一种低温贮存试验的试验箱制造技术

技术编号:37697027 阅读:19 留言:0更新日期:2023-05-28 09:59
本实用新型专利技术属于低温试验装置技术领域,公开了一种低温贮存试验的试验箱,工控机通过测试电缆连接外置机箱,外置机箱通过电源电缆和PCIe电缆连接实验机箱(PCIe),实验机箱通过电源电缆线性连接直流电源,机箱内镶嵌有PCIe接口,PCIe接口内安装有FC标准卡。PCIe接口连接有PCIeSwitch端口扩展,PCIe接口内共镶嵌有八个FC标准卡。PCIe还设有子卡转接板,子卡转接板中间设有4*20高速连接器。供电口设置在母板一侧,母板设有固定架,固定架左侧固定有FC标准卡,固定架右侧通过肋板分割成多个模组。实现对实验机的控制和实验,控制方便,通过实验机箱通过电源电缆线性连接直流电源,机箱内镶嵌有PCIe接口,PCIe接口内安装有FC标准卡,可进行多个试验机的试验和检测。进行多个试验机的试验和检测。进行多个试验机的试验和检测。

【技术实现步骤摘要】
一种低温贮存试验的试验箱


[0001]本技术属于低温试验装置
,尤其涉及一种低温贮存试验的试验箱。

技术介绍

[0002]目前,高低温低气压试验箱主要用于航空、航天、电子、国防、科研和其它工业部门确定电工的电子科技产品(包括元器件、材料和仪器仪表)。在高低温低气压单项或同时作用下,进行贮存运输可靠性试验,并可同时对试件通电进行电气性能参数的测试。
[0003]但是现有的试验装置进行检测时一个控制机只能对一个试验机进行控制,由于处于低温环境,试验机内部会产生温度差,使得仪器产生对流,加速仪器的损坏。
[0004]通过上述分析,现有技术存在的问题及缺陷为:现有的试验装置进行检测时一个控制机只能对一个试验机进行控制,由于处于低温环境,试验机内部会产生温度差,使得仪器产生对流,加速仪器的损坏,检测效率低下。

技术实现思路

[0005]针对现有技术存在的问题,本技术提供了一种低温贮存试验的试验箱。
[0006]本技术是这样实现的,一种低温贮存试验的试验箱设有:
[0007]工控机;r/>[0008]所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种低温贮存试验的试验箱,其特征在于,所述低温贮存试验的试验箱设有:工控机;所述工控机通过测试电缆连接外置机箱,所述外置机箱通过电源电缆和PCIe电缆连接实验机箱PCIe,所述实验机箱通过电源电缆线性连接直流电源,所述机箱内镶嵌有PCIe接口,所述PCIe接口内安装有FC标准卡。2.如权利要求1所述的低温贮存试验的试验箱,其特征在于,所述PCIe接口连接有PCIeSwitch端口扩展,所述PCIe接口内共镶嵌有八个FC标准卡。3.如权利要求1所述的低温贮存试验的试验箱,其特征在于,所述PCIe还设有子卡转接板,所述子卡转接板中间设有4*20高速连接器。4.如权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员:张姝瑶赵林张志远牛姝晨
申请(专利权)人:陕西朗诚众科科技开发有限公司
类型:新型
国别省市:

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