射频性能测试装置制造方法及图纸

技术编号:37600093 阅读:10 留言:0更新日期:2023-05-18 11:50
本实用新型专利技术提供了一种射频性能测试装置,涉及射频性能测试技术领域。射频性能测试装置包括:箱体、托盘件和设备支撑件;箱体的一侧设有供托盘件进出的测试窗口;设备支撑件位于托盘件上,并能够随托盘件进出箱体;设备支撑件具有至少两个固定待测试电子设备的固定部;当至少两个待测试电子设备分别固定在设备支撑件上时,至少两个待测试电子设备中任意两个待测试电子设备的射频天线的电磁场方向相互垂直。本实用新型专利技术的射频性能测试装置,利用高隔离度实现任意两个待测试电子设备的混响耦合值最低,从而保证射频性能测试结果的精确性。从而保证射频性能测试结果的精确性。从而保证射频性能测试结果的精确性。

【技术实现步骤摘要】
射频性能测试装置


[0001]本技术涉及射频性能
,特别涉及一种射频性能测试装置。

技术介绍

[0002]无线通信是诸多电子设备(如手机、平板电脑等)的必备功能,电子设备在产线装配完成后,需要对其射频天线的通信能力进行测试。
[0003]相关技术中为了提高测试效率,通常采用两台或以上的电子设备同时测试。这样虽然提高了测试效率,但是由于测试装置内部空间较小,电子设备放置距离较近,同频段天线或二次谐波以及三次谐波会产生强耦合,使得天线测试环境恶劣,测试结果不够精确。

技术实现思路

[0004]本技术提供了一种射频性能测试装置,能够解决射频性能测试结果不够精确的问题。
[0005]所述技术方案如下:
[0006]一种射频性能测试装置,所述射频性能测试装置包括:箱体、托盘件和设备支撑件;
[0007]所述箱体的一侧设有供所述托盘件进出的测试窗口;
[0008]所述设备支撑件位于所述托盘件上,并能够随所述托盘件进出所述箱体;所述设备支撑件具有至少两个固定待测试电子设备的固定部;
[0009]当至少两个待测试电子设备分别固定在所述设备支撑件上时,所述至少两个待测试电子设备中任意两个待测试电子设备的射频天线的电磁场方向相互垂直。
[0010]在一些实施例中,所述设备支撑件包括第一支撑面和第二支撑面;
[0011]所述第一支撑面设有第一固定部,所述第一固定部用于固定第一待测试电子设备;所述第二支撑面设有第二固定部,所述第二固定部用于固定第二待测试电子设备;
[0012]所述第一待测试电子设备的射频天线的电磁场方向与所述第二待测试电子设备的电磁场方向相互垂直。
[0013]在一些实施例中,所述第一支撑面的底端与所述托盘件的顶面连接,所述第二支撑面的底端与所述托盘件的顶面连接;所述第一支撑面的顶端与所述第二支撑面的顶端分别朝向所述托盘件的上方倾斜延伸。
[0014]在一些实施例中,所述第一支撑面和所述第二支撑面中的至少之一与所述托盘件的顶面活动连接,以使得所述第一待测试电子设备和所述第二待测试电子设备的电磁场方向角度可调。
[0015]在一些实施例中,所述固定部包括至少两个活动固定块,所述至少两个活动固定块分别与所述设备支撑件活动连接,所述至少两个活动固定块用于固定所述待测试电子设备;
[0016]所述固定部被配置为,通过调节所述至少两个活动固定块的相对位置实现对不同
形状的所述待测试电子设备进行固定,或者将所述待测试电子设备固定在不同姿态。
[0017]在一些实施例中,所述至少两个活动固定块与所述设备支撑件的连接方式为磁吸连接、卡接连接、插接连接、粘接连接中的至少一种。
[0018]在一些实施例中,所述固定部为设置在所述设备支撑件表面的凹槽结构,所述固定部的形状与所述待测试电子设备的形状相同。
[0019]在一些实施例中,所述第一待测试电子设备内设有第一射频天线和第二射频天线;
[0020]所述第一射频天线位于所述第一待测试电子设备的顶部,所述第一射频天线的电磁场方向为沿所述第一待测试电子设备的顶部向上辐射;所述第二射频天线位于所述第一待测试电子设备的底部,所述第二射频天线的电磁场方向为沿所述第一待测试电子设备的底部向显示面所在侧或非显示面所在侧辐射;
[0021]所述第二待测试电子设备包括内设有第三射频天线和第四射频天线;
[0022]所述第三射频天线位于所述第二待测试电子设备的顶部,所述第三射频天线的电磁场方向为沿所述第二待测试电子设备的顶部向上辐射;所述第四射频天线位于所述第二待测试电子设备的底部,所述第四射频天线的电磁场方向为沿所述第二待测试电子设备的底部向显示面所在侧或非显示面所在侧辐射。
[0023]在一些实施例中,所述第一支撑面的顶端和所述第二支撑面的顶端垂直连接,或延长线垂直相交;
[0024]所述第一待测试电子设备的顶部靠近所述第一支撑面的顶端,所述第一待测试电子设备的底部靠近所述第一支撑面的底端;
[0025]所述第二待测试电子设备的顶部靠近所述第二支撑面的顶端,所述第二待测试电子设备的底部靠近所述第二支撑面的底端。
[0026]在一些实施例中,所述射频性能测试装置还包括综合测试仪和至少一个测试天线;
[0027]所述至少一个测试天线位于所述箱体内部,所述至少一个测试天线分别与所述综合测试仪电性连接,所述综合测试仪用于控制所述至少一个测试天线发送和接收射频信号。
[0028]在一些实施例中,所述射频性能测试装置还包括驱动件,所述驱动件分别与所述箱体和所述托盘件连接,所述驱动件用于驱动所述托盘件进出所述测试窗口。
[0029]本技术提供的技术方案带来的有益效果至少包括:
[0030]本技术的射频性能测试装置,适用于电子设备的射频性能的产线测试,一次实现两个或以上的待测试电子设备的性能测试,任意两个待测试电子设备的射频天线的电磁场方向相互垂直,则两个射频天线之间的阻抗为零,从而使得两个射频天线之间的隔离度最高;从电场角度来说,两个射频天线之间的电场相互垂直,两个射频天线中的激励天线在耦合天线中的电动势为零,因此隔离度最高;从而,利用高隔离度实现任意两个待测试电子设备的混响耦合值最低,从而保证射频性能测试结果的精确性。
附图说明
[0031]为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需
要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0032]图1是本技术实施例提供的射频性能测试装置的结构示意图;
[0033]图2是本技术实施例提供的射频性能测试装置的内部结构示意图;
[0034]图3是本技术实施例提供的待测试电子设备的电磁场方向示意图;
[0035]图4是本技术另一实施例提供的设备支撑件的结构示意图;
[0036]图5是本技术实施例提供的第一支撑面或第二支撑面的结构示意图;
[0037]图6是相关技术中采用的两台及以上电子设备测试场景图。
[0038]图中的附图标记分别表示为:
[0039]1、箱体;11、测试窗口;
[0040]2、托盘件;21、定位部;
[0041]3、设备支撑件;301、第一支撑面;302、第二支撑面;303、插孔阵列;31、固定部;3101、活动固定块;311、第一固定部;312、第二固定部;
[0042]4、待测试电子设备;41、第一待测试电子设备;411、第一射频天线;412、第二射频天线;42、第二待测试电子设备;421、第三射频天线;422、第四射频天线;
[0043]5、综合测试仪;6、测试天线;
[0044]7、驱动件。
具体实施方式
[0本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种射频性能测试装置,其特征在于,所述射频性能测试装置包括:箱体(1)、托盘件(2)和设备支撑件(3);所述箱体(1)的一侧设有供所述托盘件(2)进出的测试窗口(11);所述设备支撑件(3)位于所述托盘件(2)上,并能够随所述托盘件(2)进出所述箱体(1);所述设备支撑件(3)具有至少两个固定待测试电子设备(4)的固定部(31);当至少两个待测试电子设备(4)分别固定在所述设备支撑件(3)上时,所述至少两个待测试电子设备(4)中任意两个待测试电子设备(4)的射频天线的电磁场方向相互垂直。2.根据权利要求1所述的射频性能测试装置,其特征在于,所述设备支撑件(3)包括第一支撑面(301)和第二支撑面(302);所述第一支撑面(301)设有第一固定部(311),所述第一固定部(311)用于固定第一待测试电子设备(41);所述第二支撑面(302)设有第二固定部(312),所述第二固定部(312)用于固定第二待测试电子设备(42);所述第一待测试电子设备(41)的射频天线的电磁场方向与所述第二待测试电子设备(42)的电磁场方向相互垂直。3.根据权利要求2所述的射频性能测试装置,其特征在于,所述第一支撑面(301)的底端与所述托盘件(2)的顶面连接,所述第二支撑面(302)的底端与所述托盘件(2)的顶面连接;所述第一支撑面(301)的顶端与所述第二支撑面(302)的顶端分别朝向所述托盘件(2)的上方倾斜延伸。4.根据权利要求3所述的射频性能测试装置,其特征在于,所述第一支撑面(301)和所述第二支撑面(302)中的至少之一与所述托盘件(2)的顶面活动连接,以使得所述第一待测试电子设备(41)和所述第二待测试电子设备(42)的电磁场方向角度可调。5.根据权利要求1所述的射频性能测试装置,其特征在于,所述固定部(31)包括至少两个活动固定块(3101),所述至少两个活动固定块(3101)分别与所述设备支撑件(3)活动连接,所述至少两个活动固定块(3101)用于固定所述待测试电子设备(4);所述固定部(31)被配置为,通过调节所述至少两个活动固定块(3101)的相对位置实现对不同形状的所述待测试电子设备(4)进行固定,或者将所述待测试电子设备(4)固定在不同姿态。6.根据权利要求5所述的射频性能测试装置,其特征在于,所述至少两个活动固定块(3101)与所述设备支撑件(3)的连接方式为磁吸连接、卡接连接、插接连接、粘接连接中的至少一种...

【专利技术属性】
技术研发人员:周伟伟
申请(专利权)人:北京小米移动软件有限公司
类型:新型
国别省市:

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