【技术实现步骤摘要】
产品检测轨迹的优化方法和装置
[0001]本申请属于图像处理
，尤其涉及一种产品检测轨迹的优化方法和装置。
技术介绍
[0002]工业视觉大量应用在电子设备行业的外观检测上，对于电子设备中框的检测，在制造业中逐渐出现机器视觉检测工序，实现对产品表面信息进行检测，在这个环节上，对机器运动的精细程度要求更高。相关技术中，主要通过在现场对产品拍照后进行2D建模来确定检测轨迹，但所确定的结果的精度误差较大。
技术实现思路
[0003]本申请旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本申请提出一种产品检测轨迹的优化方法和装置，可获取较为高精度以及高准确度的检测轨迹数据，补偿效率高且适用范围广。
[0004]第一方面，本申请提供了一种产品检测轨迹的优化方法，该方法包括：
[0005]基于从原始轮廓图像中提取得到的多个第一像素，确定待测产品的原始轨迹数据；
[0006]采集所述原始轨迹数据下所述待测产品的曲线段对应的多个第一轮廓图像；
[0007]基于所述多个第一轮廓图像，修正所
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种产品检测轨迹的优化方法，其特征在于，包括：基于从原始轮廓图像中提取得到的多个第一像素，确定待测产品的原始轨迹数据；采集所述原始轨迹数据下所述待测产品的曲线段对应的多个第一轮廓图像；基于所述多个第一轮廓图像，修正所述原始轨迹数据。2.根据权利要求1所述的产品检测轨迹的优化方法，其特征在于，所述基于所述多个第一轮廓图像，修正所述原始轨迹数，包括：对所述多个第一轮廓图像进行图像处理，获取所述第一轮廓图像中目标点对应的坐标值以及所述目标点对应的角度偏差，所述角度偏差为所述目标点的切线与水平方向的角度；基于所述角度偏差，修正所述原始轨迹数据。3.根据权利要求2所述的产品检测轨迹的优化方法，其特征在于，所述基于所述角度偏差，修正所述原始轨迹数据，包括：基于所述角度偏差绕旋转中心旋转所述目标点，获取第一修正点以及所述第一修正点的坐标值；基于所述第一修正点的坐标值，确定所述第一修正点与理论点的位移偏差；基于所述位移偏差平移所述第一修正点，获取最终修正点；基于所述最终修正点，修正所述原始轨迹数据。4.根据权利要求3所述的产品检测轨迹的优化方法，其特征在于，所述基于所述角度偏差绕旋转中心旋转所述目标点，获取第一修正点以及所述第一修正点的坐标值，包括：基于所述目标点的坐标值和所述旋转中心的坐标值，确定所述目标点与所述旋转中心之间的第一距离和第一弧度；基于所述角度偏差，确定第二弧度；基于所述第一弧度和所述第二弧度，确定所述第一修正点与所述旋转中心之间的目标弧度；基于所述目标弧度、所述第一距离和所述旋转中心的坐标值，确定所述第一修正点的坐标值。5.根据权利要求1
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4任一项所述的产...
【专利技术属性】
技术研发人员：王帅，曾毅，冯杰，夏勤，周钟海，赵严，
申请(专利权)人：苏州凌云光工业智能技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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