一种用于缺陷检测的探头、装置、方法及电子设备制造方法及图纸

本申请提供一种用于缺陷检测的探头、装置、方法及电子设备。用于缺陷检测的探头可以包括：基板、发射单元和接收单元，基板具有彼此相背的第一表面和第二表面，发射单元设置在第一表面，接收单元的至少部分设置在第二表面，接收单元能够接收发射单元的磁场信号，接收单元包括：第一接收线圈和第二接收线圈，第一接收线圈的至少部分和第二接收线圈的至少部分分别与第二表面连接，第一接收线圈中至少部分沿第一方向延伸且至少部分沿与第一方向垂直的第二方向延伸，第二接收线圈中至少部分沿第一方向延伸且至少部分沿第二方向延伸，第一接收线圈和第二接收线圈在第二表面呈中心对称设置，且第一接收线圈和第二接收线圈以差分方式连接。式连接。式连接。

【技术实现步骤摘要】
一种用于缺陷检测的探头、装置、方法及电子设备


[0001]本申请涉及管道缺陷检测
，尤其涉及一种用于缺陷检测的探头、装置、方法及电子设备。

技术介绍

[0002]管道是重要的运输工具之一，比如：天然气和石油等通常都是通过管道来完成运输的。
[0003]管道在长期工作的过程中受到地质灾害、腐蚀、压力等因素的影响会产生裂缝缺陷，若缺陷没能及时检测并修复可能导致管道出现泄漏等事故。
[0004]由于管道的缺陷分为轴向缺陷和垂直于轴向的缺陷，而目前对这两种缺陷的检测需要分别用到对应轴向缺陷检测的探头和对应垂直轴向缺陷检测的探头，从而导致管道缺陷检测的效率低且成本高。

技术实现思路

[0005]有鉴于此，本申请提供一种用于缺陷检测的探头及装置，主要解决的技术问题是：由于管道的缺陷分为轴向缺陷和垂直于轴向的缺陷，而目前对这两种缺陷的检测需要分别用到对应轴向缺陷检测的探头和对应垂直轴向缺陷检测的探头，从而导致管道缺陷检测的效率低且成本高。
[0006]第一方面，本申请实施例提供一种用于缺陷检测的探头，所述用于缺陷检测的探头可以包括：基板、发射单元和接收单元，所述基板具有彼此相背的第一表面和第二表面，所述发射单元设置在所述第一表面，所述接收单元的至少部分设置在所述第二表面，所述接收单元能够接收所述发射单元的磁场信号，所述接收单元包括：第一接收线圈和第二接收线圈，所述第一接收线圈的至少部分和所述第二接收线圈的至少部分分别与所述第二表面连接，所述第一接收线圈中至少部分沿第一方向延伸且至少部分沿与所述第一方向垂直的第二方向延伸，所述第二接收线圈中至少部分沿所述第一方向延伸且至少部分沿所述第二方向延伸，所述第一接收线圈和所述第二接收线圈在所述第二表面呈中心对称设置，且所述第一接收线圈和所述第二接收线圈以差分方式连接。
[0007]在一些实施例中，所述发射单元在所述第一表面呈扁平状；所述接收单元在所述第二表面呈扁平状。
[0008]在一些实施例中，所述第一接收线圈呈L形或U形；所述第二接收线圈呈L形或U形。
[0009]在一些实施例中，所述发射单元包括：发射线圈，所述发射线圈的外轮廓呈矩形，且所述发射线圈中的部分第一表面露出；其中，所述第一接收线圈内圈的端部穿过所述基板并自所述第一部分第一表面露出，且自对应所述第一接收线圈的外圈穿回至所述第二表面侧；所述第二接收线圈内圈的端部穿过所述基板并自所述第二部分第一表面露出，且自对应所述第二接收线圈的外圈穿回至所述第二表面侧。
[0010]在一些实施例中，所述第一表面的第一边缘设置有第一接线端子和第二接线端
子，所述第二表面的第二边缘设置有第三接线端子、第四接线端子及第五接线端子，所述第二边缘和所述第一边缘彼此相背；其中，所述发射线圈的两端分别与所述第一接线端子和所述第二接线端子连接，所述第一接收线圈的两端分别与所述第三接线端子和所述第四接线端子连接，所述第二接收线圈的两端分别与所述第四接线端子和所述第五接线端子连接。
[0011]在一些实施例中，所述接收单元的外轮廓至所述发射单元的正投影与所述发射单元的外轮廓重合。
[0012]在一些实施例中，所述基板为矩形的印刷电路板。
[0013]第二方面，本申请提供一种用于缺陷检测的装置，所述用于缺陷检测的装置可以包括：固定杆和上述中任一项所述的用于缺陷检测的探头，所述固定杆轴向上的多个位置分别设置有固定结构，所述固定结构包括：多个固定部，所述多个固定部绕所述固定杆一圈；其中，每一个所述固定部上设置有所述用于缺陷检测的探头，且所述固定部上所设置的用于缺陷检测的探头中，基板的第一表面位于所述基板靠近所述固定杆的一侧。
[0014]在一些实施例中，所述用于缺陷检测的装置还可以包括：电路板，所述电路板设置有信号源、功率放大电路、接收电路、锁相解调电路及放大电路，所述信号源、所述功率放大电路、所述用于缺陷检测的探头的发射单元、所述用于缺陷检测的探头的接收单元、所述接收电路、所述锁相解调电路及所述放大电路依次连接。
[0015]在一些实施例中，相邻两个所述固定结构之间彼此间隔开。
[0016]在一些实施例中，多个所述固定结构在所述固定杆的轴向上均匀分布。
[0017]第三方面，本申请提供一种用于缺陷检测的方法，所述用于缺陷检测的方法可以包括：将发射单元与信号源连接，将接收单元与接收电路连接，将上述中任一项所述的用于缺陷检测的探头置于待测管道表面或沿着待测管道表面平行移动；或，将上述中任一项所述的用于缺陷检测的装置置于待测管道表面或沿着待测管道表面平行移动；若所述接收电路的输出值为零，则所述待测管道无缺陷；若所述接收电路的输出值不为零，则所述待测管道有缺陷。
[0018]第四方面，本申请提供一种电子设备，所述电子设备可以包括：处理器、存储器、总线；其中，所述处理器、所述存储器通过所述总线完成相互间的通信；所述处理器用于调用所述存储器中的程序指令，以执行如上述中所述的方法。
[0019]第五方面，本申请提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质包括：存储的程序；其中，在所述程序运行时控制所述存储介质所在设备执行如上述中任一项所述的方法。
[0020]本申请提供一种用于缺陷检测的探头、装置、方法及电子设备，通过在第一接收线圈上设置沿第一方向延伸的部分和沿第二方向延伸的部分，并在第二接收线圈上设置沿第一方向延伸的部分和沿第二方向延伸的部分，且第一接收线圈和第二接收线圈的中心对称设置，使得无论待测管道的缺陷是轴向还是垂直轴向的，第一接收线圈和第二接收线圈的感应电动势均不满足相等条件，均有差分电动势输出，因此该用于缺陷检测的探头对轴向和垂直于轴向的缺陷均具有敏感性，由此可以通过用于缺陷检测的探头同时对管道的轴向和垂直于轴向两个方向的缺陷进行检测，由此能够降低管道缺陷检测的成本，同时能够提升检测效率，且使用时便捷。
[0021]上述说明仅是本申请技术方案的概述，为了能够更清楚了解本申请的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本申请的较佳实施例并配合附图详细说明如后。
附图说明
[0022]为了更清楚地说明本公开实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0023]图1为本申请实施例的用于缺陷检测的探头(第一视角)的示意图；
[0024]图2为本申请实施例的用于缺陷检测的探头(第二视角)的示意图；
[0025]图3为本申请实施例的用于缺陷检测的探头(第三视角)的示意图；
[0026]图4为本申请实施例的用于缺陷检测的装置的结构示意图；
[0027]图5为本申请实施例的用于缺陷检测的装置的电路图；
[0028]图6为本申请实施例的用于缺陷检测的装置的连接示意图；
[002本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于缺陷检测的探头，其特征在于，包括：基板，具有彼此相背的第一表面和第二表面；发射单元，所述发射单元设置在所述第一表面；和，接收单元，所述接收单元的至少部分设置在所述第二表面，所述接收单元能够接收所述发射单元的磁场信号，所述接收单元包括：第一接收线圈和第二接收线圈，所述第一接收线圈的至少部分和所述第二接收线圈的至少部分分别与所述第二表面连接，所述第一接收线圈中至少部分沿第一方向延伸且至少部分沿与所述第一方向垂直的第二方向延伸，所述第二接收线圈中至少部分沿所述第一方向延伸且至少部分沿所述第二方向延伸，所述第一接收线圈和所述第二接收线圈在所述第二表面呈中心对称设置，且所述第一接收线圈和所述第二接收线圈以差分方式连接。2.根据权利要求1所述的用于缺陷检测的探头，其特征在于，所述发射单元在所述第一表面呈扁平状；所述接收单元在所述第二表面呈扁平状。3.根据权利要求2所述的用于缺陷检测的探头，其特征在于，所述第一接收线圈呈L形或U形；所述第二接收线圈呈L形或U形。4.根据权利要求3所述的用于缺陷检测的探头，其特征在于，所述发射单元包括：发射线圈，所述发射线圈的外轮廓呈矩形，且所述发射线圈中第一部分第一表面和第二部分第一表面露出；其中，所述第一接收线圈内圈的端部穿过所述基板并自所述第一部分第一表面露出，且自对应所述第一接收线圈的外圈穿回至所述第二表面侧；所述第二接收线圈内圈的端部穿过所述基板并自所述第二部分第一表面露出，且自对应所述第二接收线圈的外圈穿回至所述第二表面侧。5.根据权利要求4所述的用于缺陷检测的探头，其特征在于，所述第一表面的第一边缘设置有第一接线端子和第二接线端子，所述第二表面的第二边缘设置有第三接线端子、第四接线端子及第五接线端子，所述第二边缘和所述第一边缘彼此相背；其中，所述发射线圈的两端分别与所述第一接...

【专利技术属性】
技术研发人员：宋汉成，张理飞，吴冠霖，颜廷伟，张春娟，李锦浩，
申请(专利权)人：通奥检测集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：