一种DUT上电波形控制系统、电路、方法及设备技术方案

本发明专利技术公开了一种DUT上电波形控制系统、电路、方法及设备，其系统包括主控模块用于接收外部输入的上电波形预期参数，根据上电波形预期参数计算并输出对应的电源控制参数；电源参数调节模块与主控模块和输入电源连接，包括若干RC调节单元，用于根据电源控制参数调节各个RC调节单元的接入状态，改变输入电源的输出电压斜率和输出电压初始值；DUT用于接收输入电源经过电源参数调节模块调节后的输出电压，并将DUT根据当前输出电压进行测试后得到的DUT工况参数输出至主控模块；主控模块根据DUT工况参数输出DUT测试结果，并迭代电源控制参数直至满足预设的测试结束条件。本发明专利技术可以提高DUT测试灵活性和准确度。高DUT测试灵活性和准确度。高DUT测试灵活性和准确度。

【技术实现步骤摘要】
一种DUT上电波形控制系统、电路、方法及设备


[0001]本专利技术涉及芯片测试
，特别涉及一种DUT上电波形控制系统、电路、方法及设备。

技术介绍

[0002]根据外部供电电路类型不同，被测器件（device under test，DUT）在连接不同外部供电电路时会产生不同类型的上电波形，不同类型的上电波形会对DUT产生不同影响，严重时甚至会造成DUT死机，导致DUT无法正常工作。因此在被测器件的测试过程中需要模拟不同的上电波形输入至DUT，预先判断导致DUT死机的上电条件。
[0003]目前通常在DUT测试过程中采用波形发生器模拟外部供电电路产生的上电波形，但是常见波形发生器只能发出固定的几种波形，如正弦波、三角波等，且波形发生器的输出功率有限，在DUT测试过程中作为DUT的供电电源效果较差。
[0004]因此目前需要一种DUT上电波形控制系统，实现DUT上电过程自动测试的效果，同时在测试过程中以任意斜率和任意残压的上电波形给DUT供电，提高DUT测试灵活性和准确度。

技术实现思路

[0005]为解决D本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种DUT上电波形控制系统，其特征在于，包括：主控模块，用于接收外部输入的上电波形预期参数，根据所述上电波形预期参数计算并输出对应的电源控制参数；电源参数调节模块，与所述主控模块和输入电源连接，包括若干RC调节单元，用于接收所述电源控制参数并根据所述电源控制参数调节各个所述RC调节单元的接入状态，改变所述输入电源经过所述电源参数调节模块的输出电压斜率和输出电压初始值；DUT，与所述电源参数调节模块连接，用于接收所述输入电源经过所述电源参数调节模块调节后的输出电压，并将所述DUT根据当前所述输出电压进行测试后得到的DUT工况参数输出至所述主控模块；所述主控模块根据所述DUT工况参数输出DUT测试结果，并迭代所述电源控制参数直至满足预设的测试结束条件。2.根据权利要求1所述的一种DUT上电波形控制系统，其特征在于，各个所述RC调节单元的结构及元件参数相同，每个所述RC调节单元均包括调节电阻、调节电容和调节继电器；所述电源控制参数包括各个所述RC调节单元中所述调节继电器的开合状态信息；所述电源参数调节模块根据所述电源控制参数控制所述RC调节单元的接入数量。3.根据权利要求1所述的一种DUT上电波形控制系统，其特征在于，各个所述RC调节单元的结构相同，每个所述RC调节单元均包括调节电阻、调节电容和调节继电器；各个所述RC调节单元中所述调节电阻的元件参数均不同；各个所述RC调节单元中所述调节电容的元件参数均不同；根据所述调节电阻和所述调节电容的元件参数，各个所述RC调节单元与不同所述上电波形预期参数一一对应；所述电源控制参数包括各个所述RC调节单元中所述调节继电器的开合状态信息；所述电源参数调节模块根据所述电源控制参数控制各个所述RC调节单元的接入状态。4.根据权利要求2或3所述的一种DUT上电波形控制系统，其特征在于，所述上电波形预期参数包括预期电压斜率和预期电压初始值；所述主控模块根据所述预期电压斜率计算并输出所述电源控制参数。5.根据权利要求4所述的一种DUT上电波形控制系统，其特征在于，所述主控模块在所述DUT初始化结束后，根据所述预期电压初始值确定DUT上电时间；所述主控模块根据所述DUT上电时间和所述预期电压斜率计算并输出所述电源控制参数，在经过预设执行时间后接收所述DUT工况参数；所述主控模块在所述DUT工况参数满足预设的参数条件时，迭代所述电源控制参数直至满足所述测试结束条件，在所述DUT工况参数不满足所述参数条件时，输出DUT测试异常信息，所述D...

【专利技术属性】
技术研发人员：请求不公布姓名，
申请(专利权)人：上海灵动微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：