直管缺陷的评价方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种直管缺陷的评价方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取待测直管的相关参数、所述待测直管在载荷工况下的内压载荷及所述待测直管在缺陷处对应的弯矩载荷；根据所述相关参数，确定所述待测直管存在缺陷时在纯内压下的第一塑性极限内压及在纯弯矩下的第一塑性极限弯矩；根据所述内压载荷、所述弯矩载荷、所述第一塑性极限内压及所述第一塑性极限弯矩，确定所述待测直管对应的安全数据；根据所述安全数据，确定所述待测直管的评价结果。该方法能够有效提高评价待测直管是否存在缺陷的准确性。管是否存在缺陷的准确性。管是否存在缺陷的准确性。

【技术实现步骤摘要】
直管缺陷的评价方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及数据处理
，尤其涉及一种直管缺陷的评价方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]在使用管道类生产设备的过程中，该管道类生产设备中的直管可能会产生正常且缓慢的损耗。
[0003]现有技术中，电子设备无法科学且准确地评价上述直管中是否存在缺陷。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供一种直管缺陷的评价方法、装置、电子设备及存储介质，能够有效提高评价待测直管是否存在缺陷的准确性。
[0005]本专利技术提供一种直管缺陷的评价方法，包括：
[0006]获取待测直管的相关参数、该待测直管在载荷工况下的内压载荷及该待测直管在缺陷处对应的弯矩载荷；
[0007]根据该相关参数，确定该待测直管存在缺陷时在纯内压下的第一塑性极限内压及在纯弯矩下的第一塑性极限弯矩；
[0008]根据该内压载荷、该弯矩载荷、该第一塑性极限内压及该第一塑性极限弯矩，确定该待测直管对应的安全数据；
[0009]根据该安全数据，确定该待测直管的评价结果。
[0010]根据本专利技术提供的一种直管缺陷的评价方法，该根据该相关参数，确定该待测直管存在缺陷时在纯内压下的第一塑性极限内压，包括：根据该相关参数，确定该待测直管的第一数据；获取该待测直管不存在缺陷时在该纯内压下的第二塑性极限内压；根据该第一数据及该第二塑性极限内压，确定该待测直管存在该缺陷时在该纯内压下的第一塑性极限内压。
[0011]根据本专利技术提供的一种直管缺陷的评价方法，根据该相关参数，确定该待测直管存在缺陷时在纯弯矩下的第一塑性极限弯矩，包括：根据该相关参数，确定该待测直管的第二数据；获取该待测直管不存在缺陷时在该纯弯矩下的第二塑性极限弯矩；根据该第二数据及该第二塑性极限弯矩，确定该待测直管存在该缺陷时在该纯弯矩下的第一塑性极限弯矩。
[0012]根据本专利技术提供的一种直管缺陷的评价方法，该获取该待测直管不存在缺陷时在该纯内压下的第二塑性极限内压，包括：获取该待测直管的材料性能数据；根据该相关参数及该材料性能数据，确定该待测直管不存在缺陷时在该纯内压下的第二塑性极限内压。
[0013]根据本专利技术提供的一种直管缺陷的评价方法，该根据该内压载荷、该弯矩载荷、该第一塑性极限内压及该第一塑性极限弯矩，确定该待测直管对应的安全数据，包括：根据安全公式，确定该待测直管对应的安全数据；其中，该安全公式为Safe＝(P/PLS)2+(M/MLS)2；
Safe表示该安全数据；P表示该内压载荷；PLS表示该第一塑性极限内压；M表示该弯矩载荷；MLS表示该第一塑性极限弯矩。
[0014]根据本专利技术提供的一种直管缺陷的评价方法，该根据该安全数据，确定该待测直管的评价结果，包括：在该安全数据大于预设安全阈值的情况下，将该待测直管的评价结果确定为不通过；在该安全数据小于等于该预设安全阈值的情况下，将该待测直管的评价结果确定为通过。
[0015]本专利技术还提供一种直管缺陷的评价装置，包括：
[0016]获取模块，用于获取待测直管的相关参数、该待测直管在载荷工况下的内压载荷及该待测直管在缺陷处对应的弯矩载荷；
[0017]处理模块，用于根据该相关参数，确定该待测直管存在缺陷时在纯内压下的第一塑性极限内压及在纯弯矩下的第一塑性极限弯矩；根据该内压载荷、该弯矩载荷、该第一塑性极限内压及该第一塑性极限弯矩，确定该待测直管对应的安全数据；根据该安全数据，确定该待测直管的评价结果。
[0018]本专利技术还提供一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如上述任一种所述直管缺陷的评价方法。
[0019]本专利技术还提供一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现如上述任一种所述直管缺陷的评价方法。
[0020]本专利技术还提供一种计算机程序产品，包括计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述任一种所述直管缺陷的评价方法。
[0021]本专利技术提供的直管缺陷的评价方法、装置、电子设备及存储介质，通过获取待测直管的相关参数、所述待测直管在载荷工况下的内压载荷及所述待测直管在缺陷处对应的弯矩载荷；根据所述相关参数，确定所述待测直管存在缺陷时在纯内压下的第一塑性极限内压及在纯弯矩下的第一塑性极限弯矩；根据所述内压载荷、所述弯矩载荷、所述第一塑性极限内压及所述第一塑性极限弯矩，确定所述待测直管对应的安全数据；根据所述安全数据，确定所述待测直管的评价结果。该方法能够有效提高评价待测直管是否存在缺陷的准确性。
附图说明
[0022]为了更清楚地说明本专利技术或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0023]图1是本专利技术提供的直管缺陷的评价方法的流程示意图；
[0024]图2是本专利技术提供的直管缺陷的评价装置的结构示意图；
[0025]图3是本专利技术提供的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0026]为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术中的附图，对本
专利技术中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0027]需要说明的是，本专利技术实施例涉及的执行主体可以是直管缺陷的评价装置，也可以是电子设备，可选的，该电子设备可以包括：计算机、移动终端及可穿戴设备等。
[0028]下面以电子设备为例对本专利技术实施例进行进一步地说明。
[0029]如图1所示，是本专利技术提供的直管缺陷的评价方法的流程示意图，可以包括：
[0030]101、获取待测直管的相关参数、待测直管在载荷工况下的内压载荷及待测直管在缺陷处对应的弯矩载荷。
[0031]其中，待测直管指的是管道类生产设备中的直管；
[0032]相关参数指的是待测直管可能存在的缺陷数据；
[0033]载荷工况指的是作用于结构上的按指定方式空间分布的力、位移、温度或其它作用等；
[0034]内压载荷可用P表示，单位：MPa；
[0035]弯矩载荷可用M表示，单位：kN。
[0036]可选的，相关参数可以包括：相对轴向长度a、相对环向长度b、相对深度c、轴向半长A、环向半长B、体积缺陷高度C、管道外半径Ro、管道内半径Ri、管道计算厚度T及管道外直径Do等。
[0037]其中，b＝B/(π*Ri)；c＝C/T；
[0038]C＝tmin
‑
trd+(yL1
‑
yL2)*本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种直管缺陷的评价方法，其特征在于，包括：获取待测直管的相关参数、所述待测直管在载荷工况下的内压载荷及所述待测直管在缺陷处对应的弯矩载荷；根据所述相关参数，确定所述待测直管存在缺陷时在纯内压下的第一塑性极限内压及在纯弯矩下的第一塑性极限弯矩；根据所述内压载荷、所述弯矩载荷、所述第一塑性极限内压及所述第一塑性极限弯矩，确定所述待测直管对应的安全数据；根据所述安全数据，确定所述待测直管的评价结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述相关参数，确定所述待测直管存在缺陷时在纯内压下的第一塑性极限内压，包括：根据所述相关参数，确定所述待测直管的第一数据；获取所述待测直管不存在缺陷时在所述纯内压下的第二塑性极限内压；根据所述第一数据及所述第二塑性极限内压，确定所述待测直管存在所述缺陷时在所述纯内压下的第一塑性极限内压。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述相关参数，确定所述待测直管存在缺陷时在纯弯矩下的第一塑性极限弯矩，包括：根据所述相关参数，确定所述待测直管的第二数据；获取所述待测直管不存在缺陷时在所述纯弯矩下的第二塑性极限弯矩；根据所述第二数据及所述第二塑性极限弯矩，确定所述待测直管存在所述缺陷时在所述纯弯矩下的第一塑性极限弯矩。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述获取所述待测直管不存在缺陷时在所述纯内压下的第二塑性极限内压，包括：获取所述待测直管的材料性能数据；根据所述相关参数及所述材料性能数据，确定所述待测直管不存在缺陷时在所述纯内压下的第二塑性极限内压。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述内压载荷、所述弯矩载荷、所述第一塑性极限内压及所述第一塑性极限弯矩，确定所述待测直管对应的安全...

【专利技术属性】
技术研发人员：王长福，谢水庚，梁宏宇，
申请(专利权)人：北京航天云路有限公司，
类型：发明
国别省市：