芯片设计的仿真验证方法、装置、计算机设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供一种芯片设计的仿真验证方法、装置、计算机设备及存储介质，其中，所述方法包括：获取芯片设计在测试场景需验证的多个设计模块；确定多个设计模块中的第一设计模块和第二设计模块，第一设计模块与第二设计模块不同，第二设计模块与测试场景的测试目标相关联；从空壳库中调用第一设计模块对应的空壳文件，以在测试场景的验证环境中实例化第一设计模块为空壳模块；在验证环境中实例化第二设计模块；验证实例化的第一设计模块和第二设计模块，空壳库至少存储有与测试目标不存在关联的设计模块的空壳文件，空壳文件为设计模块的输入功能和输出功能对应的模块文件。本申请实施例提供的技术方案，可提高芯片设计的仿真验证效率。验证效率。验证效率。

【技术实现步骤摘要】
芯片设计的仿真验证方法、装置、计算机设备及存储介质


[0001]本申请实施例涉及芯片设计
，尤其涉及一种芯片设计的仿真验证方法、装置、计算机设备及存储介质。

技术介绍

[0002]芯片设计是指用于ASIC(Application Specific Integrated Circuit，专用集成电路)、SOC(System
‑
On
‑
Chip，片上系统芯片)等集成电路的设计。为验证芯片设计是否符合预期，需要对芯片设计进行仿真验证；例如，构建并利用验证环境对芯片设计的测试数据进行验证，从而验证芯片设计的功能是否符合预期。
[0003]随着芯片设计的规模越来越大、功能越来越复杂，芯片设计所需仿真验证的测试数据中，所包括的不同芯片设计功能对应的测试数据量越来越多，这导致芯片设计的仿真验证速度越来越慢。在此背景下，如何提高芯片设计的仿真验证效率，成为了本领域技术人员亟需解决的技术问题。

技术实现思路

[0004]本申请实施例解决的技术问题是如何提高芯片设计的仿真验证效率。
[0005]为解决上述问题，本申请实施例提供如下技术方案。
[0006]第一方面，本专利技术实施例提供一种芯片设计的仿真验证方法，包括：
[0007]获取芯片设计在测试场景需验证的多个设计模块；
[0008]确定所述多个设计模块中的第一设计模块和第二设计模块，所述第一设计模块与所述第二设计模块不同，所述第二设计模块与所述测试场景的测试目标相关联；
[0009]从空壳库中调用所述第一设计模块对应的空壳文件，根据所述第一设计模块对应的空壳文件，在所述测试场景的验证环境中实例化所述第一设计模块，以使得所述第一设计模块实例化为空壳模块；以及，在所述验证环境中实例化所述第二设计模块；
[0010]对验证环境中实例化的第一设计模块和第二设计模块进行验证；
[0011]其中，所述空壳库至少存储有与芯片设计的测试目标不存在关联的设计模块的空壳文件，设计模块的空壳文件为设计模块的输入功能和输出功能对应的模块文件。
[0012]第二方面，本专利技术实施例提供一种芯片设计的仿真验证装置，包括：
[0013]芯片设计获取模块，用于获取芯片设计在测试场景需验证的多个设计模块；
[0014]实例化模块，用于确定所述多个设计模块中的第一设计模块和第二设计模块，所述第一设计模块与所述第二设计模块不同，所述第二设计模块与所述测试场景的测试目标相关联；从空壳库中调用所述第一设计模块对应的空壳文件，根据所述第一设计模块对应的空壳文件，在所述测试场景的验证环境中实例化所述第一设计模块，以使得所述第一设计模块实例化为空壳模块；以及，在所述验证环境中实例化所述第二设计模块；
[0015]仿真验证模块，用于对验证环境中实例化的第一设计模块和第二设计模块进行验证；
[0016]其中，所述空壳库至少存储有与芯片设计的测试目标不存在关联的设计模块的空壳文件，设计模块的空壳文件为设计模块的输入功能和输出功能对应的模块文件。
[0017]第三方面，本专利技术实施例还提供了一种计算机设备，包括存储器，处理器，所述存储器存储有如第一方面所述的芯片设计的仿真验证方法的程序，所述处理器调用所述存储器中存储的程序。
[0018]第四方面，本专利技术实施例还提供了一种存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序执行时实现如第一方面所述的芯片设计的仿真验证方法。
[0019]在本专利技术实施例提供的芯片设计的仿真验证方法，通过获取芯片设计在测试场景需验证的多个设计模块；确定多个设计模块中的第一设计模块和第二设计模块，所述第一设计模块与所述第二设计模块不同，所述第二设计模块与所述测试场景的测试目标相关联；然后进行设计模块的实例化，在所述测试场景的验证环境实例化设计模块时，从空壳库中调用所述第一设计模块对应的空壳文件，根据所述第一设计模块对应的空壳文件，在所述测试场景的验证环境中实例化所述第一设计模块，以使得所述第一设计模块实例化为空壳模块；以及，在所述验证环境中实例化所述第二设计模块；最后对验证环境中实例化的第一设计模块和第二设计模块进行验证；其中，所述空壳库至少存储有与芯片设计的测试目标不存在关联的设计模块的空壳文件，设计模块的空壳文件为设计模块的输入功能和输出功能对应的模块文件。
[0020]可见，本专利技术实施例所提供的技术方案，通过在进行芯片设计的验证时，对芯片设计中的多个设计模块进行分析，确定与测试场景的测试目标相关联的设计模块定义为第二设计模块，并将与第二设计模块不同的设计模块定义为第一设计模块；然后在对设计模块进行实例化的过程中，可以从空壳库中调用第一设计模块对应的空壳文件；由于空壳文件是设计模块的输出功能和输入功能对应的模块文件，且第一设计模块是与第二设计模块不同的，即第一设计模块是与测试场景的测试目标不存在关联的设计模块；从而在调用第一设计模块对应的空壳文件并完成第一设计模块的实例化，得到第一设计模块实例化之后的空壳模块时，能够在不影响芯片设计的仿真验证的基础上，可以降低对芯片设计的仿真验证时，实例化与测试场景的测试目标不存在关联的第一设计模块所需的时间，进而降低仿真验证芯片设计的整体时间，提高芯片设计的仿真验证效率。
附图说明
[0021]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
[0022]图1是本专利技术实施例所提供的芯片设计的仿真验证方法的一流程示意图；
[0023]图2示例性的使出了本专利技术实施例中第一设计模块实例化后的空壳模块；
[0024]图3示例性的示出了本专利技术实施例所提供的芯片设计的仿真验证方法中，芯片设计的一验证结构示意图；
[0025]图4示例性的示出了本专利技术实施例所提供的芯片设计的仿真验证方法中，芯片设计的另一验证结构示意图；
[0026]图5是本专利技术实施例所提供的芯片设计的仿真验证方法的另一流程示意图；
[0027]图6是本专利技术实施例所提供的芯片设计的仿真验证方法中建立空壳库的一流程示意图；
[0028]图7示例性的示出了测试用例的一示意图；
[0029]图8是本专利技术实施例所提供的芯片设计的仿真验证方法中，确定预测是无关的设计模块的一流程示意图；
[0030]图9示例性的示出了本专利技术实施例所提供的芯片设计的仿真验证方法中，验证结果存储示意图；
[0031]图10是本专利技术实施例所提供的芯片设计仿真验证装置的一框架示意图。
具体实施方式
[0032]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片设计的仿真验证方法，其特征在于，包括：获取芯片设计在测试场景需验证的多个设计模块；确定所述多个设计模块中的第一设计模块和第二设计模块，所述第一设计模块与所述第二设计模块不同，所述第二设计模块与所述测试场景的测试目标相关联；从空壳库中调用所述第一设计模块对应的空壳文件，根据所述第一设计模块对应的空壳文件，在所述测试场景的验证环境中实例化所述第一设计模块，以使得所述第一设计模块实例化为空壳模块；以及，在所述验证环境中实例化所述第二设计模块；对验证环境中实例化的第一设计模块和第二设计模块进行验证；其中，所述空壳库至少存储有与芯片设计的测试目标不存在关联的设计模块的空壳文件，设计模块的空壳文件为设计模块的输入功能和输出功能对应的模块文件。2.如权利要求1所述的芯片设计的仿真验证方法，其特征在于，还包括：至少确定所述芯片设计中与测试目标不存在关联的设计模块；针对所确定的设计模块，根据设计模块的输入功能和输出功能，定义设计模块的空壳文件，将定义的设计模块的空壳文件，编译到空壳库中。3.如权利要求2所述的芯片设计的仿真验证方法，其特征在于，所述至少确定所述芯片设计中与测试目标不存在关联的设计模块，包括：确定所述芯片设计的多个测试用例，一个所述测试用例对应一个测试场景，且一个测试用例包括在对应的测试场景的测试目标所需验证的设计模块；针对所述芯片设计的测试用例，至少确定测试用例中与对应的测试目标不存在关联的设计模块，以得到测试用例中与测试目标不存在关联的设计模块；根据各个测试用例与测试目标不存在关联的设计模块，形成所述芯片设计中与测试目标不存在关联的设计模块。4.如权利要求3所述的芯片设计的仿真验证方法，其特征在于，所述至少确定所述芯片设计中与测试目标不存在关联的设计模块包括：确定所述芯片设计中的所有设计模块。5.如权利要求3所述的芯片设计的仿真验证方法，其特征在于，所述针对所述芯片设计的测试用例，至少确定测试用例中与对应的测试场景目标不存在关联的设计模块，以得到测试用例中与测试目标不存在关联的设计模块，包括：针对所述芯片设计的测试用例，确定所述测试用例中与对应的测试目标不存在关联的设计模块；从所确定的设计模块中确定测试数据量大于测试数据量阈值的设计模块，以得出测试用例中与测试目标不存在关联的设计模块。6.如权利要求2所述的芯片设计的仿真验证方法，其特征在于，还包括：确定所述芯片设计中与测试目标相关联的设计模块；针对所确定的设计模块，根据设计模块的各个逻辑功能、输入功能和输出功能定义设计模块的实体文件，将定义的设计模块的实体文件，编译到实体库中；其中所述空壳文件与所述实体文件的文件名称相同，且所述空壳库和所述实体库为相互独立的文件库。7.如权利要求6所述的芯片设计的仿真验证方法，其特征在于，所述空壳文件中的输出功能和所述实体文件中的输出功能的激励信号均采用弱驱动的赋值方式进行设置。
8.如权利要求1所述的芯片设计的仿真验证方法，其特征在于，所述确定述多个设计模块中的第一设计模块和第二设计模块，包括：获取仿真工具的控制指令，所述控制指令指示有在测试场景需设置成空壳模块的至少一个设计模块；将所述控制指令指示的设计模块，确定为所述多个设计模块中的第一设计模块；将所述控制指令未指示的设计模块，确定为所述多个设计模块中的第二设计模块。9.如权利要求8所述的芯片设计的仿真验证方法，其特征在于，所述控制指令为控制指令参数，所述控制指令参数通过仿真工具的控制界面进行输入；其中，所述控制界面为将芯片设计中与测试目标不存在关联的设计模块，编译为空壳模块的操作界面；所述控制指令参数指示有在测试场景需设置成空壳模块的至少一个设计模块包括：根据控制界面输入的控制指令参数，确定控制指令参数指示的设置成空壳模块的设计模块。10.如权利要求9所述的芯片设计的仿真验证方法，其特征在于，所述获取仿真工具的控制指令的步骤之前，还包括：基于所述测试用例设置对应的配置文件，所述配置文件中定义有所述第一设计模块的控制指令参数；在仿真工具的控制界面中，编译所述配置文件中定义的控制指令参数，以根据控制界面输入的控制指令参数，确定控制指令参数指示的设置成空壳模块的设计模块。11.如权利要求10所述的芯片设计的仿真验证方法，其特征在于，还包括：基于所述配置文件设置对应的控制文件，所述控制文件用于指示根据测试用...

【专利技术属性】
技术研发人员：王周陆，
申请(专利权)人：成都海光集成电路设计有限公司，
类型：发明
国别省市：