一种电磁参数同轴测试环制具制造技术

本实用新型专利技术属于电磁参数测试技术领域，公开了一种电磁参数同轴测试环制具，包括内芯，内芯由第一柱体以及分别固定连接在第一柱体两端的横杆组成，横杆的外部可滑动的设置有套筒，套筒与第一柱体之间设置有多个活动套接在横杆外部的脱模垫片，内芯的外部设置有型腔，型腔的两端均可拆卸的安装有螺帽。该电磁参数同轴测试环制具，结构简单且使用方便，相比机加工制备同轴环，通过该制具压制得到的同轴环，具有材料利用率高、生产合格率高以及制造成本低等优势，此外，压制件表面及拐角处不易出现崩口现象，测试时发射波穿透均匀，得到的测试数据较为准确。测试数据较为准确。测试数据较为准确。

【技术实现步骤摘要】
一种电磁参数同轴测试环制具


[0001]本技术属于电磁参数测试
，涉及用于电磁参数测试的同轴环制备，具体涉及一种电磁参数同轴测试环制具。

技术介绍

[0002]SJ20512
‑
1995标准中，对用于电磁参数测试的样品可制备成符合规格的同轴环状，目前用于电磁参数测试的同轴环，主要依靠制备整料，后续机加工来实现制备。但机加工制备出的同轴环，存在材料利用率较低、成品合格率较低、加工费用高以及周期长等缺陷，另外，由于材料本身的特点，加工件表面及拐角处易出现崩口现象，造成测试时发射波穿透不均匀，导致测试数据不准确。
[0003]对同轴环的制备方法进行改进，使用制具压制的方法制备同轴环，改变机加工制备同轴环时，加工件表面及拐角处易出现崩口现象，造成测试数据不准确的现状，就成为亟待解决的技术问题。

技术实现思路

[0004]技术问题：
[0005]设计一种电磁参数同轴测试环制具，采用制具压制的方法制备符合测试标准的同轴环。
[0006]技术方案：一种电磁参数同轴测试环制具，包括内芯，所述内芯由第一柱体以及分别固定连接在第一柱体两端的横杆组成，所述横杆的外部可滑动的设置有套筒，所述套筒与第一柱体之间设置有两个活动套接在横杆外部的脱模垫片，所述内芯的外部设置有型腔，所述型腔的两端均可拆卸的安装有螺帽。
[0007]优选地，所述型腔由第二柱体以及分别固定连接在第二柱体两端的螺杆组成，所述螺杆和第二柱体内部均开设有与套筒相适配的通孔。
[0008]优选地，所述螺帽的内壁上设置有内螺纹，所述螺帽与螺杆之间螺纹连接。
[0009]优选地，所述第二柱体为棱柱，所述第二柱体的外部开设有多个环形阵列且等间距设置的内螺纹孔，所述内螺纹孔中螺纹连接有顶丝。
[0010]优选地，所述第一柱体为圆柱，所述第一柱体的外部沿其轴线旋转切除有呈三角形横截面的切口，所述顶丝靠近第一柱体的一端开设有与其切口相适配的锥角。
[0011]通过上述技术方案，设置顶丝，用于第一柱体在型腔内部的限位。
[0012]优选地，所述套筒靠近螺帽的一端开设有圆角。
[0013]通过上述技术方案，开设圆角，减小螺帽与套筒之间的摩擦阻力。
[0014]有益效果
[0015]相比于现有技术，本技术具备以下实质性的特点和进步：
[0016]该电磁参数同轴测试环制具，结构简单且使用方便，相比机加工制备同轴环，该制具压制得到的同轴环，具有材料利用率高、生产合格率高以及制造成本低等优势，此外，压
制件表面及拐角处不易出现崩口现象，测试时发射波穿透均匀，得到的测试数据较为准确。
附图说明
[0017]图1为本技术的立体结构示意图；
[0018]图2为图1的内部结构示意图；
[0019]图3为图1的爆炸图。
[0020]图中标号说明：1、内芯；11、第一柱体；101、切口；12、横杆；2、套筒；201、圆角；3、脱模垫片；4、型腔；41、第二柱体；42、螺杆；401、通孔；5、螺帽；6、顶丝；601、锥角。
具体实施方式
[0021]本实施例的一种电磁参数同轴测试环制具，如图1
‑
图3所示，包括内芯1，所述内芯1由第一柱体11以及分别固定连接在第一柱体11两端的横杆12组成，所述横杆12的外部可滑动的设置有套筒2，所述套筒2与第一柱体11之间设置有两个活动套接在横杆12外部的脱模垫片3，所述内芯1的外部设置有型腔4，所述型腔4的两端均可拆卸的安装有螺帽5。
[0022]制备时，首先将内芯1安装至型腔4的内部，通过顶丝6与型腔4之间的螺纹配合，对内芯1在型腔4中的位置进行限位，使得第一柱体11始终处于型腔4内的中部，在横杆12的外部活动套接一个脱模垫片3，与第一柱体11相抵，然后在型腔4内加入用于电磁参数测试的材料以及用于固化材料的复合树脂，横杆12的外部活动套接另一个脱模垫片3以及套筒2，脱模垫片3与添加的材料以及复合树脂相抵，套筒2与脱模垫片3相抵，再通过螺帽5与型腔4之间的螺纹配合，通过螺帽5带动套筒2对两个脱模垫片3之间的材料以及复合树脂挤压。
[0023]所述型腔4由第二柱体41以及分别固定连接在第二柱体41两端的螺杆42组成，所述螺杆42和第二柱体41内部均开设有与套筒2相适配的通孔401，所述螺帽5的内壁上设置有内螺纹，所述螺帽5与螺杆42之间螺纹连接，所述第二柱体41为棱柱，所述第二柱体41的外部开设有多个环形阵列且等间距设置的内螺纹孔，所述内螺纹孔中螺纹连接有顶丝6，所述第一柱体11为圆柱，所述第一柱体11的外部沿其轴线旋转切除有呈三角形横截面的切口101，所述顶丝6靠近第一柱体11的一端开设有与其切口101相适配的锥角601，所述套筒2靠近螺帽5的一端开设有圆角201。
[0024]其中第一柱体11的外径大小以及第二柱体41和螺杆42内部开设通孔401的内径大小均符合SJ20512
‑
1995标准中的规定。
[0025]拆卸时，首先将型腔4两端螺纹连接的螺帽5拆下，再将第二柱体41外部的顶丝6拆下，通过推动一侧的套筒2将型腔4内部的内芯1取出后，依次将内芯1上的脱模垫片3以及用于电磁参数测试的同轴环取下，从而得到制具压制的同轴环。
[0026]结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发 明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电磁参数同轴测试环制具，其特征在于：包括内芯，所述内芯由第一柱体以及分别固定连接在第一柱体两端的横杆组成；所述横杆的外部可滑动的设置有套筒，所述套筒与第一柱体之间设置有两个活动套接在横杆外部的脱模垫片；所述内芯的外部设置有型腔，所述型腔的两端均可拆卸的安装有螺帽。2.根据权利要求1所述的一种电磁参数同轴测试环制具，其特征在于：所述型腔由第二柱体以及分别固定连接在第二柱体两端的螺杆组成，所述螺杆和第二柱体内部均开设有与套筒相适配的通孔。3.根据权利要求2所述的一种电磁参数同轴测试环制具，其特征在于：所述螺帽的内壁...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈民祥，李自强，
申请(专利权)人：南京南大波平电子信息有限公司，
类型：新型
国别省市：