芯片计时器诊断方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及计算机技术领域，尤其涉及一种芯片计时器诊断方法和装置。获取计时器在当前时段内的第一累加值和处理器在当前时段内的第二累加值；根据第一累加值和计时器的第一工作频率，确定当前时段所包含的第一时长；根据第一时长和第二累加值，确定处理器在当前时段内的第二工作频率；获取处理器在前一时段内所对应的第三工作频率，并基于第二工作频率和第三工作频率判断计时器是否处于正常工作状态。基于计时器和处理器的工作频率对应关系，在不同时段内计算处理器的工作频率，可精确的确定计时器是否稳定运行，达到实时监测的效果。达到实时监测的效果。达到实时监测的效果。

【技术实现步骤摘要】
芯片计时器诊断方法和装置


[0001]本专利技术涉及计算机
，尤其涉及一种芯片计时器诊断方法和装置。

技术介绍

[0002]目前，芯片执行的许多定时任务都是需要在预定的时刻触发的，因此芯片内部会设置芯片计时器，以保证芯片处理的各任务能够正常执行。芯片计时器的精确度对芯片的运行有重要的影响，芯片时常需要对芯片计时器进行精确度的诊断。
[0003]当前芯片计时器的诊断方式包括引入标准定时器或者可编程逻辑器等校准芯片作为参考达到监测芯片计时器的目的，这种方式增加了硬件结构的复杂性，而且受参考芯片计时器的精度影响较大，还伴随着复杂的计算和处理过程。

技术实现思路

[0004]本专利技术实施例提供了一种芯片计时器诊断方法和装置，基于计时器和处理器的工作频率对应关系，在不同时段内计算处理器的工作频率，可精确的确定计时器是否稳定运行，达到实时监测的效果。
[0005]第一方面，本专利技术实施例提供了一种芯片计时器诊断方法，包括：
[0006]获取计时器在当前时段内的第一累加值和处理器在所述当前时段内的第二累加值；本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片计时器诊断方法，其特征在于，包括：获取计时器在当前时段内的第一累加值和处理器在所述当前时段内的第二累加值；根据所述第一累加值和所述计时器的第一工作频率，确定所述当前时段所包含的第一时长；根据所述第一时长和所述第二累加值，确定所述处理器在所述当前时段内的第二工作频率；获取所述处理器在前一时段内所对应的第三工作频率，并基于所述第二工作频率和所述第三工作频率判断所述计时器是否处于正常工作状态。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取计时器在当前时段内的第一累加值和处理器在所述当前时段内的第二累加值，包括：获取所述计时器的第一计数值和所述处理器的第二计数值；运行延时程序；检测到所述延时程序结束运行后，获取所述计时器的第三计数值和所述处理器的第四计数值；将所述第三计数值和所述第一计数值的差值确定为所述第一累加值，并将所述第四计数值和所述第二计数值的差值确定为所述第二累加值。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取计时器在当前时段内的第一累加值和处理器在所述当前时段内的第二累加值之前，所述方法还包括：循环运行延时程序并实时获取所述延时程序的运行总时长；检测到所述运行总时长大于第一阈值时，停止运行所述延时程序，并执行所述获取计时器在当前时段内的第一累加值和处理器在所述当前时段内的第二累加值的步骤。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述第二工作频率和所述第三工作频率判断所述计时器是否处于正常工作状态，包括：确定所述第二工作频率和所述第三工作频率的频率差值；若所述频率差值小于频率阈值且所述第二工作频率大于预设的最低频率，则确定所述计时器处于正常工作状态。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述第...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨丽，孙爱军，
申请(专利权)人：展讯通信天津有限公司，
类型：发明
国别省市：