【技术实现步骤摘要】
本申请涉及信号处理设备及信号处理，具体涉及一种信号发生器、调制电路、本振泄露校正方法及介质。
技术介绍
1、信号发生器作为测量仪器中的一种，其在测量行业发挥着越来越重要的作用。其信号发生器内部的调制信号的iq平衡度一直是影响调制效果的重要指标，当不平衡较明显时，会恶化evm指标。
2、其中，调制信号的本振泄露是影响iq不平衡的重要因素，而本振泄露又受基带信号的直流偏置影响较大，所以可以通过调节基带信号的直流偏置，从而削弱调制信号中的本振泄露，使得调制信号的输出更为纯净。
3、目前在市面上的信号发生器大多都使用离线的校准模式对调制信号的本振泄露进行校准，即使用外接频谱仪的方式，通过调整硬件的配置从频谱仪上获取到信号发生器输出的调制信号，然后分析计算调制信号的本振泄露，再进一步调整硬件配置，直至满足指标需求。然而，通过频谱仪实现校准的成本较高，效率较低，并且在缺少频谱仪等设备的情况下，无法实现随时随地的校准。
技术实现思路
1、本申请主要解决的技术问题是本振泄露的校准成本较高、效率较低。
2、根据第一方面，一种实施例中提供一种信号发生器，包括：
3、基带信号发生单元，用于输出基带信号；
4、直流偏置调整单元，用于调整所述基带信号的直流偏置；
5、调制单元，用于将调整直流偏置后的所述基带信号进行调制，以得到调制信号；
6、反馈单元，用于将接收的所述调制信号的至少部分进行输出，和/或将所述调制信号的至少部分
7、模数转换单元，用于对幅值处理后的所述调制信号进行模数转换，以得到采样信号；
8、处理单元，用于：
9、进行所述调制信号的第一校正：控制所述反馈单元将接收的所述调制信号的至少部分进行衰减处理；基于所述模数转换单元对所述衰减处理后的所述调制信号进行模数转换，并得到第一校正采样信号，基于所述第一校正采样信号，控制所述直流偏置调整单元调整所述调制信号所对应基带信号的直流偏置，以校正所述调制信号的本振泄露；再次基于所述模数转换单元获取校正后的所述第一校正采样信号，并判断是否满足第一预设条件；
10、若所述校正后的所述第一校正采样信号不满足所述第一预设条件，则继续进行所述第一校正，直至满足所述第一预设条件，以完成所述调制信号的第一校正。
11、根据第二方面，一种实施例中提供一种信号发生器，包括：
12、基带信号发生单元，用于输出基带信号；
13、直流偏置调整单元，用于调整所述基带信号的直流偏置；
14、调制单元，用于将调整直流偏置后的所述基带信号进行调制，以得到调制信号；
15、反馈单元，用于将接收的所述调制信号的至少部分进行输出，和/或将所述调制信号的至少部分进行幅值处理后输出，所述幅值处理为衰减处理、放大处理和直通处理中的一者；
16、模数转换单元，用于对幅值处理后的所述调制信号进行模数转换，以得到采样信号；
17、处理单元，用于：
18、进行所述调制信号的第二校正：控制所述反馈单元将接收的所述调制信号的至少部分进行放大处理；基于所述模数转换单元对所述衰减处理后的所述调制信号进行模数转换，并得到第二校正采样信号，基于所述第二校正采样信号，控制所述直流偏置调整单元调整所述调制信号所对应基带信号的直流偏置，以校正所述调制信号的本振泄露；再次基于所述模数转换单元获取校正后的所述第二校正采样信号，并判断是否满足第二预设条件；
19、若所述校正后的所述第二校正采样信号不满足所述第二预设条件，则继续进行所述第二校正，直至满足所述第二预设条件，以完成所述调制信号的第二校正。
20、根据第三方面，一种实施例中提供一种信号调制电路，包括：
21、直流偏置调整单元，其输入端用于接收待调制信号，并用于调整所述待调制信号的直流偏置；
22、调制单元，用于将调整直流偏置后的所述待调制信号进行调制得到调制信号，并输出所述调制信号；
23、反馈单元，用于将接收的所述调制信号的至少部分进行输出，和/或将所述调制信号的至少部分进行幅值处理后输出，所述幅值处理为衰减处理、放大处理和直通处理中的一者；
24、模数转换单元，用于对幅值处理后的所述调制信号进行模数转换，以得到采样信号；
25、处理单元，用于：
26、进行所述调制信号的第一校正：控制所述反馈单元将接收的所述调制信号的至少部分进行衰减处理；基于所述模数转换单元对所述衰减处理后的所述调制信号进行模数转换，并得到第一校正采样信号，基于所述第一校正采样信号，控制所述直流偏置调整单元调整所述调制信号所对应基带信号的直流偏置，以校正所述调制信号的本振泄露；再次基于所述模数转换单元获取校正后的所述第一校正采样信号，并判断是否满足第一预设条件；
27、若所述校正后的所述第一校正采样信号不满足所述第一预设条件，则继续进行所述第一校正，直至满足所述第一预设条件，以完成所述调制信号的第一校正。
28、根据第四方面，一种实施例中提供一种本振泄露校正方法，包括：
29、进行调制信号的第一校正：将接收的所述调制信号的至少部分进行衰减处理；对所述衰减处理后的所述调制信号进行模数转换，得到第一校正采样信号，基于所述第一校正采样信号，调整所述调制信号所对应基带信号的直流偏置，以校正所述调制信号的本振泄露；获取校正后的所述第一校正采样信号，并判断是否满足第一预设条件；
30、若所述校正后的所述第一校正采样信号不满足所述第一预设条件，则继续进行所述第一校正，直至满足所述第一预设条件，以完成所述调制信号的第一校正。
31、根据第五方面，一种实施例中提供一种计算机可读存储介质，所述介质上存储有程序，所述程序能够被处理器执行以实现如第四方面所述的方法。
32、根据上述实施例的信号发生器，在调制信号输出时，由于通过反馈单元对其至少部分进行幅值处理，然后由模数转换单元进行模数转换得到采样信号，处理单元可以基于采样信号控制直流偏置调整单元调整基带信号的直流偏置，以校正调制信号的本振泄露。使得可以避免使用外部的频谱仪，从而降低本振泄露的校准成本，并提高校准效率。且由于反馈单元还可以选择将接收的调制信号进行衰减或者放大处理，从而提高模数转换单元检测调制信号的上限或者下限，并使得处理单元基于衰减或者放大处理后的调制信号，可以提高本振泄露的校正范围。
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1.一种信号发生器，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的信号发生器，其特征在于，所述处理单元还用于：
3.如权利要求1或者2所述的信号发生器，其特征在于，所述处理单元还用于：
4.如权利要求1所述的信号发生器，其特征在于，所述反馈单元包括切换模块和信号调整模块：
5.如权利要求4所述的信号发生器，其特征在于，所述信号调整模块包括：
6.如权利要求1所述的信号发生器，其特征在于，所述模数转换单元包括:
7.一种信号发生器，其特征在于，包括：
8.如权利要求7所述的信号发生器，其特征在于，所述处理单元还用于：
9.如权利要求8所述的信号发生器，其特征在于，所述处理单元还用于：
10.一种信号调制电路，其特征在于，包括：
11.如权利要求10所述的信号调制电路，其特征在于，所述处理单元还用于：
12.一种本振泄露校正方法，其特征在于，包括：
13.如权利要求12所述的本振泄露校正方法，其特征在于，还包括：
14.一种计算机可读
...【技术特征摘要】
1.一种信号发生器，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的信号发生器，其特征在于，所述处理单元还用于：
3.如权利要求1或者2所述的信号发生器，其特征在于，所述处理单元还用于：
4.如权利要求1所述的信号发生器，其特征在于，所述反馈单元包括切换模块和信号调整模块：
5.如权利要求4所述的信号发生器，其特征在于，所述信号调整模块包括：
6.如权利要求1所述的信号发生器，其特征在于，所述模数转换单元包括:
7.一种信号发生器，其特征在于，包括：
8.如权利要求7...
【专利技术属性】
技术研发人员：周航冰，郑翠翠，阮仲华，
申请(专利权)人：深圳市鼎阳科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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