一种半导体芯片测试座辅助清洁治具制造技术

本发明专利技术涉及测试座清洁技术领域，具体为一种半导体芯片测试座辅助清洁治具，包括基板和下压块，所述下压块与基板的表面固定连接，所述基板的下表面固定连接有模块，所述下压块的数量为两个，两个所述下压块间呈镜像设置，所述模块的数量为两个，两个所述模块间呈镜像设置，所述模块的内壁开设有清洁孔，所述清洁孔的横截面呈矩形。本发明专利技术，简化测试座的清理难度，确保测试座的稳定使用，降低测试过程中出现故障的情况，便于清洁治具的普及使用，同时本方案成对清理，降低对另一个测试座的影响，确保测试座的正常使用。确保测试座的正常使用。确保测试座的正常使用。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体芯片测试座辅助清洁治具


[0001]本专利技术涉及测试座清洁
，尤其涉及一种半导体芯片测试座辅助清洁治具。

技术介绍

[0002]随着现代电子产品的飞速发展，电子芯片作为其重要的组成核心，在生产与加工的过程中，对质量的检测管控越发的严格，在半导体芯片大规模研发及生产过程中均需要各类性能检测，芯片测试座在封测环节起到关键性作用，测试座功能是将芯片定位后通过线路板之间电子信号电流传输从而达到检验测试效果，因此对测试座进行辅助清洁尤为重要。
[0003]现有技术诸如公开号为CN102253511B的专利技术，该专利公开了一种面板测试治具，包括：底座、承载于底座上的背光模块、两导引构件、枢接至底座的上盖、两拉杆及清洁杆。导引构件分别平行地设置于底座上，且背光模块位于导引构件之间。每一拉杆具有第一端以及第二端。第一端枢接至上盖。第二端可滑动地连接至对应的导引构件。清洁杆连接于第二端之间，并接触背光模块的上表面。在上盖相对底座开启或闭合期间，每一拉杆受上盖带动而同时相对上盖与底座转动，致使第二端相对对应的导引构件滑动，并带动清洁杆往本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体芯片测试座辅助清洁治具，包括基板(7)和下压块(1)，其特征在于：所述下压块(1)与基板(7)的表面固定连接，所述基板(7)的下表面固定连接有模块(3)。2.根据权利要求1所述的一种半导体芯片测试座辅助清洁治具，其特征在于：所述下压块(1)的数量为两个，两个所述下压块(1)间呈镜像设置。3.根据权利要求1所述的一种半导体芯片测试座辅助清洁治具，其特征在于：所述模块(3)的数量为两个，两个所述模块(3)间呈镜像设置。4.根据权利要求1所述的一种半导体芯片测试座辅助清洁治具，其特征在于：所述模块(3)的内壁开...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑泽彬，
申请(专利权)人：沛顿科技深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：