一种低温贮存试验的试验箱制造技术

本实用新型专利技术属于低温试验装置技术领域，公开了一种低温贮存试验的试验箱，工控机通过测试电缆连接外置机箱，外置机箱通过电源电缆和PCIe电缆连接实验机箱(PCIe)，实验机箱通过电源电缆线性连接直流电源，机箱内镶嵌有PCIe接口，PCIe接口内安装有FC标准卡。PCIe接口连接有PCIeSwitch端口扩展，PCIe接口内共镶嵌有八个FC标准卡。PCIe还设有子卡转接板，子卡转接板中间设有4*20高速连接器。供电口设置在母板一侧，母板设有固定架，固定架左侧固定有FC标准卡，固定架右侧通过肋板分割成多个模组。实现对实验机的控制和实验，控制方便，通过实验机箱通过电源电缆线性连接直流电源，机箱内镶嵌有PCIe接口，PCIe接口内安装有FC标准卡，可进行多个试验机的试验和检测。进行多个试验机的试验和检测。进行多个试验机的试验和检测。

【技术实现步骤摘要】
一种低温贮存试验的试验箱


[0001]本技术属于低温试验装置
，尤其涉及一种低温贮存试验的试验箱。

技术介绍

[0002]目前，高低温低气压试验箱主要用于航空、航天、电子、国防、科研和其它工业部门确定电工的电子科技产品(包括元器件、材料和仪器仪表)。在高低温低气压单项或同时作用下，进行贮存运输可靠性试验，并可同时对试件通电进行电气性能参数的测试。
[0003]但是现有的试验装置进行检测时一个控制机只能对一个试验机进行控制，由于处于低温环境，试验机内部会产生温度差，使得仪器产生对流，加速仪器的损坏。
[0004]通过上述分析，现有技术存在的问题及缺陷为：现有的试验装置进行检测时一个控制机只能对一个试验机进行控制，由于处于低温环境，试验机内部会产生温度差，使得仪器产生对流，加速仪器的损坏，检测效率低下。

技术实现思路

[0005]针对现有技术存在的问题，本技术提供了一种低温贮存试验的试验箱。
[0006]本技术是这样实现的，一种低温贮存试验的试验箱设有：
[0007]工控机；
[0008]所述工控机通过测试电缆连接外置机箱，所述外置机箱通过电源电缆和PCIe电缆连接实验机箱(PCIe)，所述实验机箱通过电源电缆线性连接直流电源，所述机箱内镶嵌有PCIe接口，所述PCIe接口内安装有FC标准卡。
[0009]进一步，所述PCIe接口连接有PCIeSwitch端口扩展，所述PCIe接口内共镶嵌有八个FC标准卡。
[0010]进一步，所述PCIe还设有子卡转接板，所述子卡转接板中间设有4*20高速连接器。
[0011]进一步，所述PCIe设有供电口，所述供电口设置在母板一侧，所述母板设有固定架，所述固定架左侧固定有FC标准卡，所述固定架右侧通过肋板分割成多个模组。
[0012]进一步，所述PCIe前端设有控制旋钮和显示器，所述PCIe后端安装有散热片，所述散热片通过销钉固定在固定架上。
[0013]进一步，所述PCIe两侧设有侧板，所述侧板上下两侧设有散热循环管，所述散热循环管固定有水泵，所述水泵线性连接母板上的FPGA芯片散热。
[0014]进一步，所述子卡转接板为标准的PCIe主机接口。
[0015]结合上述的技术方案和解决的技术问题，请从以下几方面分析本技术所要保护的技术方案所具备的优点及积极效果为：
[0016]第一、针对上述现有技术存在的技术问题以及解决该问题的难度，紧密结合本技术的所要保护的技术方案以及研发过程中结果和数据等，详细、深刻地分析本技术技术方案如何解决的技术问题，解决问题之后带来的一些具备创造性的技术效果。具体描述如下：
[0017]本技术实施例一种低温贮存试验的试验箱，通过将工控机通过测试电缆连接外置机箱，外置机箱通过电源电缆和PCIe电缆连接实验机箱(PCIe)，实现对实验机的控制和实验，控制方便；本技术通过实验机箱通过电源电缆线性连接直流电源，机箱内镶嵌有PCIe接口，PCIe接口内安装有FC标准卡，可进行多个试验机的试验和检测。
[0018]第二，把技术方案看做一个整体或者从产品的角度，本技术所要保护的技术方案具备的技术效果和优点，具体描述如下：
[0019]本技术实施例一种低温贮存试验的试验箱，结构简单，实验数据准确，通过多个扩展模块可对多个试验机进行检测。
附图说明
[0020]图1是本技术实施例提供的低温贮存试验的试验箱结构示意图；
[0021]图2是本技术实施例提供的母板结构示意图；
[0022]图3是本技术实施例提供的散热片结构示意图；
[0023]图中：1、工控机；2、外置机箱；3、试验机箱；4、直流电源；5、测试电缆；6、电源电缆；7、PCIe电缆；8、控制旋钮；9、显示器；10、热循环管；11、侧板。
具体实施方式
[0024]为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
[0025]一、解释说明实施例。为了使本领域技术人员充分了解本技术如何具体实现，该部分是对权利要求技术方案进行展开说明的解释说明实施例。
[0026]如图1
‑
图3所示，本技术实施例一种低温贮存试验的试验箱设有：工控机1、外置机箱2、试验机箱3、直流电源4、测试电缆5、电源电缆6、PCIe电缆7、控制旋钮8、显示器9、热循环管10、侧板11。工控机1通过测试电缆5连接外置机箱2，外置机箱2通过电源电缆6和PCIe电缆7连接实验机箱(PCIe)，实验机箱通过电源电缆6线性连接直流电源4，机箱内镶嵌有PCIe接口，PCIe接口内安装有FC标准卡。
[0027]PCIe接口连接有PCIeSwitch端口扩展，PCIe接口内共镶嵌有八个FC标准卡。
[0028]PCIe还设有子卡转接板，子卡转接板中间设有4*20高速连接器。
[0029]PCIe设有供电口，供电口设置在母板一侧，母板设有固定架，固定架左侧固定有FC标准卡，固定架右侧通过肋板分割成多个模组。
[0030]PCIe前端设有控制旋钮8和显示器9，PCIe后端安装有散热片，散热片通过销钉固定在固定架上。
[0031]PCIe两侧设有侧板11，侧板11上下两侧设有散热循环管10，散热循环管10固定有水泵，水泵线性连接母板上的FPGA芯片散热。
[0032]子卡转接板为标准的PCIe主机接口。
[0033]本技术实施例一种低温贮存试验的试验箱在使用时，首先将工控机1外部的测试电缆5连接外置机箱2，外置机箱2与实验机箱之间的电源电缆6和PCIe电缆7相互连接，之后将试验机与外置机箱2连接直流电源4，进行试验；由于试验机箱3内部设有PCIeSwitch
端口扩展，通过PCIe接口连接八个FC标准卡，每个标准卡连接一个检测机，同时进行八台检测机的检测。
[0034]二、应用实施例。为了证明本技术的技术方案的创造性和技术价值，该部分是对权利要求技术方案进行具体产品上或相关技术上的应用实施例。
[0035]本技术实施例一种低温贮存试验的试验箱，应用在低温试验箱的检测中。
[0036]在本技术的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上；术语“上”、“下”、“左”、“右”、“内”、“外”、“前端”、“后端”、“头部”、“尾部”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0037]以上所述，仅为本技术的具体本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种低温贮存试验的试验箱，其特征在于，所述低温贮存试验的试验箱设有：工控机；所述工控机通过测试电缆连接外置机箱，所述外置机箱通过电源电缆和PCIe电缆连接实验机箱PCIe，所述实验机箱通过电源电缆线性连接直流电源，所述机箱内镶嵌有PCIe接口，所述PCIe接口内安装有FC标准卡。2.如权利要求1所述的低温贮存试验的试验箱，其特征在于，所述PCIe接口连接有PCIeSwitch端口扩展，所述PCIe接口内共镶嵌有八个FC标准卡。3.如权利要求1所述的低温贮存试验的试验箱，其特征在于，所述PCIe还设有子卡转接板，所述子卡转接板中间设有4*20高速连接器。4.如权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：张姝瑶，赵林，张志远，牛姝晨，
申请(专利权)人：陕西朗诚众科科技开发有限公司，
类型：新型
国别省市：