光电倍增管表面反射率无损定量检测系统及检测方法技术方案

本发明专利技术涉及一种光电倍增管表面反射率无损定量检测系统及检测方法，属于微弱光检测技术领域，解决了现有检测系统操作不易实现，测试效率低，并且测得的数据不准确的问题。该检测系统包括检测装置和标准铝镜测试装置；检测装置包括光源、光谱仪、积分球、待测光电倍增管、测试工装、测试支架以及数据采集和处理系统；待测光电倍增管固定于测试支架上，积分球通过测试工装固定于待测光电倍增管的表面，光源和光谱仪分别与积分球连接，数据采集和处理系统与光谱仪连接。本发明专利技术实现了对光电倍增管表面反射率的快速、无损检测。无损检测。无损检测。

【技术实现步骤摘要】
光电倍增管表面反射率无损定量检测系统及检测方法


[0001]本专利技术涉及微弱光检测
，尤其涉及一种光电倍增管表面反射率无损定量检测系统及检测方法。

技术介绍

[0002]光电倍增管是将微弱光信号转换成电信号的真空电子器件。光电倍增管用在光学测量仪器和光谱分析仪器中，它能在低能级光度学和光谱学方面测量波长200～1200纳米的极微弱辐射功率。
[0003]光电倍增管表面反射率作为一项重要的品控环节用于批量生产与出厂验收。为了得到反射率数据，通常采用光电器件得到所关注波长下的相应数据。现有技术中采用光电二极管(PD)来实现，存在操作不易实现，测试效率低、测得的数据不准确等问题。

技术实现思路

[0004]鉴于上述分析，本专利技术旨在提供一种光电倍增管表面反射率无损定量检测系统及检测方法，至少能够解决以下技术问题之一：(1)现有检测系统操作不易实现，测试效率低；(2)测得的数据不准确。
[0005]本专利技术的目的主要是通过以下技术方案实现的：
[0006]一方面，本专利技术提供了一种光电倍增管表面反射本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光电倍增管表面反射率无损定量检测系统，其特征在于，包括检测装置和标准铝镜测试装置；所述检测装置用于测试得到待测光电倍增管表面的光谱数据，所述标准铝镜测试装置用于测试得到标准铝镜的光谱数据；所述检测装置包括光源、光谱仪、积分球、待测光电倍增管、测试工装、测试支架以及数据采集和处理系统；所述待测光电倍增管固定于所述测试支架上，所述积分球通过所述测试工装固定于所述待测光电倍增管的表面，所述光源和所述光谱仪分别与所述积分球连接，所述数据采集和处理系统与所述光谱仪连接。2.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述标准铝镜测试装置包括光源、光谱仪、积分球、标准铝镜、固定支撑部以及数据采集和处理系统；所述光源、所述光谱仪、所述积分球以及所述数据采集和处理系统与所述检测装置共用；所述积分球固定于所述固定支撑部上，所述标准铝镜置于所述积分球上。3.根据权利要求1或2所述的检测系统，其特征在于，所述积分球呈内部中空的圆柱状，其上设有光源接口和光谱仪接口；所述光源接口设于所述积分球的一个端面上，所述光谱仪接口设于所述积分球的侧面上；所述积分球的另一个端面上设有与所述积分球的内部连...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨晓宇，衡月昆，曹国富，温良剑，
申请(专利权)人：中国科学院高能物理研究所，
类型：发明
国别省市：