测试方法、系统、芯片、电子设备及存储介质技术方案

本发明专利技术公开了一种测试方法、系统、芯片、电子设备及存储介质，其中，所述测试方法包括：获取芯片的测试数据和当前的运行状态；基于所述测试数据和所述运行状态对应的测试策略对所述芯片进行测试，以得到所述芯片的测试结果；在能够实现自动测试芯片的基础上，进一步结合当前芯片的运行状态所对应的测试策略对芯片进行测试，使得所测数据能够贴合真实使用场景，进而不仅能够缩短测试时间提高测试效率，节省测试人力成本，还能够提高芯片的测试结果的可靠性。的可靠性。的可靠性。

【技术实现步骤摘要】
测试方法、系统、芯片、电子设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及测试
，特别涉及一种测试方法、系统、芯片、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]在芯片，例如，中央处理器(Central Processing Unit，CPU)运行时，如果CPU电压过高则系统功耗增加；CPU频率过低则系统运行速度变慢；而频率过高又电压不足则又会引起系统运行挂死；CPU负荷高时要求频率高些，CPU负荷低时不需频率高，反而需要看能不能频率小些而起到降低功耗。因此，在芯片开发阶段，需要通过一系列测试来获取芯片的性能数据，进而定义芯片的工作参数与规格。
[0003]而目前芯片的性能测试方式是通过测试人员在终端开机后，使用adb(Android Debug Bridge，Android调试桥)或基于adb的PC(personal computer，个人电脑)工具，通过CPUFreq(一种驱动)驱动支持的频率或电压节点来修改CPU频率、电压；并结合上次测试结果，多次修改其他频率/电压值，测试出最优的性能频率/电压状态。而上述方法不仅需人工通过adb逐个修改频率/电压来测试出最优的频率/电压值，还时不时的观察手机状态来判断某组数据的测试结果，效率低且容易误操作。

技术实现思路

[0004]本专利技术要解决的技术问题是为了克服现有技术中的上述缺陷，提供一种测试方法、系统、芯片、电子设备及存储介质。
[0005]本专利技术是通过下述技术方案来解决上述技术问题：
[0006]本专利技术提供一种测试方法，所述测试方法包括：
[0007]获取芯片的测试数据和当前的运行状态；
[0008]基于所述测试数据和所述运行状态对应的测试策略对所述芯片进行测试，以得到所述芯片的测试结果。
[0009]较佳地，所述测试数据包括预设电压和预设频率；
[0010]所述基于所述测试数据和所述运行状态对应的测试策略对所述芯片进行测试，包括：
[0011]根据所述运行状态判断所述芯片是否触发重启；
[0012]若是，以预设第一步长在预设电压的基础上逐渐增加电压，并与预设频率组合对所述芯片进行测试；
[0013]若否，以所述预设第一步长在所述预设电压的基础上逐渐减小电压，并与所述预设频率组合对所述芯片进行测试；
[0014]确定出所述芯片在所述预设频率下对应的第一临界电压。
[0015]较佳地，所述测试数据包括预设电压和预设频率；
[0016]所述基于所述测试数据和所述运行状态对应的测试策略对所述芯片进行测试，还
包括：
[0017]根据所述运行状态判断所述芯片是否触发重启；
[0018]若是，以预设第二步长在所述预设频率的基础上逐渐减小频率，并与预设电压组合对所述芯片进行测试；
[0019]若否，以所述预设第二步长在所述预设频率的基础上逐渐增加频率，并与所述预设电压组合对所述芯片进行测试；
[0020]确定出所述芯片在所述预设电压下对应的第一临界频率。
[0021]较佳地，所述基于所述测试数据和所述运行状态对应的测试策略对所述芯片进行测试，包括：
[0022]根据所述运行状态判断所述芯片的温度是否小于预设温度阈值；或，根据所述运行状态判断所述芯片在当前温度下是否未触发重启；
[0023]若是，以预设第三步长在预设频率的基础上逐渐增加频率，并与预设电压组合对所述芯片进行测试；
[0024]若否，以所述预设第三步长在所述预设频率的基础逐渐上减小频率，并与所述预设电压组合对所述芯片进行测试；
[0025]确定出所述芯片在所述预设电压对应的第二临界频率；其中，所述预设第三步长大于预设第二步长。
[0026]较佳地，所述基于所述测试数据和所述运行状态对应的测试策略对所述芯片进行测试，包括：
[0027]根据所述运行状态确定所述芯片在当前负荷下是否触发重启；
[0028]若是，以预设第四步长在预设频率的基础上逐渐减小频率，并与预设电压组合对所述芯片进行测试；
[0029]若否，以所述预设第四步长在所述预设频率的基础逐渐上增加频率，并与所述预设电压组合对所述芯片进行测试；
[0030]确定出所述芯片在所述预设电压对应的第三临界频率；
[0031]和/或，
[0032]若是，以预设第五步长在预设电压的基础上逐渐减小电压，并与所述预设频率组合对所述芯片进行测试；
[0033]若否，以所述预设第五步长在所述预设电压的基础逐渐上增加电压，并与所述预设频率组合对所述芯片进行测试；
[0034]确定出所述芯片在所述预设频率对应的第二临界电压。
[0035]较佳地，所述测试数据包括所述芯片的第一电压、第二电压以及预设频率，所述第一电压小于所述第二电压；
[0036]所述基于所述测试数据和所述运行状态对应的测试策略对所述芯片进行测试，包括：
[0037]将所述第一电压和所述第二电压的中间值作为第三电压；
[0038]基于所述第三电压与所述预设频率组合对所述芯片进行测试，并判断所述芯片是否触发重启；
[0039]若是，则根据所述第二电压和所述第三电压继续进行二分法处理，并进行测试，直
至所述芯片未触发重启；
[0040]若否，则根据所述第一电压和所述第三电压继续进行二分法处理，并进行测试，直至所述芯片触发重启；
[0041]确定出所述芯片在所述预设频率下对应的第三临界电压；
[0042]和/或，
[0043]所述测试数据包括所述芯片的第一频率、第二频率以及预设电压，所述第一频率小于所述第二频率；
[0044]所述基于所述测试数据和所述运行状态对应的测试策略对所述芯片进行测试，包括：
[0045]将所述第一频率和所述第二频率的中间值作为第三频率；
[0046]基于所述第三频率与所述预设电压组合对所述芯片进行测试，并判断所述芯片是否触发重启；
[0047]若是，则根据所述第一频率和所述第三频率继续进行二分法处理，并进行测试，直至所述芯片未触发重启；
[0048]若否，则根据所述第二频率和所述第三频率继续进行二分法处理，并进行测试，直至所述芯片触发重启；
[0049]确定出所述芯片在所述预设电压下对应的第四临界频率。
[0050]较佳地，所述测试方法还包括：
[0051]根据所述测试结果生成频率
‑
电压关系表；
[0052]基于所述频率
‑
电压关系表和预设场景调节所述芯片的工作电压和工作频率。
[0053]本专利技术还提供一种测试系统，所述测试系统包括：
[0054]获取模块，获取芯片的测试数据和当前的运行状态；
[0055]测试模块，基于所述测试数据和所述运行状态对应的测试策略对所述芯片进行测试，以得到所述芯片的测试结果。
[0056]较佳地，所述测试数据包括预设电压和本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试方法，其特征在于，所述测试方法包括：获取芯片的测试数据和当前的运行状态；基于所述测试数据和所述运行状态对应的测试策略对所述芯片进行测试，以得到所述芯片的测试结果。2.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述测试数据包括预设电压和预设频率；所述基于所述测试数据和所述运行状态对应的测试策略对所述芯片进行测试，包括：根据所述运行状态判断所述芯片是否触发重启；若是，以预设第一步长在预设电压的基础上逐渐增加电压，并与预设频率组合对所述芯片进行测试；若否，以所述预设第一步长在所述预设电压的基础上逐渐减小电压，并与所述预设频率组合对所述芯片进行测试；确定出所述芯片在所述预设频率下对应的第一临界电压。3.如权利要求1或2所述的测试方法，其特征在于，所述测试数据包括预设电压和预设频率；所述基于所述测试数据和所述运行状态对应的测试策略对所述芯片进行测试，还包括：根据所述运行状态判断所述芯片是否触发重启；若是，以预设第二步长在所述预设频率的基础上逐渐减小频率，并与预设电压组合对所述芯片进行测试；若否，以所述预设第二步长在所述预设频率的基础上逐渐增加频率，并与所述预设电压组合对所述芯片进行测试；确定出所述芯片在所述预设电压下对应的第一临界频率。4.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述基于所述测试数据和所述运行状态对应的测试策略对所述芯片进行测试，包括：根据所述运行状态判断所述芯片的温度是否小于预设温度阈值；或，根据所述运行状态判断所述芯片在当前温度下是否未触发重启；若是，以预设第三步长在预设频率的基础上逐渐增加频率，并与预设电压组合对所述芯片进行测试；若否，以所述预设第三步长在所述预设频率的基础逐渐上减小频率，并与所述预设电压组合对所述芯片进行测试；确定出所述芯片在所述预设电压对应的第二临界频率；其中，所述预设第三步长大于预设第二步长。5.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述基于所述测试数据和所述运行状态对应的测试策略对所述芯片进行测试，包括：根据所述运行状态确定所述芯片在当前负荷下是否触发重启；若是，以预设第四步长在预设频率的基础上逐渐减小频率，并与预设电压组合对所述芯片进行测试；若否，以所述预设第四步长在所述预设频率的基础逐渐上增加频率，并与所述预设电
压组合对所述芯片进行测试；确定出所述芯片在所述预设电压对应的第三临界频率；和/或，若是，以预设第五步长在预设电压的基础上逐渐减小电压，并与所述预设频率组合对所述芯片进行测试；若否，以所述预设第五步长在所述预设电压的基础逐渐上增加电压，并与所述预设频率组合对所述芯片进行测试；确定出所述芯片在所述预设频...

【专利技术属性】
技术研发人员：汤志锋，黄志鑫，吴文鸣，
申请(专利权)人：厦门紫光展锐科技有限公司，
类型：发明
国别省市：