一种电阻测量电路、钳位电路及万用表制造技术

一种电阻测量电路，包括：恒流电路，向待测电阻提供预设电流；电压采样电路，获取待测电阻的电压，待测电阻的电压和预设电流用于计算待测电阻的阻值；至少两组钳位电路，其中一组钳位电路连接在恒流电路的钳位点和地之间，另一组钳位电路连接在电压采样电路的钳位点和地之间，钳位电路用于使得所连接钳位点的电压位于钳位电压内；钳位电路包括第一三极管和第二三极管，在钳位电路所连接钳位点的电压位于钳位电压内时，第一三极管和第二三极管均截止。由于三极管的截止后，其反向电流相比二极管来说更小，且三极管的反向电流基本不受温度影响，因此可以提高电阻测量的准确性，且不受高温影响。本实用新型专利技术还提供一种钳位电路和万用表。用表。用表。

【技术实现步骤摘要】
一种电阻测量电路、钳位电路及万用表
[0001]本申请为分案申请，其母案名称为：一种万用表，申请号为：2022228433174，申请日为：2022年10月24日。


[0002]本申请涉及通断测量及仪器仪表
，具体涉及一种电阻测量电路、钳位电路及万用表。

技术介绍

[0003]万用表一般具有电阻测量的功能，而在进行电阻测量时通常有电流测量法和电压测量法，例如在通过电流测量法对电阻进行测量时，需要对电阻测量电路增加钳位电路，以避免电阻测量电路被电阻输入的外部电压所损坏。然而目前电阻测量电路中的钳位电路在进行钳位时，其反向电流较大，且容易受温度影响，从而影响电阻测量的准确性。因此万用表中的电阻测量电路还存在改进的空间。

技术实现思路

[0004]本技术主要解决的技术问题是如何提高电阻测量的准确性，且不受高温影响。
[0005]根据本申请的第一方面，一种实施例中提供一种电阻测量电路，包括：
[0006]恒流电路，其输出端用于连接待测电阻的第一端，以向所述待测电阻提供预设电流；
[0007]电压采样电路，其输入端用于连接所述待测电阻的第一端，以获取所述待测电阻的电压，其输出端用于输出所述待测电阻的电压，所述待测电阻的电压和预设电流用于计算所述待测电阻的阻值；
[0008]至少两组钳位电路，其中一组所述钳位电路连接在恒流电路的钳位点和地之间，另一组所述钳位电路连接在电压采样电路的钳位点和地之间，所述钳位电路用于使得所连接钳位点的电压位于钳位电压内；
[0009]所述钳位电路包括第一三极管和第二三极管，在所述钳位电路所连接钳位点的电压位于钳位电压内时，所述第一三极管和第二三极管均截止。
[0010]一些实施例中，在所述钳位电路所连接钳位点的电压超出钳位电压时，所述第一三极管导通，以产生导通压降，所述第二三极管击穿，以产生击穿压降；
[0011]或者，
[0012]所述第一三极管击穿，以产生击穿压降，所述第二三极管导通，以产生导通压降，所述击穿压降和导通压降使得所述钳位电路所连接钳位点的电压位于钳位电压内。
[0013]一些实施例中，所述第一三极管的基极分别连接第二三极管的基极和第二极，所述第二三极管的基极还连接第一三极管的第二极，所述第一三极管和第二三极管的第一极分别用于连接钳位点和地。
[0014]一些实施例中，所述第一三极管为NPN型三极管，所述第二三极管为PNP型三极管，所述第一三极管和第二三极管的第一极均为发射极，所述第一三极管和第二三极管的第二极均为集电极，在所述钳位电路所连接钳位点的电压超出钳位电压时，所述第一三极管的基极与发射极，以及所述第二三极管的基极与发射极，均根据钳位点的电压导通或击穿。
[0015]一些实施例中，所述恒流电路包括电流源和第一电阻；
[0016]所述电流源的输入端连接电源，输出端连接第一电阻的第一端，所述第一电阻的第二端用于连接所述待测电阻的第一端，所述电流源与第一电阻之间的连接节点作为钳位点。
[0017]一些实施例中，所述第一电阻为热敏电阻，所述热敏电阻的阻值与温度成正比。
[0018]一些实施例中，所述电压采样电路包括电压采样模块和第二电阻；
[0019]所述电压采样模块的输入端与第二电阻的第一端连接，输出端用于输出待测电阻的电压，所述第二电阻的第二端用于连接所述待测电阻的第一端，所述电压采样模块与第二电阻之间的连接节点作为钳位点。
[0020]一些实施例中，所述电压采样模块包括跟随器，所述跟随器的输入端与第二电阻的第一端连接，输出端用于输出待测电阻的电压。
[0021]根据本申请的第二方面，一种实施例中提供一种钳位电路，所述钳位电路包括第一三极管和第二三极管；
[0022]所述第一三极管的基极分别连接第二三极管的基极和第二极，所述第二三极管的基极还连接第一三极管的第二极，所述第一三极管和第二三极管的第一极分别用于连接钳位点和地；
[0023]在所述钳位电路所连接钳位点的电压未超出钳位电压时，所述第一三极管和第二三极管均截止；
[0024]在所述钳位电路所连接钳位点的电压超出钳位电压时，所述第一三极管导通，以产生导通压降，所述第二三极管击穿，以产生击穿压降；或者所述第一三极管击穿，以产生击穿压降，所述第二三极管导通，以产生导通压降，所述击穿压降和导通压降使得所述钳位电路所连接钳位点的电压位于钳位电压内。
[0025]根据本申请的第三方面，一种实施例中提供一种万用表，包括：
[0026]至少两个探测端，用于连接待测电阻的两端；
[0027]如第二方面所述的电阻测量电路，用于向待测电阻提供预设电流，并获取所述待测电阻的电压；
[0028]模数转换单元，用于将待测电阻的电压转换为数字信号的电压；
[0029]处理器，用于根据所述数字信号的电压和所述预设电流，得到所述待测电阻的阻值；
[0030]显示单元，用于显示所述待测电阻的阻值。
[0031]依据上述实施例的电阻测量电路，通过三极管来实现钳位电路，且钳位点的电压在位于钳位电压内，钳位电路的三极管均截止。而三极管的截止后，其反向电流相比二极管来说更小，且三极管的反向电流基本不受温度影响，因此可以提高电阻测量的准确性，且不受高温影响。
附图说明
[0032]图1为一种二极管的反向电流
‑
温度关系示意图；
[0033]图2为一种实施例的电阻测量电路的结构示意图；
[0034]图3为一种实施例的钳位电路的钳位效果示意图；
[0035]图4为另一种实施例的万用表的结构示意图。
具体实施方式
[0036]下面通过具体实施方式结合附图对本申请作进一步详细说明。其中不同实施方式中类似元件采用了相关联的类似的元件标号。在以下的实施方式中，很多细节描述是为了使得本申请能被更好的理解。然而，本领域技术人员可以毫不费力的认识到，其中部分特征在不同情况下是可以省略的，或者可以由其他元件、材料、方法所替代。在某些情况下，本申请相关的一些操作并没有在说明书中显示或者描述，这是为了避免本申请的核心部分被过多的描述所淹没，而对于本领域技术人员而言，详细描述这些相关操作并不是必要的，他们根据说明书中的描述以及本领域的一般技术知识即可完整了解相关操作。
[0037]另外，说明书中所描述的特点、操作或者特征可以以任意适当的方式结合形成各种实施方式，各实施例所涉及的操作步骤也可以按照本领域技术人员所能显而易见的方式进行顺序调换或调整。因此，说明书和附图只是为了清楚描述某一个实施例，并不意味着是必须的组成和/或顺序。
[0038]本文中为部件所编序号本身，例如“第一”、“第二”等，仅用于区分所描述的对象，不具有任何顺序或技术含义。而本申请所说“连接”、“联接”，如无特别说明，均包括直接和间接连接(联接)。
[0039]目前电阻测量电路中的钳位电路通常是通过二极管来实现的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电阻测量电路，其特征在于，包括：恒流电路，其输出端用于连接待测电阻的第一端，以向所述待测电阻提供预设电流；电压采样电路，其输入端用于连接所述待测电阻的第一端，以获取所述待测电阻的电压，其输出端用于输出所述待测电阻的电压，所述待测电阻的电压和预设电流用于计算所述待测电阻的阻值；至少两组钳位电路，其中一组所述钳位电路连接在恒流电路的钳位点和地之间，另一组所述钳位电路连接在电压采样电路的钳位点和地之间，所述钳位电路用于使得所连接钳位点的电压位于钳位电压内；所述钳位电路包括第一三极管和第二三极管，在所述钳位电路所连接钳位点的电压位于钳位电压内时，所述第一三极管和第二三极管均截止。2.如权利要求1所述的电阻测量电路，其特征在于，在所述钳位电路所连接钳位点的电压超出钳位电压时，所述第一三极管导通，以产生导通压降，所述第二三极管击穿，以产生击穿压降；或者，所述第一三极管击穿，以产生击穿压降，所述第二三极管导通，以产生导通压降，所述击穿压降和导通压降使得所述钳位电路所连接钳位点的电压位于钳位电压内。3.如权利要求1或2所述的电阻测量电路，其特征在于，所述第一三极管的基极分别连接第二三极管的基极和第二极，所述第二三极管的基极还连接第一三极管的第二极，所述第一三极管和第二三极管的第一极分别用于连接钳位点和地。4.如权利要求3所述的电阻测量电路，其特征在于，所述第一三极管为NPN型三极管，所述第二三极管为PNP型三极管，所述第一三极管和第二三极管的第一极均为发射极，所述第一三极管和第二三极管的第二极均为集电极，在所述钳位电路所连接钳位点的电压超出钳位电压时，所述第一三极管的基极与发射极，以及所述第二三极管的基极与发射极，均根据钳位点的电压导通或击穿。5.如权利要求1所述的电阻测量电路，其特征在于，所述恒流电路包括电流源和第一电阻；所述电流源的输入端连接电源，输出端连接第一电阻的第一端，...

【专利技术属性】
技术研发人员：曾显华，朱宇通，陈永东，
申请(专利权)人：深圳市鼎阳科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：