【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于关联用于原位放射学表征样本的
α
和
γ
光谱测定法测量值的系统
[0001]本专利技术涉及用于表征核废料的核仪器化和测量领域。
技术介绍
[0002]通常，通过不同的非破坏性(不破坏样本)和被动(检测由样本自然发射的辐射)方法对核废料进行表征。这在γ光谱测定法和被动中子计数技术的情况下尤其如此。
[0003]γ光谱测定法允许获得关于γ辐射的放射性核素的定性和定量信息。然而，由于其他放射性核素(尤其是裂变产物)对关注的低强度峰值(通常在低能量下)的干扰，γ光谱测定法并不适合于识别和定量α发射器。此外，γ光谱测定法测量，特别是低能量辐射的γ光谱测定法测量，对于高密度废料基质是敏感的。
[0004]被动中子计数技术(无论是通过总体计数还是通过巧合计数)不允许获得关于中子发射的放射性核素的信息。举例来说，在巧合计数的情况下，常见的是宣布
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Pu的当量质量来宣布易裂变材料的质量。尽管如此，这种类型的测量在强中子发射器的存在下通过自发裂变，比如
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种用于根据对准轴线(14)对准α检测器(3)、样本(6)和γ检测器(4)的对准设备(5)，所述样本用以布置在两个检测器之间，所述设备包括：
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安装基座(15)，具有上表面和下表面，并且所述安装基座(15)的由所述上表面和所述下表面限定并包括所述对准轴线的至少一部分(16)由能够使γ辐射通过的材料制成；
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第一支承装置和第二支承装置，每个支承装置安装在所述安装基座(15)的所述上表面上方，其中：
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所述第一支承装置(17)包括具有至少一个开口(19)的主体(18)，每个开口根据与所述对准轴线平行并可能与所述对准轴线同轴的方向而彻底开放，并且每个开口设置有构造成在所述对准轴线(14)上支承所述样本(6)的轴向邻接部(20)；
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用以支承所述α检测器(3)的所述第二支承装置(21)包括相对于所述安装基座(15)固定的第一元件(22)和安装在所述第一元件(22)上的能够相对于所述安装基座(15)竖直移动的第二元件(23)；
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止动元件(24)，形成横向邻接部，所述γ检测器(4)用以抵靠所述横向邻接部放置，以便在所述对准轴线上，所述止动元件安装在所述安装基座(15)的所述下表面上。2.根据权利要求1所述的设备，其中所述止动元件(24)是根据所述对准轴线的方向纵向延伸的主体，并且根据横截面，该主体具有半月形形状，其焦点与所述对准轴线同轴。3.根据权利要求2所述的设备，其中所述止动元件(24)的该主体包括至少一个凹口(25)，所述至少一个凹口(25)构造成接收形成筛网的托盘(26)并将该托盘(26)保持与所述安装基座(15)的所述下表面平行。4.根据权利要求1至3中任一项所述的设备，其中所述第二支承装置(21)的所述第一元件(22)是框架，并且所述第二支承装置(21)的所述第二元件(23)包括固定安装在所述第一元件(22)上的轴(27)和用于保持所述α检测器的装置(28)，例如夹持环，其安装成在该轴上以竖直平移的方式能移动。5.根据权利要求1至4中任一项所述的设备，其中所述第一支承装置(17)的主体(18)是设置有至少两个开口(19)的托盘，并且所述第一支承装置(17)还包括轴(29)，该轴(29)根据与所述对准轴线(14)平行并相对于所述对准轴线(14)偏移的轴线延伸，该托盘能旋转地安装在该轴上，并且该托盘的每个开口均能够通过该托盘的旋转而与所述对准轴线相对。6.一种用于关联包括放射性核素的相同样本(6)的α光谱测定法测量值和α光谱测定法测量值的系统(1)，所述系统包括：
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γ检测器(4)，能够提供γ光谱测定法测量值；
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α检测器(3)，能够提供α光谱测定法测量值并配备有准直栅格；
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用于获取和分析α光谱测定法测量值和γ光谱测定法测量值的装置(7)；其特征在于，所述系统还包括：
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根据权利要求1至5中任一项所述的对准设备(5)，所述对准设备(5)构造成对准所述γ检测器(4)、所述α检测器(3)以及在所述γ检测器(4)与所述α检测器(3)之间的待测量的所述样本(6)；
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手套箱型安全壳(2)，用以包含所述样本(6)和所述α检测器(3)，所述对准设备(5)的所述安装基座(15)形成所述安全壳的下壁的全部或部分。7.根据权利要求6所述的系统，其中所述安全壳(2)包括几个隔室。
8.根据权利要求6或权利要求7所述的系统，还包括准直器(8)，所述准直器(8)用以围绕所述γ检测器(4)定位，所述准直器(8)是管状主体，与所述对...
【专利技术属性】
技术研发人员：J，
申请(专利权)人：法国原子能源和替代能源委员会，
类型：发明
国别省市：
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