存储器转接板、存储器测试组件及测试方法技术

本公开是关于一种存储器转接板、存储器测试组件及存储器测试方法，涉及集成电路技术领域。该存储器转接板包括：线路板和设置在线路板上的存储器芯片测试座、电源转换模块和开关单元；其中，存储器芯片测试座用于安装存储器芯片；电源转换模块用于为存储器芯片提供电源；开关单元用于连通存储器芯片和可编程板卡，可编程板卡用于控制存储器芯片执行测试指令。本公开可以依照测试指令对存储器芯片进行测试。测试。测试。

【技术实现步骤摘要】
存储器转接板、存储器测试组件及测试方法


[0001]本公开涉及集成电路
，具体而言，涉及一种存储器转接板、存储器测试组件及存储器测试方法。

技术介绍

[0002]存储器测试模式是在芯片流片完成后访问设计阶段定义好的DFT(Design For Test)寄存器的模式，可以更改存储器芯片内部的部分电源电压、I/O时序等，从而提高存储器芯片调试的效率。
[0003]现有的通过CPU主板进入DRAM(Dynamic Random Access Memory，动态随机存储器)芯片的测试模式中，对于一些测试指令，例如不满足JEDEC(Joint Electron Device Engineering Council，电子器件工程联合委员会)规范的测试指令，CPU主板无法识别并控制完成存储器的测试。
[0004]需要说明的是，在上述
技术介绍
部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

技术实现思路

[0005]本公开的目的在于提供一种存储器转接板、存储器测试本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种存储器转接板，其特征在于，包括：线路板和设置在所述线路板上的存储器芯片测试座、电源转换模块和开关单元；其中，所述存储器芯片测试座用于安装存储器芯片；所述电源转换模块用于为所述存储器芯片提供电源；所述开关单元用于连通所述存储器芯片和可编程板卡，所述可编程板卡用于控制所述存储器芯片执行测试指令。2.根据权利要求1所述的存储器转接板，其特征在于，所述可编程板卡用于，在所述存储器芯片复位后，根据所述测试指令，控制所述开关单元连通所述存储器芯片和所述可编程板卡。3.根据权利要求2所述的存储器转接板，其特征在于，所述可编程板卡用于，将所述测试指令转换为测试信息，并从预设时序图中提取出所述测试信息对应的波形信号，在命令时钟的下降沿将所述波形信号输入至所述存储器芯片；所述存储器芯片用于根据所述波形信号进行测试。4.根据权利要求3所述的存储器转接板，其特征在于，所述测试指令和所述测试信息均与所述命令时钟的下降沿对应。5.根据权利要求3所述的存储器转接板，其特征在于，所述测试信息包括：控制信号、阵列信号和地址信号。6.根据权利要求3所述的存储器转接板，其特征在于，所述可编程板卡包括：可编程芯片和与所述可编程芯片连接的外围电路、接口单元、存储单元及供电单元，所述接口单元与所述开关单元连接。7.根据权利要求6所述的存储器转接板，其特征在于，所述存储单元包括随机存取存储器，所述随机存取存储器用于存储所述预设时序图。8.根据权利要求6所述的存储器转接板，其特征在于，所述外围电路包括：时钟电路，用于为所述可编程板卡提供工作时钟；第一复位电路，用于触发所述可编程芯片逻辑复位。9.根据权利要求1所述的存储器转接板，其特征在于，所述电源转换模块还包括第二复位电路，所述第二复位电路用于为所述存储器芯片提供复位信号。10.根据权利要求9所述的存储器转接板，其特征在于，所述第二复位电路包括串联的电阻和电容。11.根据权利要求9所述的存储器转接板，其特征在于，所述电源转换模块用于，在为所述存储器芯片供电预设时间后，发送所述复位信号以使所述存储器芯片复位。12.根据权利要求1所述的存储器转接板，其特征在于，所述存储器芯片通过线缆与所述开关单元连接。13....

【专利技术属性】
技术研发人员：马茂松，钱进，刘建斌，
申请(专利权)人：长鑫存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：