一种X-射线荧光光谱法测定固废样品中全铁含量的方法技术

本申请涉及固体二次资源样品检测技术领域，尤其涉及一种X

【技术实现步骤摘要】
一种X
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射线荧光光谱法测定固废样品中全铁含量的方法


[0001]本申请涉及固体二次资源样品检测
，尤其涉及一种X
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射线荧光光谱法测定固废样品中全铁含量的方法。

技术介绍

[0002]为了推进固体二次资源综合利用增效，开展回转窑窑渣生产工艺研究，急需完成对固体二次资源样品的检测。目前采用酸溶
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三氯化钛还原
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重铬酸钾滴定法测定全铁含量，直接排放污染环境，回收处置成本高。固体二次资源样品铁含量相对较高，荧光强度过高导致计数器漏记特征谱线X
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射线光电子，造成铁元素荧光计数率波动大，分析结果准确度较差。

技术实现思路

[0003]本申请提供了一种X
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射线荧光光谱法测定固废样品中全铁含量的方法，以解决现有X
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射线荧光光谱法测定固废样品中全铁含量分析结果准确度较差的技术问题。
[0004]第一方面，本申请提供了一种X
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射线荧光光谱法测定固废样品中全铁含量的方法，所述方法包本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种X
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射线荧光光谱法测定固废样品中全铁含量的方法，其特征在于，所述方法包括步骤：将钴粉和助熔剂与固废样品进行混合以制备熔片样品；其中，控制所述钴粉的配制比例为设定比例；通过X
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射线荧光光谱法对所述熔片样品建立X
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射线荧光光谱仪标准曲线；根据所述X
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射线荧光光谱仪标准曲线测定所述固废样品中全铁含量。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述钴粉的成分包括：四硼酸锂、偏硼酸锂以及三氧化二钴；其中，所述四硼酸锂和所述偏硼酸锂的总重量M1与所述三氧化二钴M2满足关系：M1：M2＝10：1。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述助熔剂的化学成分包括：四硼酸锂以及偏硼酸锂；所述四硼酸锂与所述偏硼酸锂的重量比为67:33、或1:1、或1:0。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述助熔剂的重量为7g，所述钴粉的重量为0.5g。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述固废样品包括如下至少一种：炼铁干法灰、瓦斯灰、混匀料、OG细泥、细灰、无水沉淀泥、管道...

【专利技术属性】
技术研发人员：闫丽，刘桂珍，张立净，张斌，陈学力，王金双，孙卓玲，
申请(专利权)人：北京首钢股份有限公司，
类型：发明
国别省市：