一端的内部。3.根据权利要求1所述的立式大米加工精度智能分析仪，其特征在于，所述检测设备包括固定安装在所述框架(1.1)上的密封箱(1.2)，所述密封箱(1.2)的侧壁上设有密封盖(1.3)，所述密封箱(1.2)上安装有玻璃底板(1.4)和出米槽(1.7)，所述玻璃底板(1.4)上安装有玻璃(1.5)，所述密封箱(1.2)的一侧设有波纹管接头(1.6)，所述密封箱(1.2)的内壁中安装有第七光源支架(1.14)和第八光源支架(1.15)以及第九光源支架(1.16)和第十光源支架(1.17)，所述第九光源支架(1.16)和第十光源支架(1.17)上均安装有第六光源支架(1.13)，所述框架(1.1)上安装有第四光源支架(1.11)和第三光源支架(1.10)以及第一光源支架(1.8)和第二光源支架(1.9)，所述第四光源支架(1.11)和第三光源支架(1.10)以及第一光源支架(1.8)和第二光源支架(1.9)以及第七光源支架(1.14)和第八光源支架(1.15)均安装有第五光源支架(1.12)，所述第五光源支架(1.12)与第六光源支架(1.13)上均安装有光源(1.18)，所述框架(1.1)上与所述密封箱(1.2)内安装有第一相机支架(1.19)和第二相机支架(1.20)以及第三相机支架(1.21)，所述第一相机支架(1.19)和第二相机支架(1.20)以及第三相机支架(1.21)上均安装有相机(1.22)。4.根据权利要求1所述的立式大米加工精度智能分析仪，其特征在于，所述扫灰装置(3)包括安...

【专利技术属性】
技术研发人员：吕学庚，吕学威，吕顺，顾宗连，马晓峰，韩太宇，
申请(专利权)人：辽宁美骏智能装备有限公司，
类型：发明
国别省市：