【技术实现步骤摘要】
一种便携取样式表面污染测量仪规范测量装置
[0001]本专利技术涉及测量装置领域，具体涉及一种便携取样式表面污染测量仪规范测量装置。
技术介绍
[0002]核电厂或核技术利用单位在进行表面污染测量时，常用便携取样式表面污染测量方式，通过擦拭取样并通过便携式仪表分析，但每次执行擦拭样品测量分析工作时，传统的手持擦拭样品距仪表探头距离与角度存在差异，且每次测量数据受环境本底辐射水平影响，导致测量结果存在偏差，尤其对于数据收集与对比等相关统计与分析工作，不符合单一变量原则，进而造成累计数据不具备参考性与可比性，直接影响分析结果。
技术实现思路
[0003]本专利技术的目的在于：通过本装置弥补传统测量的局限性，将测量仪表探头进行屏蔽，极大程度降低环境本底辐射水平影响，将擦拭样品与测量仪表探头角度与距离进行固定，统一表面污染测量过程中的变量，降低测量误差，可广泛应用于核电厂或核技术利用单位。
[0004]本专利技术的技术方案如下：一种便携取样式表面污染测量仪规范测量装置，包括仪表探头屏蔽部分与样品盛载部分；
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种便携取样式表面污染测量仪规范测量装置，其特征在于：包括仪表探头屏蔽部分与样品盛载部分；仪表探头屏蔽部分包括：便携式表面污染测量仪表探头(1)；抗干扰屏蔽体(2)；仪表探头挡块(3)；抗干扰屏蔽体(2)中心设有通孔，通孔底端设有仪表探头挡块(3)，便携式表面污染测量仪表探头(1)插入抗干扰屏蔽体(2)中；样品盛载部分包括：擦拭取样样品(4)；叉型支架(5)；待测样品盛载盘(6)；叉型支架伸缩柄(7)；压紧弹簧(8)；待测样品盛载盘手柄(9)；叉型支架伸缩柄导向槽(10)；叉型支架驱动连杆(11)；废弃样品收集盒手柄(12)；废弃样品收集盒(13)；待测样品盛载盘(6)内插于抗干扰屏蔽体(2)下方，待测样品盛载盘(6)两端有待测样品盛载盘手柄(9)，待测样品盛载盘手柄(9)内设有叉型支架伸缩柄导向槽(10)，使叉型支架伸缩柄(7)沿叉型支架伸缩柄导向槽(10)定向移动，在待测样品盛载盘手柄(9)内侧设有压紧弹簧(8)，压紧弹簧(8)一端与叉型支架伸缩柄(7)相连，叉型支架伸缩柄(7)通过内嵌的叉型支架驱动连杆(11)与叉型支架(5)相连，待测样品盛载盘(6)十字中心设有通孔，使擦拭取样样品(4...
【专利技术属性】
技术研发人员：徐卓群，陈凯，江致远，晏雨实，崔凌飞，李刚，秦国强，金卫阳，
申请(专利权)人：福建福清核电有限公司，
类型：发明
国别省市：
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