本申请提供一种屏蔽效能的测试装置、屏蔽效能的测试方法和存储介质，该屏蔽效能的测试装置包括：屏蔽盒，屏蔽盒用于屏蔽外界电磁场；电路板，设置在屏蔽盒内，电路板设有待检测区域；第一天线，设置在待检测区域内，第一天线与电路板电连接，第一天线用于发送电磁信号；待检测材料，设置在待检测区域，且覆盖第一天线；以及检测装置，检测装置与电路板电连接，检测装置用于接收第一天线发送的电磁信号，并根据第一电磁信号和第二电磁信号得到待检测材料的屏蔽效能，其中，电磁信号包括第一电磁信号和第二电磁信号，第一电磁信号为未设置待检测材料的电磁信号，第二电磁信号为设置待检测材料的电磁信号，能够提升待检测材料的屏蔽效能的检测精度。的检测精度。的检测精度。
【技术实现步骤摘要】
屏蔽效能的测试装置、屏蔽效能的测试方法和存储介质
[0001]本申请涉及电子
，尤其涉及一种屏蔽效能的测试装置、屏蔽效能的测试方法和存储介质。
技术介绍
[0002]随着电子设备的不断发展，电子设备的信号类型越来越复杂，传输速率也越来越高，随之带来的问题是电子设备面临的电磁环境也愈加恶劣。笔记本电脑、移动电话等产品都会因高频电磁波干扰而产生杂讯，影响信号的正常通信。因此，需要对电子设备进行电磁干扰防护，而作为电磁干扰的屏蔽材料的屏蔽效能的检测显得额外重要。
技术实现思路
[0003]本申请实施例提供一种屏蔽效能的测试装置、屏蔽效能的测试方法和存储介质，能够提升待检测材料的屏蔽效能的检测精度。
[0004]第一方面，本申请实施例提供了一种屏蔽效能的测试装置，包括：
[0005]屏蔽盒，所述屏蔽盒用于屏蔽外界电磁场；
[0006]电路板，设置在所述屏蔽盒内，所述电路板设有待检测区域；
[0007]第一天线，设置在所述待检测区域内，所述第一天线与所述电路板电连接，所述第一天线用于发送电磁信号；
[0008]待检测材料，设置在所述待检测区域，且覆盖所述第一天线；以及
[0009]检测装置，所述检测装置与所述电路板电连接，所述检测装置用于接收所述第一天线发送的所述电磁信号，并根据第一电磁信号和第二电磁信号得到所述待检测材料的屏蔽效能，其中，所述电磁信号包括第一电磁信号和第二电磁信号，所述第一电磁信号为未设置所述待检测材料的电磁信号，所述第二电磁信号为设置所述待检测材料的电磁信号。
[0010]第二方面，本申请实施例提供了一种屏蔽效能的测试方法，应用于屏蔽效能的测试装置，所述屏蔽效能的测试装置包括屏蔽盒、电路板、第一天线和待检测材料，所述方法包括：
[0011]获取所述第一天线发送的第一电磁信号和第二电磁信号，其中，所述第一电磁信号为未设置所述待检测材料的电磁信号，所述第二电磁信号为设置所述待检测材料的电磁信号；
[0012]根据所述第一电磁信号和所述第二电磁信号得到所述待检测材料的屏蔽效能。
[0013]第三方面，本申请实施例提供一种计算机可读的存储介质，其上存储有计算机程序，当所述计算机程序在计算机上运行时，使得所述计算机执行如上任一项所述的电子设备的控制方法。
[0014]本申请实施例提供的屏蔽效能的测试装置包括：屏蔽盒，屏蔽盒用于屏蔽外界电磁场；电路板，设置在屏蔽盒内，电路板设有待检测区域；第一天线，设置在待检测区域内，第一天线与电路板电连接，第一天线用于发送电磁信号；待检测材料，设置在待检测区域，
且覆盖第一天线；以及检测装置，检测装置与电路板电连接，检测装置用于接收第一天线发送的电磁信号，并根据第一电磁信号和第二电磁信号得到待检测材料的屏蔽效能，其中，电磁信号包括第一电磁信号和第二电磁信号，第一电磁信号为未设置待检测材料的电磁信号，第二电磁信号为设置待检测材料的电磁信号。本申请能够提升待检测材料的屏蔽效能的检测精度。
附图说明
[0015]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0016]图1是本申请实施例提供的屏蔽效能的测试装置的第一种结构示意图。
[0017]图2是本申请实施例提供的电路板的第一种结构示意图。
[0018]图3是本申请实施例提供的电路板的第二种结构示意图。
[0019]图4是本申请实施例提供的电路板的第三种结构示意图。
[0020]图5是本申请实施例提供的电路板的第四种结构示意图。
[0021]图6是本申请实施例提供的第一天线的第一种结构示意图。
[0022]图7是本申请实施例提供的第一天线的第二种结构示意图。
[0023]图8是本申请实施例提供的屏蔽盒的第一种结构示意图。
[0024]图9是图8所示的屏蔽盒的部分结构示意图。
[0025]图10是图8所示的屏蔽盒的背面示意图。
[0026]图11是本申请实施例提供的屏蔽效能的测试装置的第二种结构示意图。
[0027]图12是本申请实施例提供的屏蔽效能的测试装置的第三种结构示意图。
[0028]图13是本申请实施例提供的屏蔽效能的测试装置的第四种结构示意图。
[0029]图14是本申请实施例提供的第一天线的第三种结构示意图。
[0030]图15是本申请实施例提供的第一天线的第四种结构示意图。
[0031]图16是本申请实施例提供的第一天线的第五种结构示意图。
[0032]图17是本申请实施例提供的屏蔽盒的第二种结构示意图。
[0033]图18是本申请实施例提供的屏蔽盒的第三种结构示意图。
[0034]图19是本申请实施例提供的屏蔽效能的测试装置的第五种结构示意图。
[0035]图20是本申请实施例提供的屏蔽效能的测试装置的第六种结构示意图。
[0036]图21是本申请实施例提供的屏蔽效能的测试方法的流程示意图。
具体实施方式
[0037]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有付出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请的保护范围。
[0038]随着电子设备的不断发展，电子设备的信号类型越来越复杂，传输速率也越来越
高，随之带来的问题是电子设备面临的电磁环境也愈加恶劣。笔记本电脑、移动电话等产品都会因高频电磁波干扰而产生杂讯，影响信号的正常通信。因此，需要对电子设备进行电磁干扰防护，而作为电磁干扰的屏蔽材料的屏蔽效能的检测显得额外重要。
[0039]当前对于电磁干扰的防护措施是对相关区域进行电磁屏蔽。屏蔽就是对两个空间区域之间进行金属的隔离，以控制电场、磁场和电磁波由一个区域对另一个区域的感应和辐射。具体讲，就是用屏蔽体将元件、电路、组合件、电缆或整个系统的干扰源包围起来，防止干扰电磁场向外扩散；用屏蔽体将接收电路、设备或系统包围起来，防止它们受到外界电磁场的影响。常使用的屏蔽体有：金属屏蔽盒、金属屏蔽罩、导电铜箔、EMI导电漆等等。
[0040]现有技术中对于材料的屏蔽效能的测试同层采用同轴法兰法、屏蔽室法和小屏蔽室法等，但是采用同轴法兰法的测试装置、采用屏蔽室法或小屏蔽室法的屏蔽暗室等设备较为昂贵。另外，同轴法兰法和屏蔽室法对于测试频率有限制，屏蔽室法采用的屏蔽暗室体积较大。
[0041]为解决现有技术中存在的问题，本申请实施例提供一种屏蔽效能的测试装置，请参阅图1，图1是本申请实施例提供的屏蔽效能的测试装置的第一种结构示意图。其中，屏蔽效能的测试装置100可以包括屏蔽盒11本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种屏蔽效能的测试装置，其特征在于，包括：屏蔽盒，所述屏蔽盒用于屏蔽外界电磁场；电路板，设置在所述屏蔽盒内，所述电路板设有待检测区域；第一天线，设置在所述待检测区域内，所述第一天线与所述电路板电连接，所述第一天线用于发送电磁信号；待检测材料，设置在所述待检测区域，且覆盖所述第一天线；以及检测装置，所述检测装置与所述电路板电连接，所述检测装置用于接收所述第一天线发送的所述电磁信号，并根据第一电磁信号和第二电磁信号得到所述待检测材料的屏蔽效能，其中，所述电磁信号包括第一电磁信号和第二电磁信号，所述第一电磁信号为未设置所述待检测材料的电磁信号，所述第二电磁信号为设置所述待检测材料的电磁信号。2.根据权利要求1所述的屏蔽效能的测试装置，其特征在于，所述电路板包括层叠设置的第一层、第二层、第三层以及第四层，所述第一层对应所述待检测区域设置有净空区，所述净空区的四周设置有环绕焊盘，所述环绕焊盘接地，所述净空区内设置有第一焊盘和第二焊盘，所述第一焊盘接地。3.根据权利要求2所述的屏蔽效能的测试装置，其特征在于，所述第二层设置有与所述第二焊盘对应的第一过孔，所述第三层设置有带状线和第二过孔，所述带状线的一端通过所述第一过孔与所述第一层的所述第二焊盘电连接。4.根据权利要求2所述的屏蔽效能的测试装置，其特征在于，所述第四层包括与所述第二过孔对应设置的信号馈电焊盘，所述信号馈电焊盘通过所述第二过孔与所述第三层的所述带状线电连接。5.根据权利要求4所述的屏蔽效能的测试装置，其特征在于，所述第一天线设置在所述第一层上，所述第一天线设置有第三焊盘，所述第一天线通过所述第三焊盘与所述电路板电连接。6.根据权利要求5所述的屏蔽效能的测试装置，其特征在于，所述第一天线为偶极天线或单极天线或环形天线。7.根据权利要求5所述的屏蔽效能的测试装置，...
【专利技术属性】
技术研发人员：高振祥，
申请(专利权)人：深圳市锐尔觅移动通信有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。