检测方法、检测装置、电子设备及计算机可读存储介质制造方法及图纸

本申请提供一种检测方法、检测装置、电子设备及计算机可读存储介质，检测方法包括：通过第一取像单元获取工件在第一方向上的投影图像；在第二方向上通过通讯单元或第二取像单元获取工件的目标特征的预设位置及预设位置的目标特征的基础特征参数；依据获取的投影图像，通过驱动单元驱动工件和第二取像单元相对运动，以使第二取像单元沿工件的轮廓运动，并通过第二取像单元在第二方向上参考目标特征的基础特征参数获取目标特征的进阶特征参数；拟合投影图像和目标特征的进阶参数以获取工件的轮廓特征；根据拟合的轮廓特征，判断工件的目标特征是否合格。上述检测方法采用逐级递进的获取方式对工件的目标特征形成清晰的图像，提高了检测的准确度。提高了检测的准确度。提高了检测的准确度。

【技术实现步骤摘要】
检测方法、检测装置、电子设备及计算机可读存储介质


[0001]本申请涉及检测
，具体涉及一种检测方法、检测装置、电子设备及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]检测工件表面的特征(包括整体、位于工件侧面的凹槽及孔深度，或者凸起的高度)时，一般先通过视觉组件直接获得工件的立体图像，然后，处理立体图像以获得工件的轮廓特征。然而，上述检测方法仅能大致测量工件表面的特征的凹槽及孔深度、凸起的高度等参数，无法精确测量凹槽及孔深度、凸起的高度，这是因为在获得轮廓特征的图像时，一般视觉组件的焦距对应于工件的表面，因此在获得工件表面的凹槽、孔或凸起的图像时，由于无法对工件表面的这些特征形成清晰的图像，进而造成测量结果不够精确，因此对于一些精密行业来说这种方法不能满足要求。

技术实现思路

[0003]鉴于以上内容，有必要提供一种检测方法、检测装置、电子设备及计算机可读存储介质，以提高检测的准确度。
[0004]本申请实施例提供一种检测方法，包括：
[0005]通过第一取像单元获取工件在第一方向上的投影图像；
[0006]在垂直于所述第一方向的第二方向上通过通讯单元或第二取像单元获取工件的目标特征的预设位置及预设位置的目标特征的基础特征参数；
[0007]依据获取的所述投影图像，通过驱动单元驱动所述工件和第二取像单元相对运动，以使所述第二取像单元沿所述工件的轮廓运动，并通过第二取像单元在所述第二方向上参考预设位置的目标特征的基础特征参数获取预设位置的目标特征的进阶特征参数；r/>[0008]拟合所述投影图像和预设位置的目标特征的进阶参数以获取所述工件的轮廓特征；
[0009]根据拟合的所述轮廓特征，判断所述工件的目标特征是否合格。
[0010]上述检测方法中，用于获得预设位置的目标特征的基础特征参数的图像为工件的目标特征所形成的初始图像，用于获得预设位置的目标特征的进阶特征参数的图像，则是基于工件的目标特征所形成的初始图像调整后获得的工件的目标特征所形成的进阶图像，用于获得工件的轮廓特征所对应的图像，则是基于获得的工件的目标特征所形成的进阶图像调整后获得，以此形成逐级递进的获取方式，最终对工件的目标特征形成清晰的图像，从而提高了检测的准确度。
[0011]在一些实施例中，所述在垂直于所述第一方向的第二方向上通过通讯单元或第二取像单元获取工件的目标特征的预设位置及预设位置的目标特征的基础特征参数的步骤包括：
[0012]匹配所述投影图像与预设的检测数据库；
[0013]若所述检测数据存中存在所述投影图像，则获取所述检测数据库中的投影图像对应的工件的目标特征的预设位置及预设位置的目标特征的基础特征参数；
[0014]若所述检测数据库中不存在所述投影图像，则依据所述投影图像，驱动所述工件和第二取像单元相对运动，以使所述第二取像单元沿所述工件的轮廓运动，并通过所述第二取像单元在所述第二方向上获取所述工件的目标特征的预设位置及预设位置的目标特征的基础特征参数。
[0015]在一些实施例中，所述依据所述投影图像，驱动所述工件和第二取像单元相对运动，以使所述第二取像单元沿所述工件的轮廓运动，并使所述第二取像单元获取所述工件的目标特征的预设位置及预设位置的目标特征的基础特征参数的步骤包括：
[0016]基于预设基准划分所述投影图像以得到多个分支图像；
[0017]获取每个所述分支图像上目标特征的预设位置以及在所述预设位置的目标特征的分支特征参数；
[0018]拟合多个所述分支图像上目标特征的预设位置及多个分支特征参数以分别获取所述工件的目标特征的预设位置及预设位置的目标特征的基础特征参数。
[0019]在一些实施例中，所述预设基准为所述投影图像边框的曲率、长度中的至少一个。
[0020]在一些实施例中，所述依据所述投影图像，驱动所述工件和第二取像单元相对运动，以使所述第二取像单元沿所述工件的轮廓运动，并使所述第二取像单元在所述第二方向上获取所述工件的目标特征的预设位置及预设位置的目标特征的基础特征参数包括：
[0021]依据所述投影图像，驱动所述工件和第二取像单元相对运动，使第二取像单元沿所述工件的轮廓运动，保持所述第二取像单元距离所述工件的距离不变，以获取所述工件在第二方向上的图像，并根据所述图像得到所述工件的目标特征的预设位置及预设位置的目标特征的基础特征参数。
[0022]在一些实施例中，所述工件的目标特征包括凹槽、孔或凸起中的至少一个，所述目标特征的基础特征参数包括目标特征的基本深度或基本高度，所述目标特征的进阶特征参数包括目标特征的实际深度或实际高度。
[0023]在一些实施例中，所述通过第二取像单元在所述第二方向上参考预设位置的目标特征的基础特征参数获取预设位置的目标特征的进阶特征参数的步骤包括：
[0024]在所述第二方向上，依据所述预设位置的目标特征的基础特征参数，调节所述第二取像单元的焦距，进而获得所述预设位置的目标特征的进阶特征参数。
[0025]在一些实施例中，所述通过第二取像单元在所述第二方向上参考所述预设位置的目标特征的基础特征参数获取预设位置的目标特征的进阶特征参数的步骤包括：
[0026]在所述第二方向上，依据所述预设位置的目标特征的基础特征参数，调节所述第二取像单元与所述工件侧面的间距，进而获得所述预设位置的目标特征的进阶特征参数。
[0027]在一些实施例中，所述依据所述预设位置的目标特征的基础特征参数，调节所述第二取像单元与所述工件的间距的步骤包括：
[0028]依据所述工件的目标特征的基本深度或基本高度，使第二取像单元与所述工件的所述目标特征的距离不变，从而实现调节所述第二取像单元与所述工件的间距。
[0029]在一些实施例中，所述通过第一取像单元获取工件在所述第一方向上的投影图像的步骤包括：
[0030]获取所述工件在所述第一方向上的表面轮廓；
[0031]基于所述工件的标准轮廓调整所述表面轮廓以获取所述投影图像。
[0032]本申请实施例还提供一种检测装置，包括：
[0033]第一取像单元，用于获取工件在第一方向上的投影图像；
[0034]驱动单元，用于依据所述投影图像，驱动所述工件和第二取像单元相对运动，以使第二取像单元沿所述工件的轮廓运动；
[0035]通讯单元，用于在垂直于所述第一方向的第二方向上获取工件的目标特征的预设位置及预设位置的目标特征的基础特征参数；
[0036]第二取像单元，与所述通讯单元通信连接以获取所述工件的目标特征的预设位置及预设位置的目标特征的基础特征参数，或所述第二取像单元直接获取在垂直于所述第一方向的第二方向上的所述工件的目标特征的预设位置及预设位置的目标特征的基础特征参数，所述第二取像单元还用于在所述第二方向上参考预设位置的目标特征的基础特征参数获取预设位置的目标特征的进阶特征参数；
[0037]处理单元，与所述第一取像本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测方法，其特征在于，包括：通过第一取像单元获取工件在第一方向上的投影图像；在垂直于所述第一方向的第二方向上通过通讯单元或第二取像单元获取工件的目标特征的预设位置及预设位置的目标特征的基础特征参数；依据获取的所述投影图像，通过驱动单元驱动所述工件和第二取像单元相对运动，以使所述第二取像单元沿所述工件的轮廓运动，并通过第二取像单元在所述第二方向上参考预设位置的目标特征的基础特征参数获取预设位置的目标特征的进阶特征参数；拟合所述投影图像和预设位置的目标特征的进阶参数以获取所述工件的轮廓特征；根据拟合的所述轮廓特征，判断所述工件的目标特征是否合格。2.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述在垂直于所述第一方向的第二方向上通过通讯单元或第二取像单元获取工件的目标特征的预设位置及预设位置的目标特征的基础特征参数的步骤包括：匹配所述投影图像与预设的检测数据库；若所述检测数据存中存在所述投影图像，则获取所述检测数据库中的投影图像对应的工件的目标特征的预设位置及预设位置的目标特征的基础特征参数；若所述检测数据库中不存在所述投影图像，则依据所述投影图像，驱动所述工件和第二取像单元相对运动，以使所述第二取像单元沿所述工件的轮廓运动，并通过所述第二取像单元在所述第二方向上获取所述工件的目标特征的预设位置及预设位置的目标特征的基础特征参数。3.如权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述依据所述投影图像，驱动所述工件和第二取像单元相对运动，以使所述第二取像单元沿所述工件的轮廓运动，并使所述第二取像单元获取所述工件的目标特征的预设位置及预设位置的目标特征的基础特征参数的步骤包括：基于预设基准划分所述投影图像以得到多个分支图像；获取每个所述分支图像上目标特征的预设位置以及在所述预设位置的目标特征的分支特征参数；拟合多个所述分支图像上目标特征的预设位置及多个分支特征参数以分别获取所述工件的目标特征的预设位置及预设位置的目标特征的基础特征参数。4.如权利要求3所述的检测方法，其特征在于，所述预设基准为所述投影图像边框的曲率、长度中的至少一个。5.如权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述依据所述投影图像，驱动所述工件和第二取像单元相对运动，以使所述第二取像单元沿所述工件的轮廓运动，并使所述第二取像单元在所述第二方向上获取所述工件的目标特征的预设位置及预设位置的目标特征的基础特征参数的步骤包括：依据所述投影图像，驱动所述工件和第二取像单元相对运动，使第二取像单元沿所述工件的轮廓运动，保持所述第二取像单元距离所述工件的距离不变，以获取所述工件在第二方向上的图像，并根据所述图像得到所述工件的目标特征的预设位置及预设位置的目标特征的基础特征参数。6.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，
所述工件的目标特征包括凹槽、孔或凸起中的至少一个；所述目标特征的基础特征参数包括目标特征的基本深度或基本高度，所述目标特征的进阶特征参数包括目标特征的实际深度或实际高度。7.如权利要求6所述的检测方法，其特征在于，所述通过第二取像单元在所述第二方向上参考预设位置的目标特征的基础特征参数获取预设位置的目标特征的进阶特征参数的步骤包括：在所述第二方向上，依据所述预设位置的目标特征的基础特征参数，调节所述第二取像单元的焦距，进而获得所述预设位置的目标特征的进阶特征参数。8....

【专利技术属性】
技术研发人员：林定佑，廖有福，蒋卫东，郭昱庆，罗坤林，刘小婷，易维，
申请(专利权)人：富联裕展科技深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：