一种时钟抖动测量方法、系统、设备及可读存储介质技术方案

本申请涉及电学参数测量技术领域，提供一种时钟抖动测量方法，包括：获取参考时钟，根据所述参考时钟确定测量窗口脉冲；获取被测时钟，根据所述测量窗口脉冲对所述被测时钟进行计数，生成计数结果，所述计数结果用于计算所述被测时钟的时钟抖动。相应地，本申请还提供了一种时钟抖动测量装置、终端设备及可读存储介质。实施本申请，可实现用低频时钟测试高频时钟，且便于连续测试。且便于连续测试。且便于连续测试。

【技术实现步骤摘要】
一种时钟抖动测量方法、系统、设备及可读存储介质


[0001]本申请涉及电学参数测量
，尤其提供一种时钟抖动测量方法、系统、设备及可读存储介质。

技术介绍

[0002]时钟作为数字系统非常关键的一部分，直接决定了数据信号发送和接收的成败，是整个系统的主动脉，随着通信接口带宽越来越大，时钟频率成倍的增长，时钟周期也随之变短，系统容错率越来越低。在这种情况下，时钟抖动偏大，直接导致接收端误码率较高和系统性能不稳定等问题产生。
[0003]时钟抖动测量一般有二种方式：片外测量和片内测量。片外测量可以使用示波器或专业仪表，测量精度比较高，但需要外购一台复杂昂贵的设备，成本增加，而且高频时钟信号通过芯片管脚输出到片外，需要额外的电路来保障信号的完整性，板卡设计时就要充分考虑到，不然极易受到外部噪声的干扰，导致测量结果不准确。片内测量有二种实现方法：专用集成电路(ASIC)和现场可编程逻辑(FPGA)。基于ASIC实现测量电路，精度高，可靠性强，但开发周期长，成本较高。基于FPGA的测量电路设计灵活，开发周期短，通用性强，不依赖特定的硬件电路。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种时钟抖动测量方法，其特征在于，所述方法包括：获取参考时钟，根据所述参考时钟确定测量窗口脉冲；获取被测时钟，根据所述测量窗口脉冲对所述被测时钟进行计数，生成计数结果，所述计数结果用于计算所述被测时钟的时钟抖动。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述被测时钟包括发送时钟及接收时钟；所述发送时钟由参考时钟通过锁相环电路产生；所述接收时钟从接收到的数据编码中嵌入的时钟信息提取出来。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述测量窗口脉冲由所述参考时钟产生；所述参考时钟由高性能晶振产生。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据所述测量窗口脉冲对所述被测时钟进行计数，生成计数结果，包括：获取用户输入的测试次数；根据所述测试次数及所述测量窗口脉冲对所述被测时钟进行计数，生成计数结果。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述测试次数及所述测量窗口脉冲对所述被测时钟进行计数，生成计数结果，包括：若抓取到所述测量窗口脉冲的高电平信号，启动计数；若抓取到下一次所述测量窗口脉冲的高电平信号，结束计数；重复上述步骤，直到测试的次数达到...

【专利技术属性】
技术研发人员：高胜，
申请(专利权)人：深圳市恒扬数据股份有限公司，
类型：发明
国别省市：