一种在线测量氢同位素气体中杂质的方法和装置制造方法及图纸

技术编号:37701176 阅读:30 留言:0更新日期:2023-06-01 23:45
本发明专利技术提供了一种在线测量氢同位素气体中杂质的方法和装置。所提供的方法包括:基于气体供应系统中的样品单元获得待测样品,进行抽真空处理,使得样品单元中真空度符合检测要求;从样品单元中抽取待测样品,并通过第一管道直接进入色谱仪检测系统,通过色谱仪检测系统进行检测,以便获得检测数据;利用数据处理单元对检测数据分析确定氢同位素中杂质的含量。通过气体供应系统和色谱仪检测系统直接相连,使得气体供应系统中的样品能够直接进入色谱仪检测系统,从而避免了离线取样的操作,在能够大幅度降低样品检测工作量和检测时间的同时,规避取样操作和系统结构等因素带来的检测影响。测影响。测影响。

【技术实现步骤摘要】
一种在线测量氢同位素气体中杂质的方法和装置


[0001]本专利技术涉及气相色谱分析
,具体涉及一种在线测量氢同位素气体中杂质的方法和装置。

技术介绍

[0002]氢作为一种重要的燃料,其同位素中杂质水平对于燃料的品质以及应用有着重要的影响。需要精确分析和控制氢同位素中杂质的水平,才能够把控氢的品质。
[0003]目前在对氢同位素中杂质含量的测定时使用离线取样检测的方式,而取样器取样检测由于存在取样操作和系统结构等因素的影响导致被测样品与实际工艺产品存在差异,这会给检测结果带来影响;且离线检测有耗样量大,回收率低的缺陷。
[0004]有关氢同位素中杂质含量的测定,还需要进一步改进。

技术实现思路

[0005]本专利技术旨在至少在一定程度上解决现有技术中存在的技术问题至少之一。本专利技术提供了一种在线测量氢同位素中杂质的方法以及相应的装置,通过气体供应系统和色谱仪检测系统直接相连,使得气体供应系统中的样品能够直接进入色谱仪检测系统,从而避免了离线取样的操作,在能够大幅度降低样品检测工作量和检测时间的同时,规避取本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种在线测量氢同位素气体中杂质的方法,其特征在于,包括:(1)基于气体供应系统中的样品单元获得待测样品,对所述样品单元进行抽真空处理,以便使得所述样品单元中真空度符合检测要求;(2)从所述样品单元中抽取所述待测样品,并通过第一管道直接进入色谱仪检测系统,通过所述色谱仪检测系统对所述待测样品进行检测,以便获得检测数据;(3)基于所述检测数据,利用数据处理系统分析确定所述氢同位素中杂质的含量。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤(1)所述样品单元中的真空度达到1E

4,符合所述检测要求;任选地,利用机械泵对所述样品单元抽真空,当所述样品单元中的真空度小于1E+1后,利用分子泵对所述样品供应单元抽真空。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述杂质包括选自氧气、氮气、甲烷、一氧化碳中的至少一种。4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述气体供应系统进一步包括标准气体单元:所述标准气体单元能够提供标准气体,所述标准气体单元通过第二管道直接进入色谱仪检测系统,通过所述色谱仪检测系统对所述标准气体进行检测,以便获得色谱参数。5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述标准气体包括氧气、氮气、甲烷和一氧化碳,所述标准气体中O2含量为100.55ppm,N2含量为100.60ppm,CH4含量为100.35ppm,CO含量为100.70ppm。6.一种在线测量氢同位素气体中杂质的装置,其特征在于,包...

【专利技术属性】
技术研发人员:冯秀燕张晓东谢菲菲彭饶陆文博陆燕孙瑶瑶王彦辉秦佳敏尹昱
申请(专利权)人:中核四零四有限公司
类型:发明
国别省市:

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