一种表面成像方法、存储介质及设备技术

技术编号:37671917 阅读:13 留言:0更新日期:2023-05-26 04:34
本申请公开了一种表面成像方法、存储介质及设备,其中,方法包括:获取投影组件中镜头的初始旋转角,基于初始旋转角获取包含至少两个旋转角的旋转角集合,针对参考平面,获取旋转角集合中各旋转角对应的相位误差分布,基于各旋转角对应的相位误差分布,获取各旋转角对应的相位误差方差,获取各旋转角对应的相位误差方差中的最小方差,将最小方差对应的旋转角确定为期望旋转角,将投影组件的镜头调整至期望旋转角,采用投影组件向参考平面上的待测物体投射光栅条纹,采用摄像组件对待测物体进行表面成像处理。采用本申请,摄像组件获取到的图像中的噪声和坏点更少,从而使得获取到的物体表面成像的清晰度、准确度更高。准确度更高。准确度更高。

【技术实现步骤摘要】
一种表面成像方法、存储介质及设备


[0001]本申请涉及计算机
,尤其涉及一种表面成像方法、存储介质及设备。

技术介绍

[0002]在物体轮廓扫描、人脸识别等领域都有用到条纹相位测量轮廓术来获取物体轮廓,需要采用投影仪向物体投射条纹,再用相机获取条纹图像来计算出轮廓。投影仪的镜头的旋转角度会影响光栅条纹的条纹对比度,尤其是在相机的分辨率远高于投影仪分辨率的情况下,会导致相机所获取到的光栅条纹的图像存在较多噪声和坏点,导致计算出来的物体轮廓不准确、不清晰。

技术实现思路

[0003]本申请实施例提供了一种表面成像方法、存储介质及设备,可以获取拥有最小方差的相位误差分布所对应的期望旋转角,以期望旋转角投射的光栅条纹的条纹对比度更高,摄像组件获取到的图像中的噪声和坏点更少,从而使得获取到的物体表面成像的清晰度、准确度更高。所述技术方案如下:
[0004]第一方面,本申请实施例提供了一种表面成像方法,用于成像设备中,所述成像设备包括投影组件和摄像组件,所述方法包括:
[0005]获取所述投影组件中镜头的初始旋转角,基于所述初始旋转角获取包含至少两个旋转角的旋转角集合;
[0006]针对参考平面,获取所述旋转角集合中各旋转角对应的相位误差分布;
[0007]基于所述各旋转角对应的相位误差分布,获取所述各旋转角对应的相位误差方差;
[0008]获取所述各旋转角对应的相位误差方差中的最小方差,将所述最小方差对应的旋转角确定为期望旋转角;
[0009]将所述投影组件的镜头调整至所述期望旋转角,采用所述投影组件向所述参考平面上的待测物体投射光栅条纹,采用所述摄像组件对所述待测物体进行表面成像处理。
[0010]第二方面,本申请实施例提供了一种成像设备,所述成像设备包括:投影组件、摄像组件和处理器;其中,
[0011]所述处理器的一端和所述投影组件相连接,所述处理器的另一端和所述摄像组件相连接;
[0012]所述投影组件将镜头的初始旋转角发送至所述处理器;
[0013]所述处理器基于所述初始旋转角获取包含至少两个旋转角的旋转角集合;
[0014]所述处理器针对参考平面,获取所述旋转角集合中各旋转角对应的相位误差分布;
[0015]所述处理器基于所述各旋转角对应的相位误差分布,获取所述各旋转角对应的相位误差方差;
[0016]所述处理器获取所述各旋转角对应的相位误差方差中的最小方差,将所述最小方差对应的旋转角确定为期望旋转角,基于所述期望旋转角生成第一指令;
[0017]所述处理器向所述投影组件发送所述第一指令,所述投影组件基于所述第一指令将所述镜头调整至所述期望旋转角,向所述参考平面上的待测物体投射光栅条纹;
[0018]所述处理器向所述摄像组件发送第二指令,所述摄像组件基于所述第二指令采集所述待测物体的条纹图像,所述摄像组件将所述条纹图像发送至所述处理器,所述处理器基于所述条纹图像对所述待测物体进行表面成像处理。
[0019]第三方面,本申请实施例提供一种计算机存储介质,所述计算机存储介质存储有多条指令,所述指令适于由处理器加载并执行上述的方法步骤。
[0020]第四方面,本申请实施例提供一种电子设备,可包括:处理器和存储器;其中,所述存储器存储有计算机程序,所述计算机程序适于由所述处理器加载并执行上述的方法步骤。
[0021]本申请一些实施例提供的技术方案带来的有益效果至少包括:
[0022]在本申请一个或多个实施例中,基于投影组件中镜头的初始旋转角获取旋转角集合,针对参考平面获取旋转角集合中各旋转角对应的相位误差分布和各旋转角对应的相位误差方差,获取各旋转角对应的相位误差方差中的最小方差,将最小方差对应的旋转角确定为期望旋转角,将投影组件的镜头调整至期望旋转角,采用投影组件向参考平面上的待测物体投射光栅条纹,采用摄像组件对待测物体进行表面成像处理。通过获取拥有最小方差的相位误差分布所对应的期望旋转角,以期望旋转角投射的光栅条纹的条纹对比度更高,摄像组件获取到的图像中的噪声和坏点更少,从而使得获取到的物体表面成像的清晰度、准确度更高。
附图说明
[0023]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0024]图1是本申请实施例提供的一种表面成像处理的举例示意图;
[0025]图2是本申请实施例提供的一种表面成像方法的流程示意图;
[0026]图3是本申请实施例提供的一种表面成像方法的流程示意图;
[0027]图4是本申请实施例提供的一种旋转角集合获取的举例示意图;
[0028]图5是本申请实施例提供的一种成像设备的结构示意图;
[0029]图6是本申请实施例提供的一种表面成像装置的结构示意图;
[0030]图7是本申请实施例提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0031]下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他
实施例,都属于本申请保护的范围。
[0032]在本申请的描述中,需要理解的是,术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。在本申请的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,“包括”和“具有”以及它们任何变形,意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元,而是可选地还包括没有列出的步骤或单元,或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其他步骤或单元。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。此外,在本申请的描述中,除非另有说明,“多个”是指两个或两个以上。“和/或”,描述关联对象的关联关系,表示可以存在三种关系,例如,A和/或B,可以表示:单独存在A,同时存在A和B,单独存在B这三种情况。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
[0033]本申请实施例提供的表面成像方法可依赖于计算机程序实现,可运行于基于冯诺依曼体系的表面成像装置上。该计算机程序可集成在应用中,也可作为独立的工具类应用运行。本申请实施例中的成像设备包括投影组件和摄像组件,投影组件为成像设备中具有投影功能的组件,可以将光栅条纹投射到参考平面上,摄像组件为成像设备中具有采集可视范围内图像或视频的组件,可以获取参考平面范围内的光栅条纹图。请参见图1,为本申请实施例提供了一种表面成像处理的举例示意图,将需要进行表面成像处理的待测物体放在参考平面上,投影组本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种表面成像方法,应用于成像设备中,所述成像设备包括投影组件和摄像组件,其特征在于,所述方法包括:获取所述投影组件中镜头的初始旋转角,基于所述初始旋转角获取包含至少两个旋转角的旋转角集合;针对参考平面,获取所述旋转角集合中各旋转角对应的相位误差分布;基于所述各旋转角对应的相位误差分布,获取所述各旋转角对应的相位误差方差;获取所述各旋转角对应的相位误差方差中的最小方差,将所述最小方差对应的旋转角确定为期望旋转角;将所述投影组件的镜头调整至所述期望旋转角,采用所述投影组件向所述参考平面上的待测物体投射光栅条纹,采用所述摄像组件对所述待测物体进行表面成像处理。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取所述投影组件中镜头的初始旋转角,基于所述初始旋转角获取包含至少两个旋转角的旋转角集合,包括:获取所述投影组件中镜头的初始旋转角;以所述初始旋转角为零点,第一角度为步长获取满足预设数目的第一旋转角,所述第一角度大于零;以所述初始旋转角为零点,第二角度为步长获取满足所述预设数目的第二旋转角,所述第二角度小于零;基于所述初始旋转角、所述第一旋转角和所述第二旋转角生成旋转角集合。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述针对参考平面,获取所述旋转角集合中各旋转角对应的相位误差分布,包括:针对参考平面,获取所述旋转角集合中的目标旋转角对应的目标参考相位分布;对所述目标参考相位分布进行曲面拟合获取目标期望相位分布;对所述目标参考相位分布和所述目标期望相位分布作差,获取所述目标旋转角对应的目标相位误差分布。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述针对参考平面,获取所述旋转角集合中的目标旋转角对应的目标参考相位分布,包括:将所述投影组件的镜头调整至所述旋转角集合中的目标旋转角,采用所述投影组件向参考平面投射光栅条纹;基于所述摄像组件针对所述光栅条纹采集到的至少三个光栅条纹图,获取所述目标旋转角对应的目标参考相位分布。5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述对所述目标参考相位分布进行曲面拟合获取目标期望相位分布,包括:采用最小二乘法对所述目...

【专利技术属性】
技术研发人员:李玉鹏伍俊龙
申请(专利权)人:广州视源人工智能创新研究院有限公司
类型:发明
国别省市:

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