自动光学检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及光学检测技术领域，具体公开了自动光学检测装置。该装置包括检测台、推料模块、上视模块和下视模块；检测台与承载位置数量相同且对应，检测台用于将框架在检测位置与一个承载位置间移动；推料模块与承载位置数量相同且对应，连接有能在上料位置与下料位置间切换的承载台，当承载台处于上料位置时，推料模块能将位于承载位置处的框架放置于承载台的第二承载槽，当承载台处于下料位置时，推料模块能将置于承载台的第一承载槽内的框架搬运至承载位置；上视模块用于拍摄位于检测位置的框架上表面，下视模块用于拍摄位于检测位置的框架下表面。该装置通过多个检测台共用同一检测位置的设计，优化了检测流程，提高了检测效率。检测效率。检测效率。

【技术实现步骤摘要】
自动光学检测装置


[0001]本技术涉及光学检测
，尤其涉及自动光学检测装置。

技术介绍

[0002]AOI(Automatic Optical Inspection，自动光学检测)是液晶及微电子等行业广泛使用的测量手段，而其中AOI设备是液晶及微电子等行业广泛使用的检测设备；AOI设备可用于检测基板的表面的图型是否符合规定、是否存在由破坏性物质(破坏性异物是指嵌入在基板内部，且对基板造成实质破坏的物质)造成的坏点以及判定破坏性物质等造成的坏点的准确位置，如直接采用AOI设备对基板拍照得到较为清晰的图像，并通过对该图像的分析来对基板是否存在坏点进行检测。
[0003]芯片在封装前需要对芯片固装的框架进行检测，需要利用AOI设备的光学相机对框架的上下表面进行扫描拍摄，获得框架照片并对其进行检测分析，将合格品、废品和复检品自动进行分拣。目前，普遍检测的方式是框架从机器一端上料，放置在检测台上，使检测台从机器的一端滑向中间，利用上下两台线扫相机对框架上下两面进行拍照检测，在框架到达另一端完成检测后下料，使检测台返回。然后进行下一个循环。这种工艺方法在检测台回程时空载，相机不进行检测，因而浪费了回程时间，检测效率低下。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供自动光学检测装置，以优化对框架的检测流程，减少占用的空间，提高检测效率。
[0005]为达此目的，本技术采用以下技术方案：
[0006]自动光学检测装置，用于检测框架，设有一个检测位置与至少两个承载位置，所述自动光学检测装置包括检测台、推料模块、上视模块和下视模块；所述检测台与所述承载位置数量相同且一一对应，所述检测台用于将所述框架在所述检测位置与一个所述承载位置之间移动；所述推料模块与所述承载位置数量相同且一一对应，连接有能在上料位置与下料位置之间切换的承载台，所述承载台设有第一承载槽和第二承载槽，当所述承载台处于所述上料位置时，所述推料模块能将位于所述承载位置处的所述框架放置于所述第二承载槽内，当所述承载台处于所述下料位置时，所述推料模块能将置于所述第一承载槽内的所述框架搬运至所述承载位置处；所述上视模块用于拍摄位于所述检测位置的所述框架的上表面，所述下视模块用于拍摄位于所述检测位置的所述框架的下表面。
[0007]作为自动光学检测装置的优选技术方案，所述自动光学检测装置还包括第一搬运单元和上料单元，当所述承载台处于所述上料位置时，所述第一搬运单元能够将所述框架从所述上料单元拿取至所述第一承载槽。
[0008]作为自动光学检测装置的优选技术方案，所述第一搬运单元包括上料爪和上料滑轨，所述上料爪滑设于所述上料滑轨，所述上料爪能选择性地夹持所述框架。
[0009]作为自动光学检测装置的优选技术方案，所述自动光学检测装置还包括第二搬运
单元和下料单元，当所述承载台处于所述下料位置时，所述第二搬运单元能够将所述框架从所述第二承载槽拿取至所述下料单元。
[0010]作为自动光学检测装置的优选技术方案，所述第二搬运单元包括下料爪和下料滑轨，所述下料爪滑设于所述下料滑轨，所述下料爪能选择性地夹持所述框架。
[0011]作为自动光学检测装置的优选技术方案，所述上料位置和所述下料位置之间的连线与所述检测位置和所述承载位置之间的连线相互垂直，且均位于水平平面内。
[0012]作为自动光学检测装置的优选技术方案，所述上视模块位于所述检测位置的正上方，所述下视模块位于所述检测位置的正下方，所述上视模块与所述下视模块的连线垂直于水平平面。
[0013]作为自动光学检测装置的优选技术方案，所述承载位置设有两个，所述自动光学检测装置还包括输送滑轨，所述输送滑轨滑设有两个所述检测台，两个所述承载位置分别位于所述输送滑轨的两端，所述检测位置位于所述输送滑轨的中部。
[0014]作为自动光学检测装置的优选技术方案，所述上视模块包括上视相机和上视光源，所述上视光源用于照亮位于所述检测位置的所述框架的上表面，所述上视相机用于采集位于所述检测位置的所述框架的上表面的图像。
[0015]作为自动光学检测装置的优选技术方案，所述下视模块包括下视相机和下视光源，所述下视光源用于照亮位于所述检测位置的所述框架的下表面，所述下视相机用于采集位于所述检测位置的所述框架的下表面的图像。
[0016]本技术的有益效果：
[0017]该自动光学检测装置通过设置上视模块和下视模块的方式，能够通过对位于检测位置的框架拍照的方式，对框架上下表面的图像进行采集。而多个检测台在同一个检测位置进行检测的布局，实现了对上视模块和下视模块的充分利用，避免了上视模块和下视模块出现长时间等待的情况，优化了框架检测装置的工作流程，实现了对检测操作的合理布局，从而节省了框架上下料的时间，提高了设备综合效率；以上设计仅设置一个上视模块和一个下视模块即可完成，减少了上视模块和下视模块设置的数量，降低了自动光学检测装置的成本，减少了占用的空间。推料模块的设置使得框架的上下料动作与搬运动作分离开来，由此得以提高框架上下料的速度，提升了对框架检测的效率。
附图说明
[0018]图1是本技术实施例提供的自动光学检测装置的结构示意图；
[0019]图2是本技术实施例提供的自动光学检测装置的正视图；
[0020]图3是本技术实施例提供的自动光学检测装置的左视图；
[0021]图4是本技术实施例提供的自动光学检测装置的俯视图。
[0022]图中：
[0023]100、推料模块；200、检测台；300、上料爪；310、上料滑轨；400、下料爪；410、下料滑轨；500、输送滑轨；600、中转爪；610、中转滑轨；710、上料单元；720、下料单元；800、上视模块；810、上视相机；820、上视光源；900、下视模块；910、下视相机；920、下视光源。
具体实施方式
[0024]下面将结合附图对本技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0025]在本技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。其中，术语“第一位置”和“第二位置”为两个不同的位置，而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.自动光学检测装置，用于检测框架，其特征在于，设有一个检测位置与至少两个承载位置，所述自动光学检测装置包括：检测台(200)，与所述承载位置数量相同且一一对应，所述检测台(200)用于将所述框架在所述检测位置与一个所述承载位置之间移动；推料模块(100)，与所述承载位置数量相同且一一对应，连接有能在上料位置与下料位置之间切换的承载台，所述承载台设有第一承载槽和第二承载槽，当所述承载台处于所述上料位置时，所述推料模块(100)能将位于所述承载位置处的所述框架放置于所述第二承载槽内，当所述承载台处于所述下料位置时，所述推料模块(100)能将置于所述第一承载槽内的所述框架搬运至所述承载位置处；上视模块(800)和下视模块(900)，所述上视模块(800)用于拍摄位于所述检测位置的所述框架的上表面，所述下视模块(900)用于拍摄位于所述检测位置的所述框架的下表面。2.根据权利要求1所述的自动光学检测装置，其特征在于，所述自动光学检测装置还包括第一搬运单元和上料单元(710)，当所述承载台处于所述上料位置时，所述第一搬运单元能够将所述框架从所述上料单元(710)拿取至所述第一承载槽。3.根据权利要求2所述的自动光学检测装置，其特征在于，所述第一搬运单元包括上料爪(300)和上料滑轨(310)，所述上料爪(300)滑设于所述上料滑轨(310)，所述上料爪(300)能选择性地夹持所述框架。4.根据权利要求1所述的自动光学检测装置，其特征在于，所述自动光学检测装置还包括第二搬运单元和下料单元(720)，当所述承载台处于所述下料位置时，所述第二搬运单元能够将所述框架从所述第二承载槽拿取至所述下料单元(720)。5.根据权利要求4所述的自动光...

【专利技术属性】
技术研发人员：马强，王孟涛，
申请(专利权)人：苏州艾科瑞思智能装备股份有限公司，
类型：新型
国别省市：