采样控制方法、相关设备及存储介质技术

本申请公开了一种采样控制方法、相关设备及存储介质，所述方法包括：获得对N个采样通道的采样指令，所述N个采样通道对应有采样控制信息，所述采样控制信息为通过对所述N个采样通道的配置信息而得到，所述配置信息表征所述N个采样通道中各采样通道的预期采样频率；所述N为大于或等于2的正整数；从所述采样指令指示的采样起始时间开始，在所述N个采样通道的每个目标采样周期内，按照所述采样控制信息指示的在所述N个采样通道的单个目标采样周期内各采样通道的目标采样间隔，控制采样器对各采样通道进行通道数据的采样，以实现对各采样通道的预期采样频率的采样。道的预期采样频率的采样。道的预期采样频率的采样。

【技术实现步骤摘要】
采样控制方法、相关设备及存储介质


[0001]本申请涉及数据处理
，尤其涉及一种采样控制方法、相关设备及存储介质。

技术介绍

[0002]相关技术中，采样器可对采样通道进行通道数据的采样，以方便实现对通道数据的监控。在采样通道的数量有限，如为两个或三个的情况下，可设置两个或三个采样器，用于进行各自对应的采样通道的通道数据的采样。但，这种设置多个采样器的方式，一方面造成了硬件成本的增加，另一方面不适于采样通道的数量较多这种情形的使用。

技术实现思路

[0003]本申请提供了一种采样控制方法、采样控制器、驾驶设备、电子设备及存储介质，以至少解决现有技术中存在的以上技术问题。
[0004]根据本申请的第一方面，提供了一种采样控制方法，应用于采样控制器中，所述方法包括：获得对N个采样通道的采样指令，所述N个采样通道对应有采样控制信息，所述采样控制信息为通过对所述N个采样通道的配置信息而得到，所述配置信息表征所述N个采样通道中各采样通道的预期采样频率；所述N为大于或等于2的正整数；从所述采样指令指示的采样起始时间开始，在所述本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种采样控制方法，其特征在于，应用于采样控制器中，所述方法包括：获得对N个采样通道的采样指令，所述N个采样通道对应有采样控制信息，所述采样控制信息为通过对所述N个采样通道的配置信息而得到，所述配置信息表征所述N个采样通道中各采样通道的预期采样频率；所述N为大于或等于2的正整数；从所述采样指令指示的采样起始时间开始，在所述N个采样通道的每个目标采样周期内，按照所述采样控制信息指示的在所述N个采样通道的单个目标采样周期内各采样通道的目标采样间隔，控制采样器对各采样通道进行通道数据的采样，以实现对各采样通道的预期采样频率的采样。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在所述N个采样通道的每个目标采样周期内，按照所述采样控制信息指示的在所述N个采样通道的单个目标采样周期内各采样通道的目标采样间隔，控制采样器对各采样通道进行通道数据的采样，包括：在所述N个采样通道的每个目标采样周期内，按照所述采样控制信息指示的在所述N个采样通道的单个目标采样周期内各采样通道的目标采样间隔以及各采样通道的目标采样顺序，控制采样器对各采样通道进行通道数据的采样。3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，还包括：基于所述各采样通道的总数量和预设的基础采样周期，得到所述目标采样周期；和/或，基于各采样通道的预期采样周期，得到所述目标采样周期，其中所述各采样通道的预期采样周期通过各采样通道的预期采样频率而得到。4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，还包括：基于各采样通道的预期采样周期以及所述各采样通道的总数量，对所述目标采样周期进行划分，得到多个采样子周期；其中，每个采样子周期用于对N个采样通道中的其中之一采样通道进行通道数据的采样；所述各采样通道的预期采样周期通过各采样通道的预期采样频率而得到；基于各采样通道的预期采样频率和各采样子周期对应的时长，确定各采样通道的目标采样间隔。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于各采样通道的预期采样周期以及所述各采样通道的总数量，对所述目标采样周期进行划分，得到多个采样子周期，包括：基于各采样通道的预期采样周期和所述各采样通道的总数量，对所述目标采样周期进行等间隔划分，得到多个采样子周期。6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于各采样通道的预期采样周期以及所述各采样通道的总数量，对所述目标采样周期进行划分，得到多个...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘雄飞，巩少辉，黄小奇，张新伟，
申请(专利权)人：上海励驰半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：