【技术实现步骤摘要】
荧光显微镜系统和方法
[0001]本专利技术涉及用于对样品成像的荧光显微镜系统。本专利技术还涉及一种使用荧光显微镜系统对包括至少两种不同荧光团的样品进行成像的方法。
技术介绍
[0002]当用多于一种荧光团制备样品时,经常单独地记录每种荧光团。因为对不同荧光团成像可能需要更换滤光器和修改或切换光源,所以在不同图像的采集之间要经过大量的时间。然而,在许多应用中,这是不期望的。因此,存在能够通过多个激发光源和检测器同时激发和检测两种或更多种荧光团的已知的显微镜系统。然而,荧光团之间的交叉激发和非线性效应,如高强度照明引起的漂白等,会严重影响图像质量。
技术实现思路
[0003]因此,一个目的是提供一种用于对包括至少两种不同荧光团的样品进行成像的荧光显微镜系统和方法,其允许采集高质量的图像。
[0004]前述目的通过一种用于对包括至少两种不同荧光团的样品进行成像的荧光显微镜系统以及一种使用荧光显微镜系统对包括至少两种不同荧光团的样品进行成像的方法来实现。以下描述中限定了有利的实施例。
[0005]所 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于对包括至少两种不同荧光团的样品(102)进行成像的荧光显微镜系统(100),包括:照明系统(104),所述照明系统(104)被配置成发射用于激发所述荧光团的照明光;光学检测系统(112),所述光学检测系统(112)被配置成基于由受激荧光团发射的荧光生成所述样品(102)的图像;以及控制单元(124),所述控制单元(124)被配置成基于所述不同荧光团中的每种荧光团的至少一种特性并且基于所述光学检测系统(112)的至少一个参数和/或所述照明系统(104)的至少一个参数来确定是以并行成像模式还是以顺序成像模式对所述样品(102)进行成像;其中在所述并行成像模式中,所述不同荧光团被同时成像;以及其中在所述顺序成像模式中,所述不同荧光团被分成第一组和至少一个第二组,并且所述第一组荧光团和第二组荧光团被相继成像。2.根据权利要求1所述的荧光显微镜系统(100),其中,所述控制单元(124)被配置成基于所述不同荧光团中的每种荧光团的至少一种特性将所述不同荧光团分成所述第一组和所述至少一个第二组。3.根据权利要求2所述的荧光显微镜系统(100),其中,所述控制单元(124)被配置成将所述不同荧光团分成所述第一组和所述至少一个第二组,使得每组内的所述不同荧光团的发射光谱具有最小重叠。4.根据前述权利要求中任一项所述的荧光显微镜系统(100),其中,所述控制单元(124)被配置成基于所述不同荧光团中的每种荧光团的至少一种特性和/或所述样品(102)的至少一种特性来确定所述照明系统(104)的至少一个光源(106)的功率的最小值和/或最大值,并且通过将所述光源(106)功率的工作范围与所述最小值和/或所述最大值进行比较来确定是以顺序成像模式还是以并行成像模式对所述样品(102)进行成像。5.根据前述权利要求中任一项所述的荧光显微镜系统(100),其中,所述控制单元(124)被配置成基于所述不同荧光团的激发光谱来确定是以顺序成像模式还是以并行成像模式对所述样品(102)进行成像。6.根据前述权利要求中任一项所述的荧光显微镜系统(100),其中,所述控制单元(124)被配置成基于由所述照明系统(104)发射的激发光的光谱来确定是以顺序成像模式还是以并行成像模式对所述样品(102)进行成像。7.根据前述权利要求中任一项所述的荧光显微镜系统(100),其中,所述控制单元(124)被配置成通过将所述不同荧光团的所述激发光谱与由所述照明系统(104)发射的激发光的光谱进行比较来确定是以顺序成像模式还是以并行成像模式对所述样品(102)进行成像。8.根据前述权利要求中任一项所述的荧光显微镜系统(100),其中,所述控制单元(124)被配置成基于所述不同荧光团的所述发射光谱来确定是以顺序成像模式还是以并行成像模式...
【专利技术属性】
技术研发人员:凯,
申请(专利权)人:莱卡微系统CMS有限责任公司,
类型:发明
国别省市:
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