用于抑制跨波段光谱成像系统杂散光的方法及光路系统技术方案

一种用于抑制跨波段光谱成像系统杂散光的方法，所述跨波段光谱成像系统包含用于调整光线走向的镜片组、能够探测光线的辐照度的探测元件，所述用于抑制跨波段光谱成像系统杂散光的方法包含以下步骤：S1：杂散光分析步骤，对所述跨波段光谱成像系统进行杂散光分析，得到所述跨波段光谱成像系统的初始杂散光系数和杂散光路径；S2：滤光元件设计步骤，至少基于所述初始杂散光系数和所述杂散光路径，设计滤光元件；S3：滤光元件安装步骤，将所述滤光元件设置于所述探测元件和所述镜片组之间。根据此方案，能够有效地抑制系统的杂散光，提高系统的成像质量，并且能够简化结构、降低成本。降低成本。降低成本。

【技术实现步骤摘要】
用于抑制跨波段光谱成像系统杂散光的方法及光路系统


[0001]本专利技术涉及用于抑制跨波段光谱成像系统杂散光的方法及能够有效抑制杂散光的光路系统。

技术介绍

[0002]光谱仪是一种将待测光信号按照波长进行分通道测量的仪器。光谱仪凭借其分光能力，能够对光信号进行表征和区分，广泛应用于天文、农业、地质、医药学等各个领域。相机是一种对被观测场景进行二维空间信息测量的光学仪器。光谱成像仪是相机和光谱仪的有机结合，在测量光谱信息的同时保持了被观测场景的空间信息，能够同时提供场景的空间信息和像元的光谱信息。与相机或者光谱仪相比较，光谱成像仪能够为各种应用提供更加丰富的信息。
[0003]但在成像过程中，光谱成像仪的探测器上能接收到的光束除按正常光路进行的成像光束以外，还存在少量非成像光束，这些非成像光束在探测器上扩散的现象称为杂散光现象。杂散光的存在会导致成像质量下降，因此，杂散光分析和抑制是光谱成像仪设计过程中必不可少的环节。
[0004]目前，常用的杂散光抑制措施有:设计遮光罩、消杂光光阑，处理元器件表面(光学表面镀膜、机械表面涂覆消本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于抑制跨波段光谱成像系统杂散光的方法，所述跨波段光谱成像系统包含用于调整光线走向的镜片组、能够探测光线的辐照度的探测元件，所述用于抑制跨波段光谱成像系统杂散光的方法包含以下步骤：S1：杂散光分析步骤，对所述跨波段光谱成像系统进行杂散光分析，得到所述跨波段光谱成像系统的初始杂散光系数和杂散光路径；S2：滤光元件设计步骤，至少基于所述初始杂散光系数和所述杂散光路径，设计滤光元件；S3：滤光元件安装步骤，将所述滤光元件设置于所述探测元件和所述镜片组之间。2.根据权利要求1所述的用于抑制跨波段光谱成像系统杂散光的方法，其特征在于，所述杂散光分析步骤还包括：创建所述光谱成像系统的仿真模型，并基于所述仿真模型，通过光线追迹得到所述探测元件在其受光表面的辐照度的数据，根据所述辐照度的数据得到所述光谱成像系统的所述初始杂散光系数。3.根据权利要求2所述的用于抑制跨波段光谱成像系统杂散光的方法，其特征在于，所述杂散光分析步骤还包括：基于所述仿真模型，通过所述光线追迹得到所述光谱成像系统的所述杂散光路径。4.根据权利要求3所述的用于抑制跨波段光谱成像系统杂散光的方法，其特征在于，所述滤光元件设计步骤还包括：在所述滤光元件上设置多个光通道，所述多个光通道中的单个光通道分别允许特定波长范围的光线...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭少军，周晓松，邹春荣，沈同圣，程靖轩，
申请(专利权)人：中国人民解放军军事科学院国防科技创新研究院，
类型：发明
国别省市：