【技术实现步骤摘要】
一种高铝硅盖板玻璃析晶温度的测试方法
[0001]本专利技术涉及盖板玻璃性能检测领域,具体为一种高铝硅盖板玻璃析晶温度的测试方法。
技术介绍
[0002]玻璃析晶会造成玻璃外观和质量上的缺陷,是影响玻璃生产稳定性及品质的重要因素。随着终端客户对产品的要求越来越高,只有不断提升盖板玻璃性能,才能满足客户需求。
[0003]溢流下拉法生产锂铝硅玻璃时,在溢流砖铂金挡板处具有一定温度梯度(800~1200℃),料方不变,温度合适,时间足够长的情况下,玻璃中的K、Na、B等能够破坏析晶的元素会逐渐挥发掉,剩下Li、Al、Si等易析晶的元素,因此在铂金挡板处易析晶。
[0004]目前产线在解决析晶问题时,只能通过升高温度,将粘到铂金挡板处的晶体熔化掉。料方析晶是制约玻璃量产的重要因素,不仅影响正常生产和玻璃品质,还会造成资源浪费,加大生产难度。因此,在进行料方设计时,就必须综合考虑黏温、析晶、强度性能等,将析晶上限温度控制在合理的范围内,以满足量产要求。
[0005]目前,梯温炉法是测试盖板玻璃析晶温度的常用测 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种高铝硅盖板玻璃析晶温度的测试方法,其特征在于,该测试方法包括以下步骤:将待测试玻璃样品进行预处理;将预处理完成的待测试玻璃样品通过铂金舟放入梯温炉中,保温24h及以上;保温完成之后,将待测试玻璃样品取出冷却;对冷却后的待测试玻璃样品进行观察。2.根据权利要求1所述的一种高铝硅盖板玻璃析晶温度的测试方法,其特征在于,预处理包括熔制处理,所述熔制处理包括:将玻璃样块进行水淬、二次熔制。3.根据权利要求1所述的一种高铝硅盖板玻璃析晶温度的测试方法,其特征在于,通过纯水进行水淬成粒径5mm以下的颗粒,后进行二次熔制,得到待测试玻璃样品。4.根据权利要求1所述的一种高铝硅盖板玻璃析晶温度的测试方法,其特征在于,玻璃样块进行破碎处理制成粒径在1~3mm之间的颗粒。5.根据权利要求1所述的一种高铝硅盖板玻璃析晶温度的测试方法,其特征在于,将熔制处理完成的待测试玻璃样品...
【专利技术属性】
技术研发人员:牛桃霞,樊晶,薛新建,唐冰杰,马育飞,刘映宙,
申请(专利权)人:彩虹集团有限公司,
类型:发明
国别省市:
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