一种电参数校准方法、双向线性校准方法及校准系统技术方案

本发明专利技术属于电参数校准技术领域，具体涉及一种电参数校准方法、双向线性校准方法及校准系统，包括：采集电参数的数据；对数据进行横向直线校准和纵向直线校准，以完成校准；实现了数据横向和纵向两个方向的校准，无需给每一行数据都进行校准计算，减少传统校准的校准点位，缩短校准时间，提高生产效率。提高生产效率。提高生产效率。

【技术实现步骤摘要】
一种电参数校准方法、双向线性校准方法及校准系统


[0001]本专利技术属于电参数校准
，具体涉及一种电参数校准方法、双向线性校准方法及校准系统。

技术介绍

[0002]传统的校准方法，一般采取两点式直线校准；数据如图1，第一行为设定的电压值，第一列为设定电压的频率，其他数据均为在对应电压和对应频率参数下实际测试得到的电压值，例如130.5这个数据代表的含义是在频率为45Hz的时候，设定电压为150V测试得到的电压值为130.5V；从表中数据可以看出，实际测到的电压值与设定的电压值有一定的出入，我们要求的误差范围1.5％+0.2V，很明显数据需要校准,校准的结果是要将每一行数据都与第一行数据在误差范围内。传统的两点式直线校准需要在每一行数据中进行测量两个点位，将所有数据均进行校准需要测量大量的点位，需要消耗大量的时间，影响效率和产能。
[0003]因此，基于上述技术问题需要设计一种新的电参数校准方法、双向线性校准方法及校准系统。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是提供一种电参数校准方法、双向线性校准方法及校准系统。
[0005]为了解决上述技术问题，本专利技术提供了一种电参数校准方法，包括：
[0006]采集电参数的数据；
[0007]对数据进行横向直线校准和纵向直线校准，以完成校准。
[0008]进一步，所述采集电参数的数据的方法包括：
[0009]根据采集的电参数的数据构建参数列表，其中
[0010]列表的第一行为一电参数Y，其表示为Y1、
…
、Y
n
，并且电参数Y的取值为线性变化，即Y1、
…
、Y
n
为一组线性变化的数据；
[0011]列表的第一列为另一电参数X，其表示为X1、
…
、X
n
，并且另一电参数X的取值为线性变化，即X1、
…
、X
n
为一组线性变化的数据；
[0012]Y
n
在X
n
的条件下的数值为D
nn
。
[0013]进一步，所述对数据进行横向直线校准和纵向直线校准，以完成校准的方法包括：
[0014]横向参数Y，即电参数Y的两点式直线校准；
[0015]根据直线校准公式和参数列表中的参数数据构建电参数Y的两点式直线校准模型：
[0016]y＝K*D+B；
[0017]K＝(Y
n
‑
Y1)/(D
1n
‑
D
11
)；
[0018]B＝Y1‑
(Y
n
‑
Y1)*D
11
/(D
1n
‑
D
11
)，其中
[0019]y为待计算出的结果；
[0020]Y
n
为已经计算出来的结果；
[0021]K为校准直线的斜率；
[0022]D为本次对应y的需要带入的测试数据；
[0023]D
1n
为对应Y
n
已知测试数据；
[0024]B为校准直线的截距。
[0025]进一步，所述对数据进行横向直线校准和纵向直线校准，以完成校准的方法还包括：
[0026]纵向参数X，即另一电参数X的两点式直线校准；
[0027]将另一电参数X扩大10的m次方倍；
[0028]纵向模型为：
[0029]y＝K*(D+X
n
*10
m
)+B；
[0030]K＝(X
n
‑
X1)*10
m
/[D
n1
‑
D
11
+(X
n
‑
X1)*10
m
]；
[0031]B＝{1
‑
(X
n
‑
X1)*10
m
/[D
n1
‑
D
11
+(X
n
‑
X1)*10
m
]}*(D
11
+X1*10
m
)。
[0032]进一步，10
m
越大，最终的结果越接近理想值。
[0033]进一步，所述对数据进行横向直线校准和纵向直线校准，以完成校准的方法还包括：
[0034]将y＝K*(D+X
n
*10
m
)+B中y值对10
m
进行取余，以获取Y
’
；
[0035]再将Y
’
带入y＝K*D+B的D中，得到y即为最终校准的计算结果。
[0036]第二方面，本专利技术还提供一种双向线性校准方法，包括：
[0037]采集数据；
[0038]对数据进行横向直线校准和纵向直线校准，以完成校准。
[0039]进一步，上述电参数校准方法适于采用双向线性校准方法进行校准。
[0040]进一步，所述采集数据的方法包括：
[0041]根据采集的数据构建参数列表，其中
[0042]列表的第一行为参数Y，其表示为Y1、
…
、Y
n
，并且参数Y为线性变化，即Y1、
…
、Y
n
为一组线性变化的数据；
[0043]列表的第一列为参数X，其表示为X1、
…
、X
n
，并且参数X为线性变化，即X1、
…
、X
n
为一组线性变化的数据；
[0044]Y
n
在X
n
的条件下的数值为D
nn
。
[0045]第三方面，本专利技术还提供一种采用上述电参数校准方法的校准系统，包括：
[0046]采集模块，采集电参数的数据；
[0047]校准模块，对数据进行横向直线校准和纵向直线校准，以完成校准。
[0048]本专利技术的有益效果是，本专利技术通过采集电参数的数据；对数据进行横向直线校准和纵向直线校准，以完成校准；实现了数据横向和纵向两个方向的校准，无需给每一行数据都进行校准计算，减少传统校准的校准点位，缩短校准时间，提高生产效率。
[0049]本专利技术的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术而了解。本专利技术的目的和其他优点在说明书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
[0050]为使本专利技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。
附图说明
[0051]为了更清楚地说明本专利技术具体实施方式或现有技术中的技本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电参数校准方法，其特征在于，包括：采集电参数的数据；对数据进行横向直线校准和纵向直线校准，以完成校准。2.如权利要求1所述的电参数校准方法，其特征在于，所述采集电参数的数据的方法包括：根据采集的电参数的数据构建参数列表，其中列表的第一行为一电参数Y，其表示为Y1、
…
、Y
n
，并且电参数Y的取值为线性变化，即Y1、
…
、Y
n
为一组线性变化的数据；列表的第一列为另一电参数X，其表示为X1、
…
、X
n
，并且另一电参数X的取值为线性变化，即X1、
…
、X
n
为一组线性变化的数据；Y
n
在X
n
的条件下的数值为D
nn
。3.如权利要求2所述的电参数校准方法，其特征在于，所述对数据进行横向直线校准和纵向直线校准，以完成校准的方法包括：横向参数Y，即电参数Y的两点式直线校准；根据直线校准公式和参数列表中的参数数据构建电参数Y的两点式直线校准模型：y=K*D+B；K=(Y
n
‑
Y1)/(D
1n
‑
D
11
)；B=Y1‑
(Y
n
‑
Y1)*D
11
/(D
1n
‑
D
11
) ，其中y为待计算出的结果；Y
n
为已经计算出来的结果；K为校准直线的斜率；D为本次对应y的需要带入的测试数据；D
1n
为对应Y
n
已知测试数据；B为校准直线的截距。4.如权利要求3所述的电参数校准方法，其特征在于，所述对数据进行横向直线校准和纵向直线校准，以完成校准的方法还包括：纵向参数X，即另一电参数X的两点式直线校准；将另一电参数X扩大10的m次方倍；纵向模型为：y=K*(D+X
n
*10
m
)+B；K=( X
n
ꢀ‑
X1) *10
m / [ D
n1
‑ꢀ
D
...

【专利技术属性】
技术研发人员：申宁夏，刘亚国，王波，冯斌，
申请(专利权)人：常州同惠电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：