【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及诊断成像技术。具体来说,本专利技术涉及使用能够快速采集立体成像数据的二维检测器阵列的计算机断层成像,并且将对本专利技术进行具体描述。但是,本专利技术还用于各种使用X射线、可见光或其他类型辐射的成像应用的其它类型的辐射检测器中。本专利技术还用于放射应用等的非成像辐射检测器中。
技术介绍
计算机断层(CT)成像一般使用生成穿过检查区域的扇形或锥形X射线束的X射线源。位于检查区域中的患者影响并且吸收一部分穿过的X射线。将包括在浇铸框架部件中的二维检测器阵列的CT数据测量系统(DMS)布置在X射线源的对面,以检测并且测量发射的X射线的强度。一般情况下,将X射线源和DMS安装在旋转台架的对面,使该台架旋转从而得到一定角度范围的患者投影图像。在进行螺旋CT成像的过程中,使病人沿着与台架的旋转平面垂直的方向直线前进通过检查区域,从而实现X射线源相对于患者进行螺旋运动。利用过滤背投射或其它重构方法对在螺旋运动期间得到的X射线吸收数据进行重构,以生成患者的或患者的经过选择的部分的三维图像表示。DMS的二维检测器阵列一般包括闪烁器晶体或闪烁器阵列,闪烁器晶体或闪烁器 ...
【技术保护点】
一种数据测量系统(30),用于计算机断层扫描器,该数据测量系统(30)包括:多个检测器子阵列模块(32),每个模块接收辐射并且生成对应的检测器信号;管线卡(60),与所述检测器子阵列模块(32)通信,以接收所述检测器信号;以 及处理器(64),与所述管线卡(60)通信,以接收来自所述管线卡(60)的所述检测器信号,所述处理器(64)构成了根据所述检测器信号的数据测量系统的输出。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员:MA查波,RP卢塔,WC布伦内特,
申请(专利权)人:皇家飞利浦电子股份有限公司,
类型:发明
国别省市:NL[荷兰]
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。